集成电路的通用单粒子效应测试系统设计

为满足种类繁多、功能复杂集成电路的单粒子效应评估需求,克服目前国内地面单粒子辐照实验环境机时紧张、物理空间有限等方面的限制,设计实现了一款高效通用的集成电路单粒子效应测试系统。创新性地采用旋转立体垂直结构,包含一个多现场可编程门阵列(FPGA)电测试平台、运动控制分系统和被测器件装载板。便携式箱体结构仅需3个DB9接口即可完成所有与外界连线;基于LabVIEW实现上位机交互界面,界面友好;基于多FPGA平台实现下位机测试程序,灵活可扩展,通用性强。可实现8种300及以下管脚集成电路的一次安装、自动切换和10°~90°的角度辐射。实时监控并后台记录翻转数据、翻转时间、电路状态等细节信息,测试频率可达100 MHz。已通过专用集成电路(ASIC)、静态随机存取存储器(SRAM)、控制器局域网络(CAN)接口电路等集成电路的多次实测,验证了该系统的可靠性及其高效稳定、集成度高、安装调试方便等特点。     

基于CMMB数据广播平台的数据接收程序设计

为了实时接收应用系统所需要的数据和图片,采用了以CMMB数据广播为平台的接收方法,该方法用软件实现解析CMMB数据广播业务数据。做了测试数据的接收实验,验证了数据接收的正确性,该程序方便各种应用系统使用,用软件编程代替硬件解码不仅减少了硬件的成本,而且降低了系统实现的复杂度。     

有非负Ricci曲率的度量测度空间上调和函数的边界问题

设(X,d,μ)是满足非负Ricci曲率条件的度量测度空间.本文研究了(开)上半空间X×R+上调和函数的边界问题.我们得到了:若u(x,t)是定义在上半空间X×R+上的调和函数,且满足Carleson测度条件supxB,rB∫rB0fB(xB,rB)|t▽u(x,t)|2dμ(x)dt/t≤C＜∞,其中▽=(▽x,?)...     

一种基于V58300平台的集成电路功能测试系统设计

基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台，设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分，通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件，即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下，I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试，实现了测试系统的通用化和低成本化。最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试。