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For the first time,we derive the compact forms of normalization factors for photon-added(-subtracted) two-mode squeezed thermal states by using the P-representation and the integration within an ordered product of operators(IWOP) technique.It is found that these two factors are related to the Jacobi polynomials.In addition,some new relationships for Jacobi polynomials are presented. 相似文献
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荧光光谱法研究中华蜜蜂化学感受蛋白与特异配基的相互作用 总被引:1,自引:0,他引:1
用荧光光谱法研究了中华蜜蜂化学感受蛋白(chemosensory proteins, CSPs)3与其特异性配基N-苯基-1-萘胺(N-Phenyl-1-naphthylamine, 1-NPN)的相互作用关系。研究表明1-NPN能使CSP3在328 nm (λem)处产生猝灭,且猝灭机理为静态猝灭,另外猝灭过程中ΔH0 > 0, ΔS0 > 0,表明二者间的主要作用力为疏水相互作用。依据F?rster非辐射能量转移机制,得到二者的结合距离为9.3 nm,能量转移效率E = 0.054。根据同步荧光技术考察1-NPN对CSP3的构象的影响,表明CSP3荧光主要贡献者--色氨酸残基的最大发射波长略有红移,表明原处于疏水腔中的色氨酸残基由于所处环境的极性增加,而使CSP3构象产生变化。 相似文献
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倒装芯片塑料球栅阵列(FC-PBGA)封装形式独特而被广泛应用, 分析研究其在实际应用过程中, 在高温、电、水汽等多种综合环境应力条件作用下的失效机理对提高其应用可靠性有重要意义. 本文对0.13 μm 6层铜布线工艺的FC-PBGA FPGA器件, 通过暴露器件在以高温回流焊过程中的热-机械应力为主的综合外应力作用下的失效模式, 分析与失效模式相对应的失效机理. 研究结果表明, FC-PBGA器件组装时的内外温差及高温回流焊安装过程中所产生的热-机械应力是导致失效的根本原因, 在该应力作用下, 芯片上的焊球会发生再熔融、桥接相邻焊球致器件短路失效; 芯片与基板之间的填充料会发生裂缝分层、倒装芯片焊球开裂/脱落致器件开路失效; 芯片内部的铜/低k互连结构的完整性受损伤而影响FC-PBGA器件的使用寿命. 相似文献
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以霍尔元件测量磁场为例,介绍了用Excel软件对实验数据进行分析处理的一般过程.结果表明利用Excel处理物理实验数据能大大减轻学生繁杂的数据计算及处理步骤,有效避免了手工处理所带来的误差,并且能满足一般的实验作图要求,适宜在大学物理实验数据处理方面推广应用. 相似文献
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Inversion formula and Parseval theorem for complex continuous wavelet transforms studied by entangled state representation
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In a preceding letter (2007 Opt.Lett.32 554) we propose complex continuous wavelet transforms and found Laguerre-Gaussian mother wavelets family.In this work we present the inversion formula and Parseval theorem for complex continuous wavelet transform by virtue of the entangled state representation,which makes the complex continuous wavelet transform theory complete.A new orthogonal property of mother wavelet in parameter space is revealed. 相似文献
100.