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42.
Werner Leißner 《Results in Mathematics》1991,20(1-2):530-537
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44.
45.
A multi-exposure of color fringes method has been developed to improve the capture speed of a conventional color CCD camera. In the method, four groups of projected fringe patterns encoded with different colors and different directions are stored in one CCD frame. Therefore the capture frequency of the conventional CCD can be improved to 200 Hz. It is available to measure the insect wings with low beating frequency, such as dragonfly, moth, or butterfly, whose beating frequency is about 30–40 Hz. We have used the method to measure the beating motion of a moth successfully. 相似文献
46.
单甲基原位改性SiO2疏水减反膜的制备与性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
在碱性条件下通过TEOS和MTES的共水解缩聚反应制备了单甲基原位改性的SiO2溶胶,并使用提拉法在K9玻璃基片上镀制了疏水减反膜。通过透射电镜(TEM)考察了镀膜溶胶的微结构,分别使用红外光谱(FTIR)分析了薄膜的组分,用原子力显微镜(AFM)观察了薄膜的表面形貌和起伏状况,用紫外可见光谱(UV-vis)考察了薄膜的减反射性能,用接触角仪测量了薄膜对水的接触角。并使用“R-on-1”的方式测量了薄膜在Nd:YAG激光(1 064 nm,1 ns)作用下的损伤阈值。结果表明,通过共水解缩聚反应可以把甲基引入镀膜溶胶簇团中,改善了溶胶簇团的网络结构,使薄膜得到相当好的疏水性能和更好的抗激光损伤性能,同时薄膜能保持较好的减反射性能。 相似文献
47.
48.
The orientation-selective growth of LaNiO3 films on Si(100) by pulsed laser deposition using a MgO buffer 总被引:4,自引:0,他引:4
X.Y. Chen K.H. Wong C.L. Mak J.M. Liu X.B. Yin M. Wang Z.G. Liu 《Applied Physics A: Materials Science & Processing》2002,75(4):545-549
Highly (100)-oriented, (110)-oriented and polycrystalline LaNiO3 (LNO) films were successfully prepared on Si(100) using an oriented MgO film as a buffer. It was somewhat surprising to find
that that the orientation relation between the LNO film and the corresponding MgO buffer was: LNO(100)\MgO(110), LNO(110)\MgO(111)
and LNO(polycrystalline)\MgO(100). The crystalline quality of the LNO films was shown to be sensitive to the preparation conditions
of the MgO buffer. The film surface was very smooth, without micrometer-sized droplets being observed. All LNO films were
of metallic conductivity, with a room-temperature resistivities of approximately 250, 280 and 420 μΩ cm for the (110)-oriented,
(100)-oriented and polycrystalline LNO, respectively.
Received: 2 April 2001 / Accepted: 23 October 2001 / Published online: 3 June 2002 相似文献
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50.
Characterizations of Tb:Zn2SiO4 films on silicon wafer prepared by sol-gel dip-coating and solid-phase reaction 下载免费PDF全文
Terbium-doped Zn_2SiO_4 films were successfully prepared on Si wafers by a simple sol-gel dip-coating and solid-phase reaction method of ZnO and SiO_2. X-ray diffraction (XRD) and UV-Vis absorption results revealed that films processed below 850℃ were ZnO in wurzite structure, and films processed above 850℃ were Zn_2SiO_4 in wellimite structure. Photoluminescence measurements of the Tb-doped Zn_2SiO_4 films showed two strong emission bands at 490 and 545nm. The photoluminescence lifetime was 4.6ms. 相似文献