杯芳烃包合作用的研究进展

综述了杯芳烃包合作用的研究进展,详细介绍了其对碱金属离子、过渡金属离子、副族金属离子等离子的包合作用和对染料、卟啉、富勒烯、聚合物等有机中性分子的包合作用,并对其应用前景进行了展望.     

磁场热处理和预压力对Tb0.3Dy0.7Fe1.95合金磁致伸缩"跳跃"效应的影响

研究了磁场热处理对<110>取向Tb0.3Dy0.7Fe1.95多晶合金磁致伸缩"跳跃"效应的影响.在真空超导体强磁场装置中,将经定向凝固的<110>取向Tb0.3Dy0.7Fe1.95多晶合金棒,沿垂直轴向施加强度为1 T的磁场,加热到623 和723 K下,保温5 min后随炉冷却.研究结果表明,磁场热处理增强预压力下的"跳跃"效应,提高不同预压力下的饱和磁致伸缩系数λs,其中623 K磁场热处理样品在8.1 MPa下的λs达到1950×10-6.磁场热处理提高预压力(8.1 MPa)下的动态磁致伸缩系数最大值dmax33,但同时增大dmax33对应的磁场.     

离子交换纸的研制

本文提出了研制离子交换纸的设计技术指标。讨论了纸的湿强度、树脂保留率与粒度、打浆度等的关系。从宏观、微观角度综合评价该纸,并与美国同类产品进行比较,满足分析上的要求。     

铂催化剂上烃类的异构化反应机理Ⅱ.三次甲基吸附态的EHMO计算

为了对“类三元环”机理提供某些支持,对C_4-C_7烷烃的各种三次甲基吸附态进行了EHMO计算,把Pt—C键长和∠C(2)(1)(5)键角作为结构变数,可求得三次甲基吸附态的平衡构型。计算表明,各种三次甲基吸附态之间的相对稳定性和烃类异构反应产物分布之间有一定的关联。     

碱金属离子对Y，Pd-Y沸石催化剂酸性的影响

用脉冲微型反应-色谱技术研究了在MY(M=Li,Na,K)沸石和Pd/MY沸石催化剂上乙醇的分解反应,以考察金属沸石催化剂的金属性能与酸性性能,特别是沸石酸性的变化.从MY和Pd/MY吸附吡啶后的红外光谱的1446cm~(-1)附近谱带强度的变化,可以发现MY沸石引入Pd后L酸数目都有所减少,但当抽空温度升高到420℃时,Pd/MY样品均显示出较相应的MY沸石更强的L酸中心。Pd/MY沸石中L酸强度的顺序,以及L酸和B酸中心数量的顺序都是Pd/LY>Pd/NaY>Pd/KY。这同乙醇在这些催化剂上脱水反应活性的次序相同。     

在Pd/Y分子筛上CO+H_2反应

用离子交换方法制备了一系列Pd/MY分子筛催化剂(M=Li,Na,K,Cs,Cu,Zn)。在静态循环装置中考察了这些催化剂对CO+H_2反应的活性和选择性。在pH_2=40kPa,pCO=20kPa 和180℃的条件下,CO+H_2反应的主要产物为甲醇和二甲醚。碱金属离子促进甲醇的生成,而酸中心有助于产物甲醇的脱水反应。     

四（对—羟基）苯基卟啉配合物的傅里叶变换红外光声光谱

四（对-羟基）苯基卟啉（H2THPP）不仅能作为分析试剂，而且有一定的抗癌活性，还可作为合成卟啉类液晶材料的中间体．这种配体及其配合物由于颜色深、透光性能差和散射较强，用普通红外光谱法开展其振动光谱研究存在一定的困难．我们在用红外光声光谱（FTIR－PAS）技术[1]成功地研究了部分过渡金属、稀土金属叶琳配合物的基础上[2，3]，测试并研究了H2THPP及其Cr（III）、Mn（III）、Fe（III）、Co（II）、Ni（II）、Cu（II）、Zn（II）配合物在3700～200cm－1范围内的FTIR－PAS．对主要谱带进行了经验归属，讨论了配…     

轻烃在改性ZSM－5催化剂上转化成芳烃与低碳烯烃的选择性控制

研究了Ｃ３－Ｃ９烷烃在不同的改性ＺＳＭ－５沸石上的反应规律．过渡金属离子改性的ＺＳＭ－５沸石显示了较高的芳烃选择性，芳烃的选择性还取决于改性金属离子的脱氧能力并可通过预硫化得到改进．钾、钡改性的沸石显示了较高的烯烃选择性，增加钾含量，烯烃选择性显著提高，但也明显抑制了催化剂的活性；提高Ｂａ含量，同样可提高烯烃选择性，但对活性影响不大．环己烯的模型反应结果表明，Ｋ，Ｂａ的作用在于抑制了双分子氢转移反应和提高了脱氢能力．红外表征结果表明，沸石表面的羟基，因不同金属改性而发生不同的变化．此外，气相氧对提高烯烃和芳烃的收率有明显作用     

Progressive current degradation and breakdown behavior in GaN LEDs under high reverse bias stress

The progressive current degradation and breakdown behaviors of GaN-based light emitting diodes under high reversebias stress are studied by combining the electrical, optical, and surface morphology characterizations. The current features a typical "soft breakdown" behavior, which is linearly correlated to an increase of the accumulative number of electroluminescence spots. The time-to-failure for each failure site approximately obeys a Weibull distribution with slopes of about 0.67 and 4.09 at the infant and wear-out periods, respectively. After breakdown, visible craters can be observed at the device surface as a result of transient electrostatic discharge. By performing focused ion beam cuts coupled with scan electron microscope, we observed a local current shunt path in the surface layer, caused by the rapid microstructure deterioration due to significant current heating effect, consistent well with the optical beam induced resistance change observations.