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J. C. Moreno J. Nilsen J. A. Koch B. J. MacGowan J. H. Scofield L. B. Da Silva 《Applied physics. B, Lasers and optics》1994,58(1):3-5
Neon-like niobium X-ray lasers have been studied using both slab and thin-foil target geometries. Niobium foils of various lengths were irradiated from both sides with two beams of the frequency-doubled Nova laser system using a line focus. We looked for gain by measuring spectrally integrated line intensities at different plasma lengths. Gain was observed in four neon-like niobium lines corresponding to 3s–3p transitions. The line profile of theJ = 0–1 line ( = 145.9 ) shows splitting due to the hyperfine effect. Improved contrast in the hyperfine structure is observed as the plasma length is increased. Hyperfine splitting may be relevant to other 3s–3p transitions in neon-like niobium as well as other neon-like X-ray laser systems. 相似文献
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T. Missana C. N. Afonso M. F. da Silva 《Applied Physics A: Materials Science & Processing》1994,59(6):653-658
Interdiffusion processes are induced by nanosecond laser pulses from an excimer laser. The Bi-based systems studied are formed by a Bi layer and a Sb or Ge layer. Configurations with Bi at the surface layer or at the innermost layer are both studied. Real-time reflectivity measurements are performed during the irradiation to determine the process kinetics and times and Rutherford backscattering spectrometry is used to obtain the concentration depth profiles. It will be shown that there is an interfacially initiated diffusion process in the Bi-Sb system and that the diffusion coefficients of this system within the liquid phase are in the 10–5–10–6 cm2/s range. The Bi-Ge system shows instead little mixing, the diffusion coefficients of the system within the liquid phase being at least two orders of magnitude lower. The differences observed when Bi is the surface layer or the innermost one are related to the different thermal responses of the system. 相似文献
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Dr. Z. Kotulski Prof. Dr. W. Szczepiński 《Archive of Applied Mechanics (Ingenieur Archiv)》1993,63(1):25-41
Summary When analysing the problem of the positioning accuracy of robot manipulators it is important to know how far random deviations of the hand may be from the desired position if the joint positioning errors possess a normal distribution. Two methods of determining the ellipses and ellipsoids of probability concentration are compared. The first of them is based on the standard procedure of the probability calculus. The second approximate method consists in finding at first the polygon or polyhedron of the positioning accuracy, and then in finding the ellipse or ellipsoid with principal axes and second order moments coinciding with those of the polygon or polyhedron, respectively. Examples of application demonstrate that these two methods give very close results.
Zwei Methoden zur Bestimmung der Ellipsen und Ellipsoide der Positioniergenauigkeit von Handhabungsrobotern
Übersicht Bei der Untersuchung der Positioniergenauigkeit von Handhabungsrobotern ist es wichtig, die Größe zufälliger Abweichungen des Greifers von der erstrebten Position zu kennen, wenn die Lagefehler der Verbindungen eine Normalverteilung besitzen. Es werden zwei Methoden zur Bestimmung der Ellipsen bzw. Ellipsoide der Wahrscheinlichkeitsdichte verglichen. Die erste beruht auf dem Standardverfahren der Wahrscheinlichkeitsrechnung. Die zweite Näherungsmethode besteht darin, daß zunächst das Polygon bzw. Polyeder der Positioniergenauigkeit bestimmt wird und danach die Ellipse bzw. das Ellipsoid mit den Hauptachsen und Momenten zweiter Ordnung wie das Polygon oder Polyeder. Beispiele zeigen, daß beide Methoden zu sehr ähnlichen Ergebnissen führen.相似文献
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