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241.
关于不同分布两两NQD列的Jamison型加权乘积和的强稳定性 总被引:5,自引:0,他引:5
本文讨论了不同分布两两NQD列的Jamison型加权乘积和的强稳定性及乘积和的Marcinkiewicz型强大数律,推广并改进了Etemadi[1]关于不同分布两两独立列部分和的工作及Matula[2],王岳宝等[3]关于同分布两两NQD列部分和的工作. 相似文献
242.
设计了大功率固态调制器的新型固态脉冲开关模块。通过分析电力电子仿真软件Saber中绝缘栅双极晶体管(IGBT)物理模型的概念和等效电路,结合实验数据建立了IXDH20N120型IGBT的模型,研究了Saber环境下,不同参数条件和拓扑结构对调制器电路输出特性的影响。仿真结果表明:动态均压网络在有效地保护开关的同时,可以减少IGBT的开关损耗;电路中器件离散性与系统分布参数会造成调制器输出波形质量下降,效率降低。并对调制器在负载打火情况下,因严重不均流而损坏器件故障的机理作了分析,实验证明仿真结果和分析与实际相符。 相似文献
243.
244.
研究了一类分数阶漂移-扩散模型整体解的解析性和衰减率。分数阶漂移-扩散模型是半导体中经典模型Poisson-Nernst-Planck方程组的推广模型,数学形式上表现为分数阶非线性抛物型和二阶椭圆型偏微分方程耦合而成的混合型方程组。利用多线性奇异积分算子理论和Fourier微局部分析,建立了该模型在临界Besov空间中的整体解是Gevrey解析的。作为该结果的直接推论,还得到了此整体解关于时间的衰减率。 相似文献
245.
本研究探讨锥形束CT技术(CBCT)评价过渡性义齿在全口义齿重新修复中的应用价值。选择107例全口义齿重新修复患者,根据修复效果分为修复失败组(n=26)与修复成功组(n=81)。修复前后均接受CBCT检查,对比两组佩戴新旧义齿颞下颌关节前间隙、中间隙、后间隙变化值。结果显示,修复失败组佩戴新旧义齿颞下颌关节前间隙、中间隙、后间隙变化值大于修复成功组(P<0.05);佩戴新旧义齿颞下颌关节前间隙、中间隙、后间隙变化值与颌位关系指数、咀嚼效率、美学评分、舒适度变化值呈负相关(P<0.05);Logistic单因素、多因素回归分析表明,颞下颌关节前间隙、中间隙、后间隙变化值与全口义齿重新修复效果独立相关(P<0.05);颞下颌关节前间隙、中间隙、后间隙变化值联合评估修复效果的AUC为0.905,敏感度为80.77%,特异度为88.89%,明显优于各指标单独评估。CBCT检查指标可有效评估过渡性义齿在全口义齿重新修复中的应用效果,为临床提供可靠的参考依据。 相似文献
246.
将梁中横向裂纹等效为无质量扭转弹簧,并忽略其对梁剪切变形的影响,得到的具有任意裂纹数目Timoshenko 梁自振模态的统一显示解析表达式.将裂纹梁的自振模态分为基本模态和裂纹附加模态,利用最小二乘拟合,建立了利用裂纹附加模态函数的梁裂纹损伤识别方法.通过数值模拟开展了简支单裂纹梁以及悬臂和固支双裂纹梁等的裂纹损伤识别,考察了测量误差对损伤识别的影响,数值结果表明本文所提出的裂纹损伤识别方法对裂纹位置的识别精度高于对裂纹损伤程度的识别精度;随着测量误差的增加,裂纹位置及裂纹损伤程度的识别误差增加,但仍在可接受的范围内,故该裂纹损伤识别方法在实际工程中具有一定的应用价值. 相似文献
247.
248.
在光、热、剪切、酸等条件下 ,聚合物经常发生无规降解 .在有关描述中 ,无规降解过程仅仅被表述为在反应初期聚合物的粘度大幅度下降而单体的含量变化不大 .显然这种描述是粗略的 .由于在确定分子量分布时需要使用昂贵的GPC ,由试验直接考察无规降解成为不太容易进行的研究内容 ,而由模拟 ,则可以很容易的观察到这类反应的变化过程 .关于降解的MonteCarlo模拟 ,有过很多报道[1~ 7] .在这些文章中 ,多是讨论降解过程中 Mn、 Mw 的变化趋势 ,而不涉及具体聚合度的分子数变化情况 .但是在某些情况下 (如多糖的降解 ) ,对具体某聚合度下的… 相似文献
249.
s-BLM修饰电极对组胺电化学传感行为的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了以抗组胺剂修饰的固体支撑双层类脂膜 (s BLM)分子器件体系对组胺的电化学传感行为 .结果表明 ,在s BLM膜中镶嵌抗组胺剂 ,体系对组胺的电化学响应强烈 ,并随着组胺浓度的增加而加大 ,这主要是由于组胺与抗组胺剂的特异性对抗效应引起的 .在接近通常的生理条件下 (pH =7.5 ) ,响应电流与组胺的浓度在 3.0~ 6 0 .0 μg/L呈良好的线性关系 ,相关系数为 0 .9878,表现出较高的灵敏度、选择性及良好的稳定性 .该体系可以在 - 2 0 0mV下用伏安法检测组胺的浓度 ,获得高稳定性和低检出限量的电化学生物传感器 相似文献
250.
A balanced incomplete block design(BIBD)B(κ,λ;ν)is a pair(X,A),whereX is a v-set of elements(called points)and A is a collection of k-subsets of X(called blocks)such that every unordered pair of points of X appears in exactlyλ blocks of A.A B(κ,1;ν)is called a Steiner system and denoted by S(2,κ,ν). A parallel class in a BIBD is a set of blocks that forms a partition of the 相似文献