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在1.0~4.0 GPa压力、1 073~1 573 K温度和10-1~107 Hz频率条件下,利用SARLTON-1260阻抗-增益/相位分析仪,就位测定了二辉橄榄岩的阻抗谱。实验结果表明:二辉橄榄岩的阻抗谱对频率具有很强的依赖性,并从阻抗谱的测试原理(颗粒内部、颗粒边缘、样品与电极间的导电机制)上做出了解释;温度是决定二辉橄榄岩电导率的一个重要物理参数,电导率随着温度的升高而增大,lg σ与1/T之间符合Arrenhius关系式;在高压实验中第一次将压力作为测量二辉橄榄岩电导率重要的约束因素,随着压力的增大,电阻率升高、电导率降低。 相似文献
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