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Ohne Zusammenfassung 相似文献
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The change of the optical absorption due to applied electric fields up to 450 V/cm was measured on n-type GaAs having a carrier concentration of 1018 cm?3 at 77 K. The fundamental absorption in degenerate n-type semiconductors is proportional to the number of unoccupied places in the conduction band at an energy, which is determined by the phonon energy and the bandstructure. Hence, the measured change in absorption allows the evaluation of the distribution function. Results are given as a function of the energy above the conduction band edge, which was determined assuming parabolic bands. 相似文献
105.
Karl Heinrich Hofmann 《Mathematische Zeitschrift》1964,84(1):16-37
Ohne Zusammenfassung 相似文献
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108.
W. Fucks W. L. Bohn G. Heinrich P. Platz 《Zeitschrift für Physik A Hadrons and Nuclei》1962,170(4):409-417
Electromagnetically driven shock-waves of about Mach 50 in Helium have been spectroscopically analysed. Shape and relative intensities of the HeII-3203 and HeI-5876 lines and continuum have been measured during the first microsecond following the luminous front. From 0.15 μsec up to 0.85 μsec after luminous onset electron density decreases from 2.5·1017cm?3 to 1017cm?3. The electron temperature drops from 4.5 eV to 4.0 eV. Values as calculated byRankine-Hugoniot coincide with experimental results within 10%. From HeI-5876 and HeI-3889 precursor radiation and no corresponding radiation from HeII-lines it is to be concluded that the signals are due to secondary emission. 相似文献
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Hermann Specker Ewald Jackwerth und Heinrich Hartkamp 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1958,159(3):165-182
Zusammenfassung Wir haben in der vorstehenden Abhandlung zu zeigen versucht, in welcher Weise die Zuverlässigkeit photometrischer Meßeinrichtungen und Meßverfahren zu prüfen ist. Im vorliegenden Fall — beim lichtelektrischen Photometer ELKO II — hat die statistische Prüfung sämtlicher Arbeitsgänge ergeben, daß der Apparatefehler nicht größer ist als der zufällige Fehler bei klassischen chemischen Bestimmungsverfahren. Es ist demnach möglich, mit Hilfe photometrischer Messungen auch bei größeren Substanzmengen zu ebenso genauen und zuverlässigen Resultaten zu gelangen wie mit klassischen Verfahren. Statistisch überprüft und verglichen wurden beim Kupfer die photometrischen Bestimmungen mit Nitrilotriessigsäure und als Kupfersulfat 相似文献
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