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MRTD是评价红外成像设备的重要技术参数,与设备的外场作用距离直接相关,因此常用来预测外场作用距离。一般军事装备的工作环境温度为-40℃(甚至更低)到+55℃的环境(依据应用场景会有所不同),在此温度范围内,由于目标辐射能量、探测器噪声、光学传函等发生变化,会引起MRTD的变化。而一般设备出厂时只检测室温MRTD,没有给出其他环境温度下的MRTD。针对以上问题,本文考虑环境温度对成像设备信号传递函数、噪声、调制传递函数等因素的影响,探究不同环境温度下MRTD的变化规律,建立不同环境温度下MRTD的关系,通过室温MRTD预测得到其他环境温度下的MRTD,提高不同环境温度下外场作用距离预测精度。 相似文献
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信号传递函数(SiTF)是评价热成像设备性能的重要指标,其与噪声之比为NETD,NETD可用于预测热成像设备的外场性能。根据红外成像测试理论,SiTF与环境温度相关,而外场环境温度变化范围大,在宽温度范围内SiTF变化很大,在预测热成像设备的外场性能时,应依据当前环境温度下的SiTF指标,但由于测试宽温度范围下SiTF指标的全军温红外整机测试系统并不普及,热成像设备在出厂时一般只测试室温SiTF值,用户不能获得宽温度范围内的SiTF值,因此当使用室温SiTF值预测设备在外场环境下的性能时由于外场温度与室温相差较大,导致预测结果偏差较大。本文通过分析SiTF随温度的变化规律,建立其随温度的变化关系,基于室温SiTF预测其他不同温度下的SiTF,从而解决采用室温SiTF预测外场环境下热成像设备外场性能时预测偏差较大的问题。 相似文献
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