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991.
992.
铜膜和铁膜污染物诱导熔石英表面损伤行为的对比研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用人工溅射的方式分别在熔石英基片上镀制了光学厚度相近的铜膜和铁膜污染物。研究了熔石英基底在355nm波长的激光损伤阈值。分别采用透射式光热透镜技术、椭偏仪、原子力显微镜和光学显微镜研究了两类薄膜的热吸收、膜层厚度、表面微观形貌以及激光辐照后薄膜的损伤形貌。实验结果表明:熔石英表面的金属膜状污染物均导致基片损伤阈值下降,位于前表面的污染物引起的损伤阈值下降更为严重,约为23%。两种污染物薄膜引起基底的损伤形貌、基底损伤阈值的下降幅度与薄膜的热吸收系数与微观结构有关。从热力学响应角度,结合损伤形貌对污染物诱导熔石英表面形貌的损伤机理进行了讨论。 相似文献
993.
采用动态力学热分析(DMTA),示差扫描量热法(DSC),X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)考察了Nd60A110Fe20Co10大块金属玻璃(BMG)的玻璃转变,晶化过程及晶化过程对磁性能的影响规律.结果表明用DMTA方法确定Nd60A110Fe20Co10 BMG在10 K/s的升温速率下玻璃转变温度为480 K,初始晶化温度为588 K.晶化过程为:非晶→非晶+亚稳FeNdAl新相→非晶+初晶δ相→初晶δ相+共晶δ相+Nd3Al+Nd3Co.该体系合金具有硬磁性是由于合金中存在高度弛豫的非晶相,完全晶化后材料的硬磁性消失. 相似文献
994.
气体介质对电弧离子镀沉积类金刚石膜的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
采用电弧离子镀方法,在Si(100)基底上分别在高纯Ar、高纯H2和C2H2的气氛下沉积类金刚石膜,利用激光Raman谱和X射线光电子能谱(XPS)对沉积膜的结构进行了分析.结果表明与在高纯H2和C2H2气氛下相比,在高纯Ar中沉积类金刚石膜Raman谱的ID/IG值最小,膜中sp3C含量最高为35.55;.纳米压痕仪测量结果表明不同气氛下沉积膜的硬度和弹性模量分别在16.7~34.8GPa和143.2~236.9GPa之间变化.在高纯Ar气氛下沉积膜的硬度和弹性模量最大分别为34.8GPa和236.9GPa. 相似文献
995.
996.
β—环糊精衍生物的金属配合物催化RNA的水解 总被引:5,自引:0,他引:5
用 β-环糊精 (β- CD)与马来酸酐合成了双 (6 -氧 -丁烯二酸单脂 ) - β- CD(简称 E1 ) ,用 KI对 E1 进行取代 ,生成了双 (6 -碘 ) - β- CD,其与组氨酸在 Na OH溶液中反应 ,生成双 (6 -氮 -组胺酸 ) - β- CD(简称 E2 ) ,E2 分别与 Mg( )、Zn( )、Fe( )和 Fe( )形成配合物 .研究了这 4种金属配合物对 RNA的水解 ,并与 Na OH水解 RNA进行了比较 ,发现 E2 · Fe( )对 RNA的水解能力可达到 Na OH水解 RNA能力的 96 .9% . 相似文献
997.
偏折术中的几何结构标定误差是制约低阶面形测量精度的主要因素。分析几何结构标定中校直误差与平面镜低阶面形测量误差之间的关系,给出描述校直误差与面形测量误差之间关系的灵敏度方程和权重因子,并通过模拟和实验结果对其进行验证。结果表明,校直误差会在面形测量结果中引入倾斜、离焦、像散和彗差等像差项,且面形测量误差与校直误差成正比。本研究有助于选择合适的偏折术系统结构,以提高低阶面形测量精度,同时可为偏折术测量中面形误差的评估和分析提供理论指导。 相似文献
998.
二维光纤光谱图是天文望远镜系统中的光谱仪的观测结果,由此又经过一系列的后续处理,才能生成普遍意义上的一维光谱。由于光谱仪和CCD相机的光学畸变,使得二维光纤光谱图像普遍出现了弯曲现象,尤其是在光纤两端表现得尤为明显,这个问题一直以来没有很好的解决办法,也没有在任何参考文献中看到相关工作。这种弯曲给后续的抽谱工作造成困扰,处理不好会很大程度上影响波长定标,从而影响一维谱的准确性。给出的一种法向映射法可以对这种二维光纤光谱图的弯曲进行有效的校正。该法把二光纤光谱图中的每一条光纤光谱进行单独处理。首先做预处理抽取每根光纤中心线,然后把该中心线当作光滑曲线求取每个点的法线方向,以整条中心线的某个点(一般是最凸点)为基点作理想竖直线,光纤中心线所有点沿自身法线方向投影到这条竖直线上,从而实现了光纤中心线本身的校直。因光纤宽度在二维光纤光谱图中一般是7个像素,因此将光纤中心线向左向右各依次平移3个像素,分别实现上述流程,即可得到整条光纤光谱的校直结果。该法实施过程中有两个问题需要注意:一个是坐标点的均匀化问题,一个是像素灰度值的精度保持问题。坐标点的均匀化问题是由于在该法中使用了法向映射,从而造成形成后的校直线的点的疏密程度不均匀,这对后续处理不利。解决办法是在实际操作中采用三次样条插值的方法进行直线上点的密度均匀化,保证获得一系列的整数点坐标,以利于后续的处理。而像素灰度值的精度保持问题,在插值计算过程中始终保持像素灰度值的64位高精度数,最终也得到同样精度的结果,避免造成像素值损失。该法实施的最后,还需要进行头尾一致性的截取,把延伸出图像高度范围的像素去掉,仅保留图像范围内的像素点。如果没有这个过程,由于光纤本身是有宽度的,映射出来的直线长短不一,从而给后续处理造成困难。实验完整处理了整幅的二维光纤光谱图,用曲线拟合的方法较好地解决了光纤中心线提取过程中的个别地方的亮度偏差问题,用法向映射法得到了校直后的二维光谱,并做了后续的抽谱对比。在一维谱的抽谱对比中可以看到,校正前后的谱线差值在有弯曲现象存在的光谱两端变化较为明显。这个实验结果证明了该方法对光谱的弯曲情况可以完全改善--在两端的变化较大,在中间的变化很小,这完全符合观测的基本认知。不仅如此,由于像素点的错位和像素值的插值计算,也会造成流量值叠加的效果发生显著变化。因此,通过观察抽谱后的谱线在校正前后的移动情况,验证了对于特征谱线的波长位置的精确获取具有重要影响。本文创造性地设计的二维光纤光谱的自动弯曲校正的方法。 相似文献
999.
反射声波成像测井是适应复杂地区勘探开发的一种测井新技术,能够对井旁几米至几十米内声阻抗不连续的地层界面、裂缝、溶洞、盐丘等不同地质构造进行探测评价。针对井旁存在一个不同尺度大小的溶洞时的偶极反射声波测井响应进行了数值模拟,得到了不同情况下的回波信号,探究了地层横波波长与井旁溶洞尺度之间的关系。研究结果表明,等源距阵列波形中,溶洞的回波波列有特殊的"抛物线"型形态,上提过程中距溶洞最近时,回波到时最早、幅度最大。当井旁溶洞直径逐渐增大时,回波信号幅度越强,反射横波偏移成像的结果越清晰。通过该研究,初步形成了一种反射声波测井评价井旁溶洞的方法。 相似文献
1000.
采用氧化钆纳米粒子(GON),研究钆基纳米粒子对X射线和碳离子束的辐射增敏效应。首先,通过透射电镜观察材料粒径,使用DLS检测材料的水合半径及Zeta电位,并用紫外吸收谱证实GON在培养基中稳定性较好;研究发现钆(Gd)浓度为10.0 μg/mL的GON对30 keV/μm碳离子束辐照水溶液产生的羟自由基的增强系数为1.13;GON对A549肺癌细胞和正常MRC-5肺细胞没有明显的毒性,且在人肺癌A549细胞中的摄取量随共培养浓度的增加而增加,在10.0 μg/mL共培养浓度下,细胞摄入Gd的量为0.73 pg/cell;进一步采用克隆存活实验证明,GON的加入对X射线和碳离子辐照A549细胞所产生的损伤具有明显的增强,在10%的细胞存活水平下,GON对A549细胞在X射线及碳离子辐照下的辐射增敏分别达15.5%和10.1%。鉴于钆材料常被用于磁共振成像(MRI),所获得的GON有望作为X射线和碳离子的诊疗一体化材料。 相似文献