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本文讨论了:(1)用阳极氧化法在硅片表面去层的技术;(2)用四探针测量扩散层面电导的方法;(3)用阳极氧化去层及四探针测量面电导方法求得扩散层精细杂质分布。文中着重讨论了实验技术中的实际问题,如如何在阳极氧化过程中取得精细而均匀的去层(300—1500?);如何控制及测量去层厚度;测量面电导及杂质分布时的误差来源及减小误差的措施。以典型的磷在硅中扩散的杂质分布测量为例:扩散深度为4.9μm,测量间距为400—1600?,面电导测量误差估计小于3%,杂质分布误差估计小于20%。简单地提出了一些测量中尚待进一步解决的问题。 相似文献
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We demonstrate a diode-pumped cw mode-locked Nd:YAG by an acousto-optic mode locker. A mode-locked pulse with duration of 345 ps and output power of 12 W is obtained. The resonator design shows three advantages: a larger mode volume, high stability against thermal lens fluctuations, and excellent beam quality with TE00 mode. Different from previous active mode locking designs, we employ a frequency stabilizer and a phase-lock loop circuit to ensure the mode locking stable operation. 相似文献