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111.
112.
红外光谱研究PEO基离子液体聚合物电解质 总被引:1,自引:0,他引:1
以聚氧化乙烯(PEO)为聚合物基体, 双三氟甲基磺酸亚酰胺锂(LiTFSI)为锂盐, 加入不同量的离子液体(BMIMPF6)为增塑剂, 制备离子液体聚合物电解质. 运用发射FTIR光谱技术实时监测所制备聚合物电解质的结构随温度的变化. 结合FTIR透射光谱\, SEM和XRD的研究结果分析了离子液体对离子电导率的影响, 并初步提出离子导电增强机制. 相似文献
113.
官能团化己内酯与丙交酯无规共聚物的合成与降解性能 总被引:1,自引:1,他引:0
研究了官能团化新型己内酯单体的合成及其与丙交酯无规共聚物的降解性能. 首先, 环己酮和N-异丙基丙烯酰胺通过Michael加成反应合成了2-(N-异丙基酰胺乙烯基)-环己酮; 然后, 以间氯过氧化苯甲酸为氧化剂, 通过Baeyer-Villiger氧化反应, 制备带有酰胺官能团的己内酯单体6-(N-异丙基酰胺乙烯基)-ε-己内酯; 最后, 在异辛酸亚锡[Sn(Oct)2]的催化下与丙交酯开环聚合, 得到新型己内酯与丙交酯的无规共聚物. 采用1H NMR, SEC和DSC表征了聚合物的结构和热力学性能. 同时通过黏度法、失重法和SEM对该聚合物的降解性能进行了表征. 结果表明, 该共聚物的降解速率明显增快, 材料降解2个月后, 材料的质量损失达到28.1%, 特性黏度降低近40%. 相似文献
114.
Study of total ionizing dose radiation effects on enclosed gate transistors in a commercial CMOS technology
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This paper studies the total ionizing dose radiation effects on MOS
(metal-oxide-semiconductor) transistors with normal and enclosed gate
layout in a standard commercial CMOS (compensate MOS) bulk process.
The leakage current, threshold voltage shift, and transconductance of
the devices were monitored before and after $\gamma $-ray
irradiation. The parameters of the devices with different layout
under different bias condition during irradiation at different total
dose are investigated. The results show that the enclosed layout not
only effectively eliminates the leakage but also improves the
performance of threshold voltage and transconductance for NMOS
(n-type channel MOS) transistors. The experimental results also
indicate that analogue bias during irradiation is the worst case for
enclosed gate NMOS. There is no evident different behaviour observed
between normal PMOS (p-type channel MOS) transistors and enclosed
gate PMOS transistors. 相似文献
115.
α—萘酚胁迫对普通小球藻生长及抗氧化酶活性的影响 总被引:9,自引:0,他引:9
研究了α-萘酚对普通小球藻的生长、光合色素的MDA含量及抗氧化酶9SOD、CAT、POD)活性的影响,结果表明,随着α-萘酚浓度的升高,藻的生长速率、叶绿素a与类胡萝卡素的含量,SOD、CAT、POD活性均先升高后下降,除POD活性在5.00mg.L^-1时达到最大值外,其余均在2.00mg.L^-1达到最大,而在α-萘酚浓度低于2.00mg.L^-1时,MDA含量变化不大,只有当3种抗氧化酶活性呈不同的下降后,MDA含量才急剧上升,膜脂过氧化加剧,说明α-萘酚导致普通小球藻膜脂过氧化是其致毒机制之一,而抗氧化酶在一定污染物浓度范围内具有防御保护作用。 相似文献
116.
117.
利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)法,在Si衬底上外延生长ZnO薄膜。为了改善氧化锌薄膜的质量,首先在Si衬底上生长低温ZnO缓冲层,然后再生长高质量的ZnO薄膜。通过XRD、SEM、光致发光(PL)光谱的实验研究,发现低温ZnO缓冲层可有效降低ZnO薄膜和Si衬底之间的晶格失配以及因热膨胀系数不同引起的晶格畸变。利用低温缓冲层生长的ZnO薄膜的(002)面衍射峰的强度要比直接在Si上生长的ZnO薄膜样品的高,并且衍射峰的半高宽也由0.21°减小到0.18°,同时有低温缓冲层的样品室温下的光致发光峰也有了明显的增高。这说明利用低温缓冲层生长的ZnO薄膜的结晶质量和光学性质都得到了明显改善。 相似文献
118.
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若(X,τ)是 S_1-空间,S_τ是它的半开集族[τ]={σ:σ为 X 的拓扑且 S_σ=S_τ)。本文到如下结果:1)若[τ]有最弱拓扑τ(?),则(X,τ(?))是(X,τ)的半正则化空间。2)[τ]中有最弱拓扑的充要条件是(X,τ)的每个非空开集都包含非空的正则开集。因为 T_1一空间是 S_1空间,伪度量空间是 S_1一空间但未必是 T_1一空间。所以,我们的结果推广了[1]中的定理5、推论5和定理6。 相似文献