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991.
对以本征Si及重掺杂p型和n型Si作为中间层的Fe/Si多层膜的层间耦合进行研究,并通过退火,增大Fe,Si之间的扩散,分析界面扩散对层间耦合的影响. 实验结果表明,层状结构良好的制备态的多层膜,Fe,Si之间也存在一定程度的扩散,它是影响层间耦合的 主要因素,远远超过了半导体意义上的重掺杂,使不同种类的Si作为中间层的层间耦合基本 一致.进一步还发现,在一定范围内增大Fe,Si之间的扩散,即使多层膜的层状结构已经有了相当的退化,Fe/Si多层膜的反铁磁耦合强度基本保持不变.
关键词:
Fe/Si多层膜
层间耦合
界面扩散 相似文献
992.
通过对氦原子和类氦离子电离能数据的分析 ,找到了一个能够快速计算类氦体系基态能量的经验公式 ,验算了一些类氦离子 (Z=2— 1 5 )的基态能量 ,与实验测量值符合得很好。除了 Li 和 Be 的基态能量的相对偏差为 0 .4 46 %外 ,其他的都低于 0 .4 %。 相似文献
993.
Chongjun Zhao Quanzhong Zhao Qitao Zhao Jianrong Qiu Congshan Zhu 《Applied Surface Science》2006,252(20):7415-7421
Au nanoparticles, which were photoreduced by a Nd:YAG laser in HAuCl4 solution containing TiO2 colloid and accompanied by the TiO2 particles, were deposited on the substrate surface. The film consisting of Au/TiO2 particles was characterized by the absorption spectra, scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction (XRD) analysis. The adhesion between the film and substrate was evaluated by using adhesive tape test. It was found that the presence of TiO2 dramatically enhanced the adhesion strength between the film and the substrate, as well as the deposition rate of film. The mechanism for the deposition of Au/TiO2 film was also discussed. 相似文献
994.
Cluster ions have been recognized as a superb primary species in time of flight secondary ion mass spectroscopy (ToF-SIMS) compared with monatomic primary ions, as they significantly enhance the secondary ion yields from bulk samples. Self-assembled monolayers provide an important system for studying the fundamental mechanism involved in the yield enhancement.We used a gold cluster ion source to analyze a new type of self-assembled monolayer: a fluorocarbon-grafted polyethylene terephthalate. In addition to the structure details, which helped to understand the grafting mechanism, ToF-SIMS analysis revealed that fluorocarbon secondary ion yield enhancements by cluster ions were due to the enhanced sputter efficiency. A larger information depth may also be expected from the enhancement. Both mathematical definitions of damage cross-section and disappearance cross-section were revisited under a new context. Another cross-section parameter, sputter cross-section, was introduced to differentiate the beam induced sputter process from damage process. 相似文献
995.
Aubert B Bona M Boutigny D Couderc F Karyotakis Y Lees JP Poireau V Tisserand V Zghiche A Grauges E Palano A Chen JC Qi ND Rong G Wang P Zhu YS Eigen G Ofte I Stugu B Abrams GS Battaglia M Brown DN Button-Shafer J Cahn RN Charles E Gill MS Groysman Y Jacobsen RG Kadyk JA Kerth LT Kolomensky YG Kukartsev G Lynch G Mir LM Orimoto TJ Pripstein M Roe NA Ronan MT Wenzel WA del Amo Sanchez P Barrett M Ford KE Hart AJ Harrison TJ Hawkes CM Watson AT Held T Koch H Lewandowski B Pelizaeus M Peters K 《Physical review letters》2006,97(23):232001
We report the first observation of an excited singly charmed baryon Omega c* (css) in the radiative decay Omega c0gamma, where the Omega c0 baryon is reconstructed in the decays to the final states Omega(-)pi+, Omega(-)pi+pi0, Omega(-)pi+pi(-)pi+, and Xi(-)K(-)pi+pi+. This analysis is performed using a data set of 230.7 fb(-1) collected by the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at the Stanford Linear Accelerator Center. The mass difference between the Omega c* and the Omega c0 baryons is measured to be 70.8+/-1.0(stat)+/-1.1(syst) MeV/c2. We also measure the ratio of inclusive production cross sections of Omega c* and Omega c0 in e+e(-) annihilation. 相似文献
996.
对大气颗粒物进行单颗粒X射线荧光(XRF)分析,是一种识别大气颗粒物来源的有力手段.为了利用实验室X射线光源对大气颗粒物进行单颗粒XRF分析,建立了基于整体毛细管X光透镜和实验室X射线光源的微束X射线谱仪.透镜焦斑处的功率密度增益在103数量级,焦斑直径为30 μm左右.该微束X射线谱仪对Fe-Kα线的最小探测极限为0.7 Pg.在Mo靶光源电压和电流分别为30 kV和50 mA的条件下,利用该谱仪对直径为9 μm的大气颗粒物单颗粒进行XRF分析时,测谱时间在180 s左右.实验表明,基于毛细管X光透镜和实验室X射线光源的微束X射线分析技术在大气颗粒物单颗粒分析中有着潜在的应用价值. 相似文献
997.
提出了一种基于X射线衍射增强成像(DEI)断层计算机X射线层析术(CT)图像的物体尺寸精确测量方法.X射线衍射增强成像是一种基于相位衬度的成像技术.通过建立DEI的简化模型,研究衍射成像过程中品体转角、投影图像谷点位置、成像系统等效模糊等因素之间关系,由此具体探讨了系统模糊效应对圆物体边界成像带来的位置偏移,并以圆形被测样品为例.提出可精确测定直径的简单有效算法.通过理论仿真模型数据和北京同步辐射装置上的实测数据验证了该算法的精度.该方法实现了利用DEI图像对被测物体几何尺寸的精确测量,可用于对牛物组织样品等物体内部微小结构的尺寸的精确测量. 相似文献
998.
用射频控共溅射方法在不同温度的单晶硅基片上生长薄膜,然后在800℃真空环境下对薄膜进行退火处理,成功获得了结晶状态良好的Zn2GeO4多晶薄膜.利用X射线衍射(XRD),X射线光电子能谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)对薄膜进行了结构、成分和形貌分析,研究了基片温度对三者的影响.结果显示,当基片温度升高到400℃以上时,薄膜中的Zn2GeO4晶粒在(220)方向上显示出了明显的择优取向.当基片温度在500-600℃范围内,有利于GeO2结晶相的形成.XPS显示薄膜中存在着Zn2GeO4,GeO2,GeO,ZnO四种化合态.同时,随着基片温度的升高,晶粒尺寸增大且薄膜表面趋于平整.薄膜的光致发光在绿光带存在中心波长为530和550 nm两个峰,应该归因于主体材料Zn2GeO4中两个不同的Ge2 的发光中心. 相似文献
999.
1000.