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电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素 总被引:3,自引:0,他引:3
采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应,镉的浓度大于0.25g·L- 1 时,对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制,而对质量数大于150 的分析物的信号强度产生增强,采用89Y和209 Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V 和U 等16 个杂质元素,方法的检测限0.005~0.052 μg·L- 1 ,标准加入回收率82% ~108% 。 相似文献
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这次会议由中山大学和中国广州分析测试中心承办,在张展霞教授及何华焜教授的组织领导下为会议做了周密而充分的筹备工作。会议于1989年11月28日至12月1日在中山大学高等学术中心举行。中国化学会理事、分析化学委员会副主任委员黄本立教授以及中国地质学会岩矿测试委员会和中国化学会分析化学委员会的部分委员等共240名代表参加了会议,他们分别来自除西藏和台湾以外的各省、市、自治区,以大会报告、专题报告、分组报告,报展及座谈等方式交流了近年来我国在原子吸收、原子发射、ICP质谱以 相似文献
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