全文获取类型
收费全文 | 3046篇 |
免费 | 541篇 |
国内免费 | 321篇 |
专业分类
化学 | 2205篇 |
晶体学 | 37篇 |
力学 | 190篇 |
综合类 | 18篇 |
数学 | 299篇 |
物理学 | 1159篇 |
出版年
2024年 | 12篇 |
2023年 | 93篇 |
2022年 | 106篇 |
2021年 | 147篇 |
2020年 | 164篇 |
2019年 | 143篇 |
2018年 | 140篇 |
2017年 | 89篇 |
2016年 | 184篇 |
2015年 | 148篇 |
2014年 | 191篇 |
2013年 | 203篇 |
2012年 | 288篇 |
2011年 | 316篇 |
2010年 | 185篇 |
2009年 | 216篇 |
2008年 | 206篇 |
2007年 | 158篇 |
2006年 | 143篇 |
2005年 | 115篇 |
2004年 | 92篇 |
2003年 | 74篇 |
2002年 | 70篇 |
2001年 | 56篇 |
2000年 | 50篇 |
1999年 | 54篇 |
1998年 | 41篇 |
1997年 | 32篇 |
1996年 | 49篇 |
1995年 | 23篇 |
1994年 | 30篇 |
1993年 | 15篇 |
1992年 | 15篇 |
1991年 | 15篇 |
1990年 | 11篇 |
1989年 | 10篇 |
1988年 | 8篇 |
1987年 | 3篇 |
1986年 | 4篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 1篇 |
1983年 | 2篇 |
1982年 | 1篇 |
1974年 | 1篇 |
1957年 | 3篇 |
排序方式: 共有3908条查询结果,搜索用时 15 毫秒
61.
Chen Chao-Yue Qiao Yu Zhang Lei Wang Xin Yang Ting-Hai 《Research on Chemical Intermediates》2020,46(9):4079-4089
Research on Chemical Intermediates - When synthesizing cyclohexane-annulated pyrazolones from a cyclohexonedicarboxylate derivative with phenylhydrazine under the catalysis of sulfuric acid in the... 相似文献
62.
Qian Yi Qiao Peng Li Long Han Haoyue Zhao Rongmin Zhang Haiming 《Journal of Thermal Analysis and Calorimetry》2020,142(1):425-435
Journal of Thermal Analysis and Calorimetry - In this article, a pillared layered antimony hydroxide (Sb-LH) material has been prepared by the hydrothermal method. X-ray diffraction,... 相似文献
63.
64.
增广Lü系统是仅含有两个控制参数的三维混沌系统,可产生一个伪四翼吸引子.利用混沌反控制方法,通过在增广Lü系统中引入一个简单的线性状态控制器,提出了一个新三维混沌系统——广义增广Lü系统.新系统实现了一个真正的具有复合结构的四翼吸引子,它包含了两个镜像对称的子系统.理论分析、数值仿真和电路实验证明了广义增广Lü系统四翼吸引子的存在性,也阐述了广义增广Lü系统有着较增广Lü系统更加丰富的动力学特性.
关键词:
广义增广Lü系统
四翼吸引子
数值仿真
电路实验 相似文献
65.
利用Nd: YAG脉冲激光在空气中烧蚀金属Cu靶,获得等离子体光谱;采用改变离焦量的方法,研究了离焦量的变化对谱线结构及谱线强度的影响;分析了离焦量分别为1mm、0mm和-2mm时,沿靶面法线方向不同空间距离处电子温度的演化规律;并对等离子体光谱的特性和产生机制进行了讨论. 结果表明,谱线结构、谱线强度和等离子体的电子温度都与离焦量的变化密切相关,聚焦点在-2mm处CuⅠ谱线相对强度出现峰值,电子温度数值最大;聚焦点在-0.5mm和-1.0mm附近谱线相对强度遽然降低的现象是由于等离子体的屏蔽效应造成的. 相似文献
66.
Formation of the intermediate semiconductor larger for the Ohmic contact to silicon carbide using Germanium implantation 下载免费PDF全文
By formation of an intermediate semiconductor layer (ISL) with a
narrow band gap at the metallic contact/SiC interface, this paper
realises a new method to fabricate the low-resistance Ohmic contacts
for SiC. An array of transfer length method (TLM) test patterns is
formed on N-wells created by P+ ion implantation into
Si-faced p-type 4H-SiC epilayer. The ISL of nickel-metal Ohmic
contacts to n-type 4H-SiC could be formed by using Germanium ion
implantation into SiC. The specific contact resistance ρc as low as 4.23× 10-5~Ωega \cdotcm2 is
achieved after annealing in N2 at 800~°C for 3~min,
which is much lower than that (>900~°C) in the typical SiC
metallisation process. The sheet resistance Rsh of the
implanted layers is 1.5~kΩega /\Box. The technique for
converting photoresist into nanocrystalline graphite is used to
protect the SiC surface in the annealing after Ge+ ion
implantations. 相似文献
67.
The resistance of a ceramic matrix composite to the cleavage cracking across a field of strongly bonded, uniformly distributed metal particles is studied. The crack trapping and bridging effects of the metal particles are analyzed by means of calculating the strain energy and the traction work. An explicit expression for the critical energy release rate as a function of particle volume fraction has been obtained. The fracture resistance is independent of elastic properties of the matrix and the sample geometry and is predominantly determined by the size/spacing ratio of the particles. It is shown that the theoretical curves agree with experimental data quite well. The methodology developed in this article can be used in studying the fracture resistances of composites with high filler contents and irregular filler geometries.__________Russian translation published in Mekhanika Kompozitnykh Materialov, Vol. 41, No. 3, pp. 303–318, May–June, 2005. 相似文献
68.
69.
针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。 相似文献
70.
二元光学元件衍射效率的逐层分析法研究 总被引:5,自引:0,他引:5
提出了一种有效的分析二元光学元件衍射效率的新方法-逐层分析法,并对四台阶二元器件,就蚀刻深度误差和横向对准误差对器件衍射效率的影响进行了详细的分析和讨论,证明了用该方法分析含有横向对准误差的二元光学元件的衍射效率非常简便有效。 相似文献