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951.
952.
乙醇在Pt/nanoTiO2-CNT复合催化剂上的电催化氧化 总被引:10,自引:0,他引:10
通过前驱体Ti(OEt)4直接水解和电化学扫描电沉积法制备在Ti基体上的纳米TiO2-碳纳米管复合膜载Pt(Pt/nanoTiO2-CNT)复合催化剂. 透射电镜 (TEM) 和X射线衍射 (XRD) 结果表明, 锐钛矿型纳米TiO2粒子和Pt纳米粒子(粒径均为5~10 nm)均匀地分散在碳纳米管表面. 通过循环伏安和计时电流法研究表明, Pt/nanoTiO2-CNT 复合催化剂(Pt载量为0.32 mg•cm−2) 具有高达51.8 m2•g−1的电化学活性比表面积, 常温常压下对乙醇的电化学氧化具有高催化活性和稳定性, 乙醇氧化峰电位分别为0.59、0.96和0.24 V, 氧化峰电流密度分别达到−115、−113和−75 mA•cm−2. 复合催化剂对乙醇电氧化的高催化活性可归因于nanoTiO2、CNT和Pt纳米粒子的协同催化作用. 相似文献
953.
954.
Pr3+掺杂的LaF3纳米微晶/氟氧化物玻璃陶瓷的VUV光谱 总被引:1,自引:0,他引:1
The vacuum ultraviolet (VUV) spectroscopic properties of praseodymium (Pr3+, 1at%) doped LaF3 nanocrystals/glass at room temperature and 20 K are reported. Two types of Pr3+ ions, those in LaF3 nanocrystals and those in the glass host, were excited to 4f 5d band by VUV using synchrotron radiation as an excitation source, and emissions of 1S0 → 1D2 (336 nm), 1S0 → 1I6 (397 nm ) of Pr3+ in the nanocrystals and emissions of 4f 5d → 3HJ, 3FJ of Pr3+ in the glass appeared at the same time. But unlike in the bulk sample crystals, emission of 3P0 → 3HJ, 3FJ as the second step of the quantum splitting (QS) of Pr3+ in the LaF3 nanocrystals was not observed at room temperature, which could be explained that Pr3+ ions in the glass absorbed the energy of 3P0→ 3H4 of Pr3+ in the nanocrystals. Two types of excitation spectra monitoring different emissions were also measured, so it could be observed that the lowest energy of 4f 5d band of Pr3+ in the nanocrystals was about 53 500 cm-1 (186 nm) and in the glass about 33 800 cm-1(295 nm), respectively. These emission and excitation spectra were contrasted to those of bulk sample crystals LaF3∶Pr3+. 相似文献
955.
956.
957.
958.
959.
半结晶聚酯的两相分离及其可靠性分析 总被引:1,自引:0,他引:1
联用Rietveld方法、Fourier过滤技术和径向分布函数(RDF)研究了半结晶聚酯(PET)粉末样的结晶相和非晶相两相分离及结构分析问题,得到合理的结晶相和非晶相的结构参数,表明这种方法对分析半结晶高聚物的两相结构是可行的.文中提出,判断半结晶高聚物二相分离和结构分析是否可靠,除需考虑分辩结晶相结构参数是否正确的三个判据之外,还需加上二个物理判据.还指出 ,若要获得合理的两相分离结果,提供纯非晶试样的散射曲线作为拟合时本底强度初始值是必要的. 相似文献
960.
电化学微/纳加工分辨率的影响因素及对策 总被引:1,自引:0,他引:1
The etching resolution of electrochemical fabrication technique is influenced significantly by the diffusion layer of the etchant. It has been shown that a fast etching rate can achieve higher etching resolution due to so-called heterogeneous scavenging effect, while a lower etching rate will result in rather lower etching resolution. For the latter case, the confined etchant layer technique(CELT) has been employed to improve the etching resolution. i. e., a certain redox couple which can consume the etchant homogeneously and rapidly was added to the solution. The homogeneous scavenging effect confined the etchant within a narrow layer around the electrode surface and much improved etching resolution was achieved. Using the CELT and a needle-shaped microelectrode, an etching spot of several micro-meters was obtained at silicon wafer surface. 相似文献