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作为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明,加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10%,谱仪非对称因子由1.4-1.5改善为1.0-1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。 相似文献
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本文以统计试验最优化方法处理商用X射线荧光光谱仪测得的AlKβ谱数据,用高斯和柯西函数的叠加函数拟合AlKβ谱轮廓,依据其非对称因子定量测定了磷酸盐玻璃中铝的配位数丰度,在0~100%范围内,算术平均偏差为±5%。 相似文献
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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 总被引:1,自引:0,他引:1
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要。本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨。考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对K~α,L~α和M~α的激发因子考察了它们之间的差异。 相似文献
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硫化合物中硫K—Beta谱研究 总被引:1,自引:0,他引:1
作者应用加了限制垂直发散准直器的PhilipsP1404型X-射线荧光分析仪测定了多种含硫化合物中SKβ谱峰值。结果表明硫酸盐中SKβTβ谱峰值能量差与分析轨道理论DV-Xa方法计算结果相一致。 相似文献
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含硫化合物的SK~αX射线荧光光谱的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK~α谱; 用统计试验最优化方法处理实验数据, 得到了峰谱的峰位, 非对称因子, 半高宽度等信息; 并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷。讨论了硫化合物SK~α谱化学位移的变化规律及原因。线性回归分析结果表明: 硫化物SK~α谱的化学位移与价态, 硫的含氧化合物SK~α谱的化学位移与O/S原子数比之间都有较好的线性关系; 并给出了线性相关系数及线性方程。 相似文献
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