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本文用X-光光电子谱(XPS)、扫描俄歇显微分析(SAM)、透射电镜(TEM)的电子微衍射(EMD)技术、原子吸收光谱(AAS)等方法考察了新鲜的和经过170多小时使用、活性明显下降的Ag_xSb_yO_z/SiO_2催化剂的化学组成、元素分布及其晶相结构的变化。发现活性明显下降的催化剂和新鲜的相比,催化剂表面发生了更严重的银表面偏析;Ag和Sb由同步分布变成了非同步分布;其活性组分的晶相结构发生了明显变化:由原来的以AgSbO_3和Sb_2O_4为主的晶相变成了以Sb_2O_3和Ag为主的晶相。由模型催化剂知Sb_2O_4/SiO_2为非活性的;因此,该催化剂对异丁烯—甲醛缩合制异戊二烯反应的活性相似乎为AgSbO_3。经过较长时间的、多次反应—再生循环,催化剂的活性组份被部分还原,且不能在现有再生条件下完全复原,逐渐破坏了该活性相,从而逐渐丧失其催化活性。 相似文献
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XPS和TOF—SIMS在硬盘驱动器(HDD)磁头表面微污染分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
XPS和TOF-SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分,找出污染物的来源;XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息,而TOF-SIMS能够提供其分子信息。试验证明两者联用是分析表面有机微污染物强有力的手段。 相似文献
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粉煤灰表面形貌和组成的电子显微镜/能量色散谱、聚焦离子束分析 总被引:11,自引:0,他引:11
用超级场发射电子显微镜(FE—SEM),扫描电子显微镜/能量色散谱(SEM/EDS)和聚焦离子束测试仪(FIB)等,对粉煤灰进行了表面形貌和元素组成分析。FIB显示粉煤灰大多为咖0.3~0.5μm的球状微粒;FE-SEM则显示约有88%的粉煤灰为φ0.3~1μm的球状微粒,表面凹凸不平,主要为铝、硅、铁等元素的氧化物,其中铝、硅、铁和氧的质量分数分别为20.5%、23.6%、1.4%和50.9%。 相似文献