PCB覆铜层传热特性仿真分析

基于CFD(Computational Fluid Dynamics)的仿真技术,开展对PCB(Printed Circuit Board)板级热仿真.通过将PCB的器件布局及覆铜层布线模型导入仿真软件,建立板级详细仿真模型,并与常用的覆铜层等效导热系数的仿真方法进行对比.两种仿真方法和试验分析的结果对比表明,板级详细...     

"Perspectives in Fluid Dynamics: A Collective Introduction to Current Research"评介

作为对新世纪流体力学研究的展望,国际著名流体力学杂志Journal of Fluid Mechanics的创建人和原主编G.K.Batchelor教授联合H.K.Moffatt教授和M.G.Worster教授编辑出版了"流体动力学展望"一书,由剑桥大学出版社于2000年出版.     

CrN镀层的微粒磨损性能及其切削行为研究

在Teer UDP 550型闭合场非平衡磁控溅射离子镀设备上制备CrN镀层,以球-盘方法测定的比磨损率和微粒磨损法测定的微粒磨损率评价CrN镀层的耐磨性能,采用高速钢镀层钻头的钻孔数评价镀层的切削性能.结果表明,CrN镀层的微粒磨损率对氮流量(用光谱发射因子OEM值控制)的变化很敏感,而比磨损率却不能反映这种由于氮流量变化带来的镀层结构和性能的变化.在不同偏压条件下所制备的镀层微粒磨损率变化不明显.当微粒磨损率低于某一值时,CrN镀层的钻孔寿命明显提高,而比磨损率则无此规律.     

基于Copula的VsR度量与事后检验

估计VaR的传统方法有三种:协方差矩阵法、历史模拟法和蒙特仁洛模拟法。通常,文献中认为刚蒙特卡洛模拟法度量VaR有很多方面的优点。但是,本文通过实证检验发现,使用传统蒙特卡洛模拟法估计的VaR偏小,事后检验效果很不理想。本文引入Copula函数来改进传统的蒙特卡洛模拟法。Copula函数能将单个边际分布和多元联合分布联系起来,能处理非正态的边际分布,并且它度量的相关性不再局限于线性相关性。实证检验表明,基于Copula的蒙特卡罗模拟法可以更加准确地度量资产组合的VaR。     

高中统计教学发展趋势研究——从新旧沪教版教材对比的视角切入

笔者从教材对比的视角出发,通过借鉴SEC模式的研究框架,从内容主题和认知水平两个角度对新旧沪教版教材进行比较研究,透过新旧教材的变化分析其背后所体现的统计教学新风向.基于统计教学的发展趋势,提出统计教学需要把握统计的整体性、注重大数据时代的特点以及加强数据随机性相关教学.     

Chen混沌系统的非线性全局同步控制

研究了Chen提出的一个新的混沌系统的混沌同步问题,利用非线性控制方法设计了三种混沌同步控制器,并用李雅普诺夫方法证明了在混沌控制器作用下,驱动、响应混沌系统可以实现全局同步.数值仿真结果表明,所设计的三种混沌控制器都能有效的实现混沌同步,并且具有很强的鲁棒性.     

沸水阻断多聚磷酸盐分解离子色谱法检测水产品中的多聚磷酸盐

多聚磷酸盐在水产品中的快速分解影响其准确测定.用沸水破坏使多聚磷酸盐分解的物质,并用三氯甲烷去除水产品中蛋白质等杂质,离子色谱准确测定多聚磷酸盐各组分的量.实验中采用淋洗液自动发生器产生的KOH溶液作为流动相,保护柱和分离柱采用Ionpac AG11-HC和Ionpac AS11-HC抑制电导检测,可以较好地分离所检测焦磷酸根和三偏磷酸根.该方法操作简单,检出限为10 mg/kg,当水产品中添加多聚磷酸盐标准物质浓度达到10～1000 mg/kg范围时,回收率在70%～110%之间,相对标准偏差小于12% .     

流动注射化学发光法测定盐酸氟桂利嗪

在酸性条件下,盐酸氟桂利嗪与KMnO4反应可产生弱的化学发光,甲醛的存在对这一反应的化学发光强度具有增强作用。据此,优化了化学发光反应条件,建立了测定盐酸氟桂利嗪的流动注射化学发光分析法。该方法测定盐酸氟桂利嗪的线性范围为8.0×10-7~8.0×10-5g/mL,检出限为8×10-7g/mL,对1.0×10-5g/mL盐酸氟桂利嗪标准溶液进行11次平行测定的相对标准偏差为2.2%。方法已用于盐酸氟桂利嗪胶囊中盐酸氟桂利嗪的测定。     

金属异质波导阵列中的表面等离激元传播特性

提出了一种新的一维金属异质波导阵列的设计方案,即波导芯区周期调制的金属波导阵列.数值模拟的结果表明,金属波导芯区的周期调制引起波导中传播的表面等离激元有效折射率的周期调制,从而可在特定的波段打开一个表面等离激元带隙(如1550nm附近).通过引入合适的缺陷波导单元,可获得特定波长的高品质因子(Q=556)的表面电磁模共振.这一结果可用于设计亚波长的布拉格反射器、光发射器、滤波器等,有可能被用于未来的集成光路.     

X射线衍射增强成像中的定量测量

提出了一种基于X射线衍射增强成像(DEI)断层计算机X射线层析术(CT)图像的物体尺寸精确测量方法.X射线衍射增强成像是一种基于相位衬度的成像技术.通过建立DEI的简化模型,研究衍射成像过程中品体转角、投影图像谷点位置、成像系统等效模糊等因素之间关系,由此具体探讨了系统模糊效应对圆物体边界成像带来的位置偏移,并以圆形被测样品为例.提出可精确测定直径的简单有效算法.通过理论仿真模型数据和北京同步辐射装置上的实测数据验证了该算法的精度.该方法实现了利用DEI图像对被测物体几何尺寸的精确测量,可用于对牛物组织样品等物体内部微小结构的尺寸的精确测量.