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基于微流控芯片-激光诱导荧光分析技术,探讨了奶酪中两种β-酪啡肽(β-CM-5和β-CM-7)的场放大进样富集和检测。采用10 mmol/L硼酸-硼砂溶液(pH8.7)作为衍生缓冲液,5 mmol/L硼砂溶液(pH8.9)作为样品缓冲液,进样10s,60 mmol/L硼砂溶液(pH8.9)作为运行缓冲液,分离电压1500V,在120s内成功分离检测了两种β-酪啡肽。实验结果表明,β-CM-5和β-CM-7的富集倍数是16倍和21倍,检出限分别是8.2 nmol/L和3.6 nmol/L,线性范围分别是0.05~2μmol/L和0.02~1μmol/L,加标回收率在86.9%~107.5%,该方法可应用于奶制品中β-CM-5和β-CM-7的含量测定。 相似文献
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结合全超导托卡马克中性束注入系统(EAST NBI)的工作原理,采用水冷热测靶形式的离子吞食器回收和测量未被中性化粒子。根据EAST NBI系统对离子吞食器物理特性、空间限制、测量需求及冷却性能等方面的要求,对靶板材料选择、结构设计及布置等进行了分析,给出了离子吞食器具体设计方案。该方案单侧吸收靶板呈V形结构,单个靶板冷却方式采用内置并联冷却水管结构。根据该方案加工获得了EAST NBI系统离子吞食器装置。仿真和实验校验结果验证了本装置可以满足NBI系统4 MW高功率、10 s长脉冲的运行要求。 相似文献
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For the algorithmic proof of q-proper-hypergeometric identities, H.Wilf and D.Zeiberg gave a theoretical frame work. In [1], they proved that q-proper-hypergeometric terms satisfy recurrence relations with polynomial coefficients and could obtain quite explicit bounds for the order of such a recurrence. But how can we find the recurrence relations?We consider single-variable q-proper-hypergeometric identities based on Zeilberg's basic idea. To find the recurrence relations, an elimination in the non-commutative Weyl algebra has been developed. Thereby we obtained the algorithm of proving single-variable q-proper-hypergeometric identities. 相似文献
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宽温区大电流下的热不稳定性严重制约着功率SiGe 异质结双极晶体管 (HBT) 在射频和微波电路中的应用.为改善器件的热不稳定性, 本文利用SILVACO TCAD建立的多指功率SiGe HBT模型, 分析了器件纵向结构中基区Ge组分分布对微波功率SiGe HBT电学特性和热学特性的影响. 研究表明, 对于基区Ge组分为阶梯分布的HBT, 由于Ge组分缓变引入了少子加速电场, 使它与均匀基区Ge组分HBT相比, 具有更高的特征频率fT, 且电流增益β和fT随温度变化变弱, 这有利于防止器件在宽温区工作时电学特性的漂移.同时, 器件整体温度有所降低, 但器件各指温度分布均匀性较差.考虑多指HBT各发射极指散热能力存在差异, 在器件纵向结构设计为基区Ge组分阶梯分布的同时, 对其横向版图进行发射极指间距渐变结构设计, 用于改善器件各指温度分布的均匀性, 进而提高HBT的热稳定性.结果表明, 与基区Ge组分为均匀分布的等发射极指间距结构HBT相比, 新器件各指温度分布均匀性明显改善, fT保持了较高的值, 且β和fT 随温度变化不敏感, 热不稳定性得到显著改善, 显示了新器件在宽温区大电流下工作的优越性.
关键词:
SiGe 异质结双极晶体管
Ge组分分布
发射极指间距渐变技术
热稳定性 相似文献
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采用金属有机化合物化学气相沉积(MOCVD)方法制备了不同Al组分(x=0.19,0.22,0.25,0.32)的AlxGa1-xN/AlN/GaN 结构的高电子迁移率晶体管(HEMT)材料。研究了AlxGa1-xN势垒层中Al组分对HEMT材料电学性质和结构性质的影响。研究结果表明,在一定的Al组分范围内,二维电子气(2DEG)浓度和迁移率随着Al组分的升高而增大。然而,过高的Al组分导致HEMT材料表面粗糙度增大,2DEG迁移率降低,该实验现象在另一方面得到了原子力显微镜测试结果的验证。在最佳Al组分(25%)范围内,获得的 HEMT材料的2DEG浓度和室温迁移率分别达到1.2×1013 cm-2和1 680 cm2/(V·s),方块电阻低至310 Ω/□。 相似文献