光谱分析中微痕量元素的预富集技术

一、概论近几年来,地质、生物、环保、农业和工业样品中经常要求测定ppm,ppb甚或ppt级的微痕量元素。常用的原子吸收光谱(AAS)、等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱(XRF)等仪器测量技术,虽然有很高的灵敏度,然而要直接用这些仪器来测量这样低的微痕量元素,往往是很困难的,甚至是不可能的。要完成这个任务,必须先进行化学分离和富集,因此化学富集日益引起了人们的重视。     

用X射线荧光光谱仪以比例常数法测定地质样品中稀土元素的研究

本文阐述了用X射线荧光光谱仪,以薄样一比例常数法测定地质样品中稀土元素的原理、方法和应用。用化学富集法降低检出限。试样制于6μMyIar薄膜或滤纸上测量,按下式计算稀土元素的相对含量C_1。其低、测不准的缺陷。     

37届丹佛X射线分析应用会议简介

37届丹佛X射线分析应用会议于1988年8月1-5日在美国科罗拉多州的Steamboat Springs举行。到会正式代表共423人,有52个展览台,展览最新出产的仪器设备。大会主席是丹佛大学的P.K.Predecki教授,会上共宣读论文或报告162篇,全世界许多著名的XRF分析专家、学者、教授出席了这次会议。报告内容按会议程序概括如下: 一.专题研讨报告。共9个题,分两组进行。 1.XRF组:4个题。(1).XRF定量分析,由Lachance给初学者讲理论和实验技术。(2) IUPAC新名词术语     

X－射线荧光分析中的修正比例常数法

本文叙述修正比例常数法的概念、原理、有关数学表达式的推导及计算方法。     

关于地球化学样品中微量元素XRFA的检出限

目前,地球化学样品中微量及痕量元素的XRFA在国内已普遍开展,每年完成几十万件样品,分析项目多达20余项。分析方法不断改进,灵敏度不断提高。但是,各种分析方法对检出限定义很不一致,描述也大不相同,使参考者很难对照和应用。为了便于今后的工作,1986年11月26日在湖南长沙召开的全国光谱学会第二届X射线荧光光谱学术讨论会上,有关方面的同行讨论了地球化学样品中微量及痕量元素XRFA检出限的问题,并作出如下建议; 一、检出限(detection limit);(按《分析化学》1983.9.p718编委会建议)在一定的分     

XRF—薄样—比例常数法分析闪锌矿,黄铜矿单矿物的研究

XRFS法分析闪锌矿、黄铜矿单矿物中的多项元素尚未见报道。根据单矿物分析的特点和XRFS分析的发展趋势,本文用薄样-比例常数法研究了闪锌矿、黄铜矿单矿物中S、Ca、Fe、Cu、Zn、Cd、As、Sn、Mn、Pb等元素的XRFS分析。方法简便、快速,为含硫类单矿物分析开辟了一条新途径。     

化学富集XRFA法测定岩石,土壤稀有和稀土元素

研究了化学富集ＸＲＦＡ法测定岩石、土壤中Ｎｂ，Ｔａ，Ｚｒ，Ｈｆ，Ｔｉ，ＲＥ等微量元素的方法。化学富集采用共沉淀子交换结合。富集后得到的稀有和稀土元素用薄样－Ｘ荧光光谱法测定，制订了一个用明胶做分散剂制薄样的方法。稀圾与稀土元素的检出限达０．０６－０．８μｇ／ｍｌ。精密度与准确度符合地球化学样品分析要求。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石和岩石中的低微量元素时基体成分影响的研究

引言用X射线荧光光谱法测定试样中的主成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低微量元素是很困难的。大多数作者是采用散射内标法或加入内标法来校正基体效应。     

矿石矿物中稀土(钍)元素的X射线荧光光谱测定——比例常数法

根据用一次χ射线光谱分析稀土元素的原理,我们用薄样法以D-S型х射线荧光光谱仪制订了矿石矿物中稀土(钍)元素的测定方法。大家都知道,当试样薄到“临界厚度”以下时,选择吸收和选择激发的影响可以忽略不计,因而被测元素的谱线强度I_i与其含量C_i成比例,I_i=k_iC_i。每个稀土元素都可得到这样一个方程。由于稀土矿物大体可分为铈族、钇族和混合稀土三类,如果铈族稀土选钕作参比,钇族稀