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1.
随着IC设计逐步进入VDSM阶段,SOC逐步成为设计的主流,IC设计需要关注的问题也在逐步增加。以前设计时,主要关注芯片面积的大小;在80年代后期,延时(Delay)逐渐成为设计人员关注的问题;进入90年代芯片的功率消耗也成为必须考虑的问题;近来制造中的成品率(Yjeld),芯片工作中的可靠性,以及电磁干扰噪声(EMI—Noise)也开始成为设计必需满足的条件了。 相似文献
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3.
薄膜的截面TEM样品制备 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄,对其微结构的研究十分困难,许多表征方法难以采用。透射电子显微分析(TEM)是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易,但由于薄膜依附于基材生长,且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征,因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究,可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂,难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法,对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。 相似文献
4.
CrNx 薄膜具有很高的硬度和耐磨性 ,其高温抗氧化性和耐腐蚀性优良 ,不但可作为耐磨涂层用于工模具和切削工具的表面强化 ,而且在表面防腐和装饰等许多工业领域也有重要用途[1] 。同已经得到广泛工业应用的TiN薄膜相比 ,CrNx 薄膜的硬度更高 ,而且具有比TiN更好的耐腐蚀性能[2 ] 。CrNx 薄膜溅射产额比较高 ,有利于大批量的工业生产 ,更具有实用价值[3 ] 。CrNx 薄膜采用SPC 35 0多功能磁控溅射仪制备。在射频阴极 (r .f.)上安装纯Cr靶 (99 99% )作为溅射材料 ,高速钢基片经 1μm金刚石研磨膏抛光后 ,用丙酮… 相似文献
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6.
本文介绍在体系结构和功能上截然不同的两大类智能网--基于电信网的智能网和基于计算机网的智能网。论述它们的体系结构和功能及其开发研究。 相似文献
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8.
混合光学双稳系统混沌的控制 总被引:7,自引:1,他引:6
对混合光学双稳(MOB)系统的混沌态提出辅助参考反馈(ARF)控制方法。介绍了ARF控制方法对混沌系统的控制原理以及控制参数的选择,数值分析了MOB系统经混沌控制后的动力学行为。数值分析表明,适当调整反馈系数和参考项不仅可以有效地控制原系统不稳定轨道,而且还可以将系统控制在其它预期的目标轨道上。 相似文献
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10.
针对当前网络系统的需要,设备制造商要求作为设计基础的网络芯片具有灵活组网特性。最近推出的两种芯片可满足高度灵活性的要求,一种是Mindspeed技术公司的收发器,具有可支持全部网络系统标准和背板的带宽,另一种是Zarlink半导体公司的两个千兆位以太网交换芯片,它们具有多种服务质量(QoS)的特性。智能收发器Mindspeed的M27207型Quad SkyRail收发器覆盖从1Gb/s至3.1875Gb/s的速率,支持10千兆位光纤通道、千兆位以太网、10千兆位以太网和InfiniBand标准。它是解决组网问题的超集(superset),因为用户需要把多种协议和不同工作速… 相似文献