COMPLETELY BOUNDED COHOMOLOGY OF NON-SELFADJOINT OPERATOR ALGEBRAS

The authors prove that all n-th completely bounded cohomology groups of a nest algebra T(N) acting on a separable Hilbert space are trivial when the coefficients lie in any ultraweakly closed T(N)-bimodule containing the nest algebra. They also prove that Hcbn(A, M)(?)Hcbn(A, A) for all n≥1 and a CSL algebra A with an ultraweakly closed A-bimodule M containing A.     

电子散斑干涉条纹信号实时处理系统的研究

本文给出一种电子散斑干涉条纹信号实时处理系统的实现方案;详细分析了物体变形前后信号延迟对相关性的影响;并导出条纹信号频率范围与离面位移的关系式及散斑背景噪音最低频率估算式,从获取低背景噪音条纹图角度给出光学系统优化设计的依据;最后给出实验结果．     

Ad-hoc网络DSR路由协议的优化

针对DSR路由协议由于采用泛洪机制而导致的较高路由开销这一问题，提出了使用查询局部化技术的优化方案．即在原有的DSR协议的基础上引入查询局部化技术，将泛洪控制在一个局部的范围内，以防止整个网络内的泛洪，从而减小网络开销．仿真结果表明，使用查询局部化技术后，网络路由协议开销得到显著减小(约50％)并降低了平均端到端时延．     

一种用于计算机间保密通信系统的研究

对一种计算机之间文件在公用电话线路上安全传输系统进了研究，该系统使用YMODEM-BATCH作为文件传输协议，采用以Intel180C96KB单片机作为主处理器的外挂加密设备的方法，解决了公用电话网络上计算机之间文件安全传输的问题，该系统通过国防科工委科学技术部鉴定，效果良好．     

Ti-Si-N复合膜的界面相研究

为了揭示Ti_Si_N复合膜中Si₃N₄界面相的存在方式及其对薄膜力学 性能的影响 ，采用x射线衍射仪、高分辨透射电子显微镜、俄歇电子能谱仪和显微硬度仪对比研究了磁 控溅射Ti_Si_N复合膜和TiN/Si₃N₄多层膜的微结构和力学性能. 实 验结果表明 ，Ti_Si_N复合膜均形成了Si₃N₄界面相包裹TiN纳米晶粒的微结构. 其中低Si 含量的Ti_Si_N复合膜中Si₃N₄界面相的厚度小于1nm，且以晶体态 存在，薄膜 呈现高硬度. 而高Si含量的Ti_Si_N复合膜中的Si₃N₄界面相以非晶 态存在，薄 膜的硬度也相应降低. 显然，Ti_Si_N复合膜中Si₃N₄界面相以晶体 态形式存在 是薄膜获得高硬度的重要微结构特征，其强化机制可能与多层膜的超硬效应是相同的. 关键词： Ti－Si－N复合膜 界面相 微结构 超硬效应     

次黄嘌呤在铜电极上的伏安特性研究

研究了次黄嘌呤（Ｈｘａ）在铜电极上的电化学行为．实验发现，以１．９６×１０－３～４×１０－４ｍｏｌ·Ｌ－１ＮａＯＨ作支持电解质时，在－０．２５～－０．４０Ｖ的电位范围内有一灵敏的阴极峰，它是吸附于铜电极表面的Ｈｘａ与Ｃｕ＋络合物的溶出伏安峰．在选择的实验条件下，峰高与Ｈｘａ的浓度在１．４６×１０－６～２×１０－３ｍｏｌ·Ｌ－１范围内呈良好的线性关系，最低检测限为５．６×１０－８ｍｏｌ·Ｌ－１，可用于痕量的Ｈｘａ的检测．     

多晶硅TFT有源OLED两管像素电路的研究

在采用精确的模型基础上,利用AIM-Spice软件对有源OLED poly-Si薄膜晶体管(TFT)驱动电路和1×4矩阵电路进行分析研究。最后得到合理的电路参数,使OLED能够达到一定的显示亮度要求。在每帧时间内维持电流恒定,并且在时变的灰度信号作用下能够良好地跟踪响应,最大程度上消除了TFT的一些非线性特性对OLED驱动电流的影响。为OLED显示器像素驱动电路的设计、参数选取、性能分析等提供依据。     

Goertzel算法的一种改进计算结构

针对Goertzel算法的计算结构硬件实现效率低等问题,提出了利用两个FIR滤波器实现Goerztel算法,并且将改进后的计算结构由原来的AR（2）过程推广到一般的AR（p）过程.改进后的计算结构避免了递推运算,能够预确定数据的动态范围进行定标,充分利用了DSP等信号处理器的硬件结构,适合定点处理器的编程.通过在定点DSP处理器TMS320C5510上进行软件仿真,测试结果表明改进计算结构后算法的效率是改进前算法效率的3.7倍.     

超细粉末压片制样X射线荧光光谱测定碳酸岩样品中多种元素及CO_2

粉末压片X射线荧光光谱分析碳酸岩的误差主要来自粒度效应和矿物效应。为消除粒度效应影响,采用超细粉末压片制样准确测定了碳酸岩中的多种元素和CO2。使用德国FRITSCH行星式球磨机,碳化钨研磨介质将碳酸岩进行超细粉碎,为了克服团聚效应,采用了湿法研磨。随颗粒度的减小,样品表面形态更平整、光滑,康普顿散射效应减小。研究了粒度变化对各元素分析线强度的影响,通常荧光强度随粒度减小而增加。当多个组分的颗粒度减小时,S,Si,Mg的强度将增加,Ca,Al,Ti,K的强度将减小,这取决于各自的质量吸收系数。研究了粒度变化对矿物物相组成的影响。计算了各分析元素分析线的穿透厚度,当样品的粒度碎至元素分析线的穿透厚度以下时,荧光强度受粒度的影响减小。实验发现当样品碎至d95≤8μm时,基本消除了颗粒度效应影响,压片法制样,理论α系数、经验系数法结合校正基体效应,可准确测定碳酸岩样品中14个元素,方法的精密度大大改善,除Na2O外,RSD2%。C是超轻元素,荧光产额低且干扰严重。实验采用PX4人工多层膜晶体,粗准直器,X射线荧光光谱可定量测定碳酸岩中的CO2。试验发现C的测量强度随测量次数的增加而增加,且随放置时间的增加而增加(即使在干燥器中存放),因此建议使用新制的样片测定CO2。