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81.
82.
采用金属有机分解法在p型Si衬底上制备了SiTiO3(STO)薄膜.研究了STO薄膜金属-绝缘体-半导体(MIS)结构的介电和界面特性.结果表明,STO薄膜显示出优异的介电性能,在10kHz处的介电常数约为105,损耗低于0.01,这来源于多晶结构和良好的结晶性;MIS结构中的固定电荷密度Nf和界面态密度Dit分别约为1.5×1012cm-2和(1.4-3.5)×1012 cm-2 eV-1,这主要与Si/STO界面处形成的低介电常数界面层有关. 相似文献
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84.
在物理教学中通过创设恰当的问题情境,诱导学生产生疑问,发现问题并提出问题,可使学生产生强烈的探究的欲望.接下来物理教学就是通过引导学生去探究,经历解决问题的过程,从而使学生理解掌握相关知识,提高学生解决问题的能力,培养学生的创新思维.本文根据笔者多年的教学体会,着重从物理问题的解决过程去讨论学生创新思维的培养. 相似文献
85.
在半离散格式下研究一类带幂次非线性项的Schr(o)dinger方程的非协调矩形EQrot1元方法.直接利用插值技巧和该单元的两个特殊性质(相容误差比插值误差高一阶及其插值算子与传统的Ritz投影是一致的),给出相应的收敛性分析及误差估计. 相似文献
86.
The rare isotope ^236U has a half-life of 2.342(3)×107 years, and is produced principally by thermal neutron capture on ^235U. The isotopic atom ratio of ^236U/^238U depends on the integral thermal neutron flux received by the material of interest. ^236U is potentially useful as a "fingerprint" for indicating the presence of neutron-irradiated uranium usually originating from nuclear activity. By extracting negative molecular ion UO^- from the uranium oxide target, simulating the ^236U^16O^- beam transport with ^238U^16O^- and ^208Pb2^16O^- pilot molecular ion beam, transporting the ^236U-containing ion beam with a high resolution injection magnet analyzer and electrostatic analyzer system, and finally identifying and detecting ^236U with a time-of-flight detector (TOF), a method for AMS (Accelerator Mass Spectrometry) measurement of ^236U was established on the HI-13 Accelerator AMS system at China Institute of Atomic Energy. 相似文献
87.
88.
研究了绿色荧光粉Ca2GeO4∶Tb3+的真空紫外光谱性质,用172 nm激发荧光粉,其发射峰在549 nm,此绿色发光峰归属于Tb3+的5D4→7F5磁偶极跃迁,Tb3+离子的最佳摩尔分数x=0.05。激发光谱中147 nm和172 nm的激发强度分别是218 nm的1.5和1.7倍。因为在等离子体显示中激发光波长是147 nm和172nm,因此荧光粉在这两个波长的激发强度对荧光粉在等离子体显示中的应用至关重要。Al3+的共掺杂可使荧光粉的发光强度增强2倍,因此,Ca2GeO4∶Tb3+是一种具有应用潜力的等离子体显示用绿色荧光粉。 相似文献
89.
90.
数字微镜哈达玛光谱仪谱线弯曲的分析与修正 总被引:1,自引:0,他引:1
由于数字微镜(digital micro-mirror device, DMD)哈达玛变换光谱仪其成本低,光能利用率高及无运动部件等优势,逐渐成为光谱仪领域的研究重点。研制了一款基于DMD的哈达玛变换光谱仪。为了解决光谱仪谱线弯曲造成的光谱分辨率下降的问题,对基于DMD的哈达玛变换光谱仪中的谱线弯曲所引起的谱带混叠进行了分析。首先,导出了谱带混叠与谱线弯曲的关系式。然后,提出了两个过程来解决谱带混叠,一是通过调整DMD编码条纹,使DMD所编码的谱带最大限度地与标准谱带重合; 二是通过数据处理对谱带混叠进行修正。最后,通过对谱线曲率半径为5.8×104,7.8×104和9.7×104 μm等六种情况下谱带混叠进行了分析与修正,拟合出光谱混叠和修正效果与谱线曲率半径的关系。结果表明: 对于不同程度的谱线弯曲经过这两个过程修正后,分辨率都会改善到接近光学系统的分辨率, 说明这两个过程对修正谱线弯曲具有普适性、并且方法简单、有效。 相似文献