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热冲击下红外焦平面探测器的高碎裂概率制约着其成品率.为明晰碎裂机理, 基于等效设想, 利用小面阵等效大面阵解决了128×128面阵探测器三维结构建模所需单元数过多的问题, 同时综合考虑材料线膨胀系数的温度依赖性、材料强度的各向异性、表面加工损伤效应, 合理选取InSb材料性能参数, 建立起128×128面阵探测器结构有限元分析模型.模拟结果表明:热冲击下最大Von Mises 应力值出现在N电极区域, 其极值呈非连续分布, 这意味着热冲击下128×128面阵探测器的裂纹起源于N电极区域, 且不止一条.上述结论与碎裂统计分析报告中典型裂纹起源地及裂纹分布这两方面相符合, 这为后续面阵探测器碎裂诱因的研究及结构可靠性设计提供了切实可行的研究思路. 相似文献
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主要研究双扭曲积Hermitian流形的各种曲率,给出了紧致非平凡的双扭曲积Hermitian流形具有常全纯截面曲率的充要条件,得到了一种构造满足第一或第二爱因斯坦条件的Hermitian流形的有效方法. 相似文献
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建立了高效液相色谱三重四极杆串联质谱检测水体中痕量氨基脲(SEM)、5-甲基吗啉-3-氨基-2-恶唑烷基酮(AMOZ)、1-氨基乙内酰脲(AHD)和3-氨基-2-唑烷基酮(AOZ)的分析方法。水样在pH 1.5~3条件下衍生8 h,经乙酸乙酯萃取,氮吹浓缩,流动相溶解后,内标法定量。分析条件为:CAPCELLPAK C18色谱柱,以甲醇和2 mmol/L乙酸铵(含0.1%甲酸)溶液为流动相进行梯度洗脱。结果表明:AMOZ、AHD和AOZ在0.005~1μg/L范围内,SEM在0.01~1μg/L范围内呈现良好的线性关系,相关系数均大于0.9980。AMOZ、AHD和AOZ的定性检测限和定量检测限为分别为0.0025μg/L和0.005μg/L;SEM的定性检测限和定量检测限为分别为0.005μg/L和0.01μg/L。4种化合物在水体中3个不同浓度添加水平下的平均回收率为84.9%~110.4%,相对标准偏差为1.2%~7.8%。方法可用于分析环境水体中4种化合物的残留。 相似文献
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集合是我们进入高中学习数学首先接触到的内容,也是中学数学中最基本、运用最多的概念和数学工具之一,还是高考的必考内容之一,除此以外,与集合有关的问题大都是比较抽象的,从而给高一同学的学习带来了一定的困难,下面从2008年高考中的集合问题,谈一谈集合的学习,供同学们参考. 相似文献
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液氮冲击中InSb面阵探测器表面经常出现局部分层、开裂等失效模式.为明晰材料分层、光敏元芯片断裂过程,基于三维等效建模设想,在易分层处添加内聚区模型,合理选取界面分层开裂参数,建立了128×128InSb探测器结构分层模型.模拟结果涵盖了典型碎裂照片中呈现的所有形变信息,即1)在光敏元阵列区域,复现出典型棋盘格屈曲模式;2)在Negative电极区域上方,InSb芯片与下层材料逐渐分开,且分层向两侧逐步扩展;3)在面阵探测器周边区域,表面起伏相对平整.上述模拟结果证明了所建分层模型的正确性和参数选取的合理性,为后续裂纹起源、传播过程的研究提供了模型基础. 相似文献
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计算K_I时裂纹尖端塑性区修正的讨论 总被引:1,自引:0,他引:1
本文讨论在小范围屈服条件下,裂纹尖端塑性区修正问题,指出用等效裂纹计算KI的不足之处及其改进方式. 相似文献
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本文简要介绍了一种新颖的聚合物/聚合物复合薄膜的制备方法——诱导成膜聚合法。即用一种高分子溶液作某一能溶于该溶液的单体的诱导成膜剂,诱导单体成膜。经聚合后,便得到具有IPN界面的聚合物/聚合物层状复合薄膜。 相似文献