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701.
702.
Microstructure at the interface of titanium carbide and nickel aluminides in the samples obtained by infiltration of molten Ni3Al alloy has studied by a scanning electron microscopy (SEM) and an analytical transmission electron microscopy (ATEM) with an energy dispersive spectrometer (EDS). It is found that the morphology at the interfaces between hard phase skeleton of TiC0.7 and metallic phases depends on the ratio of Ti/C in carbide. Some periodic zigzag fringes are observed at a smooth interface between metallic phase and carbides in the sample of Ni3Al/TiC0.7. The results of analysis using EDS show that Ti in TiC0.7 carbide is easier than that in TiC0.7 to dissolve into the molten alloy during solid-liquid reaction. The formation of this periodic zigzag fringe,which may be a growth zone of a new Ti-Ni-Al phase,in the interface of TiC0.7/Ni3Al would occur during the initial stage of solidification. 相似文献
703.
用Hilbert惟一性方法Schauder不动点定理,得到一类弱耦合非线性波动方程组Dirichiet边值问题的精确可控性. 相似文献
704.
兽疫链球菌变异株产生的透明质酸的纯化及表征 总被引:6,自引:0,他引:6
用N-甲基-N′-硝基-N-亚硝基胍(NTG)对兽疫链球菌进行诱变,获得高产菌株.经过对该菌株的发酵培养,将产生的多糖经Savage法、季铵复合物沉淀法、DEAE-纤维素(DE52)离子交换层析法及SephadexG-75凝胶过滤法分离纯化.纯化的多糖结构经化学组成分析、核磁共振波谱、红外光谱及圆二色谱鉴定,证明了诱变得到的高产菌株(StreptococcuszooepidemicusJ18)再经发酵,得到的多糖为透明质酸.通过刚果红实验证明了透明质酸的构象为单股螺旋结构,其平均分子量约为1.16×106. 相似文献
705.
706.
为了探索功能金刚石聚晶的高压合成,使其具有优异的透红外和散热性能,我们采取了提高合成压力、温度和尽量减少结合剂的办法进行试验。首先探索如何使合成的金刚石聚晶具有D-D型结合,然后尽量减少结合剂,以合成出高密度的D-D型金刚石聚晶。为了尽量减少结合剂含量,不用粉末混合法,而是分别采用7~14 μm和63~80 μm粒度的金刚石为原料,与纯Ni或Ni70Mn25Co5合金为基底积层组装,通过高温高压下触媒金属向金刚石晶粒间渗透进行烧结生长。在6.3 GPa的压力和1 440~1 650 ℃的不同温度下分别保持3~40 min。所得到的金刚石聚晶在触媒金属渗透得充分的区域形成了D-D结合型结构,而没有发现碳化物生成及金刚石表面石墨化等现象。 相似文献
707.
708.
用X射线光电子能谱(XPS)研究了在室温和超高真空条件下金属Ti淀积在AlN陶瓷表面上的化学反应过程.在金属Ti淀积之前,从AlN陶瓷的能谱中的Ols和Al2P的结合能可以看到因是样品的主要杂质,而且样品表面部分的Al被氧化.当样品淀积了金属Ti以后,发现刚淀积上去的Ti是氧化状态,还发现在Ti淀积的同时则Nls在高结合能处(402和406eV)出现新峰.随着Ti淀积厚度的增加,Ti低结合能的成份在增加而Al的氧化成份逐渐增加,Nls高结合能处的峰(402和406eV)也逐渐增高,更进一步成为主导地.N在
关键词: 相似文献
709.
The crystallographic tilt in GaN layers grown by epitaxial lateral overgrowth (ELO) on sapphire (0001) substrates was investigated
by using double crystal X-ray diffraction (DC-XRD). It was found that ELO GaN stripes bent towards the SiNx mask in the direction perpendicular to seeding lines. Each side of GaN (0002) peak in DC-XRD rocking curves was a broad peak
related with the crystallographic tilt. This broad peak split into two peaks (denoted as A and B), and peak B disappeared
gradually when the mask began to be removed by selective etching. Only narrow peak A remained when the SiNx mask was removed completely. A model based on these results has been developed to show that there are two factors responsible
for the crystallographic tilt: One is the non-uniformity elastic deformation caused by the interphase force between the ELO
GaN layer and the SiNx mask. The other is the plastic deformation, which is attributed to the change of the threading dislocations (TDs)—from vertical
in the window regions to the lateral in the regions over the mask. 相似文献
710.