GaN衬底掺杂模式对ZnO纳米棒光学性质的影响

本文通过水热法在u-GaN(undoped GaN)/Al2 O3和p-GaN/Al2O3衬底上制备了ZnO纳米棒阵列.利用X射线衍射仪(XRD)、高分辨X射线衍射仪(HRXRD)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)和光致发光谱(PL)对样品进行表征,研究在无种子层和金属催化剂情况下u-GaN/Al2 O3和p-GaN/Al2O3衬底对ZnO纳米棒生长的影响.结果表明,在u-GaN和p-GaN上生长的ZnO纳米棒均为六方纤锌矿结构.在p-GaN上生长的ZnO纳米棒直径较细且密度更大,这可能是由于p-GaN界面比较粗糙,界面能量较大,为ZnO的生长提供了更多的形核区域;与生长在u-GaN上的ZnO纳米棒阵列相比,p-GaN上所沉积的ZnO纳米棒在378.3 nm处有一个较强的近带边发射峰,且峰强比较大,说明在p-GaN上所制备的ZnO纳米棒的晶体质量和光学性能更好.     

胶体晶体自组装常用方法的研究进展

胶体自组装是制造大面积胶体晶体的高效方法,对制备各种功能胶体晶体材料具有十分重要的意义,在微纳制造、新材料、能源、医学等领域有巨大的应用潜力.对胶体自组装过程中涉及的各种作用力进行了详细分析,归纳了胶体晶体自组装的基本方法.面向制造大面积胶体晶体,阐述了几类代表性的新型胶体晶体自组装方法,包括温度辅助、模板辅助、表面活性剂辅助、旋涂法与界面转移相结合等,分析了不同方法的影响因素、优缺点和未来的改良方向,并介绍了在完整单层膜基础上制造三维胶体晶体的工艺方法.为提高胶体晶体制造质量和效率、拓宽胶体自组装技术的应用提供必要参考.     

用于高温等离子体实验的C_8H_8簿膜

一、引言 在核聚变、X射线激光和激光等离子体的研究中,对高温等离子体辐射的X射线诊断,是了解等离子体与激光相互作用的最基本的手段之一。对激光等离子体X射线光谱的分析认为,X射线光子能量在1keV附近的产额最高,所带的信息量亦最丰富,因此人们对等离子体的诊断研究大都集中在这一软X射线波段上。而用于该波段的各类探测器所需要的滤     

Ω－场的暴涨宇宙

本文主旨在应用余提出的Ω－场理论￣［１］，去研究宇宙学问题。假设时空遵从罗伯逊－沃尔克（Ｒ－Ｗ）度规的结构，而能量张量动量张量只包含Ω－场的项，我们证明宇宙早期存在一急速暴涨阶段。视界问题和平直性问题从而获得简单而自然的解释。     

电感耦合等离子体质谱法测定高锰酸钾中7种元素

<正>水处理方法有物理法、化学法、物理化学法和生物法等,不同的污染物可用不同的方法进行去除。选择污染物的处理方法不仅要考虑技术可行性,还要考虑经济合理性以及其对环境的影响[1]。高锰酸钾作为饮用水处理行业广泛使用的一种化学氧化剂,常用于水的除铁、除锰、除臭和除味等净水工艺中[1]。其成品中残留的少量重金属元素会随着药剂的投加进入饮用水中,给人体健康带来潜在危害。因此,国家标准GB 2513-2004[2]中规定高锰酸钾     

N_5O_3-TRPO混合萃取剂从碱性氰化液中萃金

研究 N5O3- TRPO混合萃取剂从碱性氰化液中萃取金 ,考察了平衡时间、水相初始 PH值、水相离子强度、金浓度、N5 0 3浓度、磷类添加剂的种类及其浓度、稀释剂、温度、相比等因素对金萃取率的影响 ,绘制了萃取等温线 ,测定了金的饱和容量 ,考察了所选定的萃取体系对银 ( )、铁 ( )、铜 ( )、镍 ( )、锌 ( )的萃取性能 ,计算出了金与这些杂质元素的分离系数。研究了负载有机相中金的反萃。结果表明 N5O3- TRPO ROH正十二烷体系对 Au( CN) 2 具有较高的萃取率和选择性 ,可应用于碱性氰化液中金的萃取分离。     

氢离子轰击对TiC膜结构及界面影响的研究

本文研究荷能氢离子轰击对TiC薄膜的结构及其界面的影响。氢离子源为5A的脉冲离子注入器,能量25keV,脉冲宽度20ms。样品经轰击后发现。与受相同辐照的45~#钢样品相比,TiC薄膜表面无明显的损伤;TiC薄膜内的氢含量较高;薄膜的织构消除;TiC薄膜与基体间的结合力有明显提高。     

局部凸空间中ic -锥-类凸集值优化问题的超有效性

该文研究局部凸空间中受集值约束的集值优化问题的超有效解. 证明了ic -锥-类凸集值映射的一个有用性质, 并以此性质为主要工具, 得到了ic -锥-类凸集值向量优化问题超有效解的最优性条件和鞍点定理.     

电镜超薄切片产生颤痕的原因之一

电镜超薄切片颤痕是由于在切片过程中刀与样品块之间发生高频颤动在切片上留下的痕迹,在电镜下观察呈平行于刀刃的带状条纹。颤痕产生的原因,可能由超薄切片机本身的振动、切片过程中由于切速不当及进刀量过大、玻璃刀的质量不好或包埋块软硬不一致引起。     

新课程背景下数学教学测试的思考

1新课程背景下数学教学测试的现状 1．1试题难度大——错伤学生数学学习的兴趣与信心 在教学管理的年段过关理念支配下，数学教学的一步到位思想相当严重，数学概念教学一带而过，解题教学成为唯一的教学形式，教学测试时一般选用成熟的试题（高一阶段考高三试题），因而命题难度一般都比较大，测试后学生所获得成绩低于60分者非常多（有的班级达50％左右），导致学生对数学学习的兴趣与信心不足．