ICP—AES中光谱干扰的计算机模拟：Ⅱ.有效谱线轮廓宽度的计算

在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)中,利用计算机模拟光谱线对于光谱干扰的快速准确预测是一种有效的方法。在模拟过程中,主要步骤在于计算光谱线轮廓。前人在谱线轮廓的计算方面已进行过探讨,但所涉及的大多为谱线的物理轮廓。实际上,任何光谱分析均需通过一定的光谱仪器进行。分析粒子所发射的谱线除了在光源中因各种因素发生变宽外,在经过仪器光学系统时亦会发生变宽。在检测     

光电二极管阵列等离子体原子发射光谱分析背景智能化实时校正研究

提出了用于光电二极管阵列等离子体原子发射光谱分析背景智能化实时校正的方法。采用二次微分结合原ICP光谱法,在不经微分噪声过滤的基础上,实现快速准确的谱线识别。简单背景采用多项式模型,结构背景及翼展干扰采用概率统计模型。通过对高浓度Ca存在下A₁及La的测定,表明本方法能够准确地校正背景干扰。     

用H_α线研究Freon12(CF_2CCl_2)对电感耦合等离子体(ICP)电子密度的影响——ICP技术在危险废弃物处理方面的应用研究

电感耦合等离子体（ＩＣＰ）被应用于Ｆｒｅｏｎ１２（ＣＦ２ＣＣｌ２）的焚烧处理。通过观察引入Ｆｒｅ－ｏｎ１２前后ＩＣＰ电子密度分布的变化，可在一定程度上间接了解焚烧的效果。由于Ｈβ线在低观察高度受到较为严重的光谱干扰，本文采用Ｈα线进行ＩＣＰ电子密度的测定。发射强度与电子密度测定的结果显示了Ｆｒｅｏｎ１２在ＩＣＰ的不同观测高度产生不同的影响，表明ＩＣＰ在导入Ｆｒｅｏｎ１２后出现了明显的“热箍缩”效应，从而有利于该化合物的完全分解。     

光纤氧传感器技术进展

综述了近年来国内外光纤氧传感器技术的研究及应用情况,探索了光纤和荧光指示剂的进展,阐述了氧传感技术和制作氧传感膜的机理及光纤氧传感器的应用情况,并展望了光纤氧传感器的发展趋势。     

光电二极管阵列等离子体原子发射光谱分析背景智能化实…

提出了用于光电二极管阵列等离子体原子发射光谱分析背景智能化实时校正的方法，采用二次微分结合原ＩＣＰ光谱法，在不经微分噪声过滤的基础上，实现快速准确的谱线识别，简单背景采用多项式模型，结构背景及翼展干扰采用概率统计模型，通过对高浓度Ｃａ存在下Ａｌ用Ｌａ的测定，表明本方法能够准确地校正背景干扰。     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究——Ⅵ.镧、铽、钬、铒基体对其他稀土元素的光谱干扰

利用光栅刻线为3600条／mm的高分辨率时序扫描式ICP－AES光谱仪研究镧(La）、铽（Tb）、钬（Ho)、铒（Er)基体分别对其他14个稀土元素共65条“首选分析线”的光谱干扰情况,获得了相应的光谱干扰轮廓和稀土光谱干扰信息,为选择在该4种稀土基体中的其他稀土元素ICP－AES最佳分析线提供了参考。     

从基体干扰角度进行电感耦合等离子体原子发射光谱分析条件的优化

本文探讨了不同分析条件下基体干扰效应的分布规律,从消除基体干扰效应角度对ICP-AES操作条件的优化进行了讨论。结果表明,在一般分析条件下,典型基体元素的零干扰点主要出现于10～15mm的观察区域。在此区间仔细选择观察高度,同时结合入射功率、载气流量的调整及加入基体缓冲剂,可以将基体的影响减至最小。     

辉光放电质谱研究与应用新进展

简要介绍了辉光放电的基本原理,主要概述了过去４年有关辉光放电质谱研究的新进展,包括辉光放电质谱的基础研究,新装置和新方法的发展,以及辉光放电质谱的分析应用。文中最后展望了辉光放电质谱法的发展前景。