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真空断路器的开断容量限制其在高压大电流开断领域的应用,获取燃弧过程中的等离子体参数对于提高真空断路器的开断容量至关重要。利用发射光谱法对真空电弧内的等离子体参数进行了诊断,研究了在不同电流幅值条件下真空电弧内电子温度、电子密度、谱线强度的轴向分布规律,结合真空电弧高速图片对真空电弧内不同粒子的扩散过程与弧柱直径之间的关系进行了分析。得到的电子温度在8000~10 000 K量级,电子密度在1019~1020 m−3量级,电子温度与电子密度从阴极向阳极逐渐下降,同时铜原子谱线强度主要集中在两极而一价铜离子谱线强度由阴极向阳极逐渐升高。铜原子谱线强度的径向分布呈现类平顶波分布、一价铜离子谱线强度的径向分布呈现类高斯分布的特点,且铜原子的谱线范围略大于弧柱直径,一价铜离子的谱线范围略小于弧柱直径,两种粒子的扩散速度存在差异。 相似文献
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以高温高压为手段,在4~5GPa压力和700~1 200 K温度条件下,成功地合成出了PbTe。对合成样品进行了X射线测试分析,结果表明,合成的PbTe样品是具有NaCl结构的多晶,而PbTe的取向随着合成压力的升高发生变化。扫描电镜分析结果显示:高压合成的PbTe样品,其晶粒有了明显的取向;电阻率比常压样品低1~2个数量级,并随合成压力的升高而降低;热导率也同时低于常压合成的PbTe样品。以上结果说明,高压合成方法是改善材料性能的重要手段。 相似文献
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本文在8 7GPa压力范围内研究了三聚氰胺(C3N6H6)的高压原位Raman光谱。通过内、外Raman活性模的压致效应,发现在1 5GPa和6 0GPa压力下该分子晶体发生了压致结构相变。用空间群相关原理确认在1 5GPa压力下它从单斜相转变为三斜相;在6 0GPa压力下又发生了另一次结构相变。然后在室温高压条件下对三聚氰胺进行了原位同步辐射能量散射x-ray衍射实验(EDXD),在14 7GPa压力范围内,观察到常压下为单斜晶系的三聚氰胺经历了两次压致结构相变。在1 3GPa下,三聚氰胺分子晶体从单斜相转变为三斜相;在8 2GPa又转变为正交相。本实验结果为利用三聚氰胺碳氮有机分子晶体高温高压合成超硬C3N4共价晶体的研究提供了重要信息。 相似文献
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热成像系统的空间和温度分辨极限 总被引:1,自引:0,他引:1
从辐射传递理论出发,运用空间分辨和温度分辨的概念,分析了热成像系统的对给目标背景的极限分辨距离和望远镜头的选用准则,最后对给定系统进行了计算。 相似文献
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优质立方六面体金刚石大单晶的生长研究 总被引:1,自引:2,他引:1
高温高压静压触媒法合成的金刚石单晶,往往呈现六八面体形貌,因为立方六面体单晶{100}面的生长区间相对较小.本研究利用高温高压温度梯度法,自制Fe-Ni合金触媒,通过对合成组装和工艺进行合理调整后,控制晶体在相对低温适合{100}面生长区域内生长,得到的晶体均呈现完整立方六面体形貌;同时为抑制包裹体和其他杂质的进入,人为的提高晶体的径向平铺生长速度,抑制其轴向生长速度.以在33 h内合成的优质立方六面体晶体为例,晶体最大方向尺寸达到7.3 mm,重1.2克拉,其径向生长速度达到0.22 mm/h,轴向生长速度仅为0.08 mm/h,增重速度为7.3 mg/h. 相似文献
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使用两个直径不同的试管按照不同的方向套在一起的方法实现了ZnS 的缓慢沉淀,在两个试管中扩散过来的反应离子的补充下制备核壳结构的ZnS 纳米晶. 利用透射电子显微镜(TEM),选区电子衍射分析(SAED)对样品的形貌和结构进行分析. 改变反应溶液的浓度和浓度比观察所得到样品形貌的改变,并从Zn2+和S2-两种离子与生成ZnS 单体之间所建立的平衡的角度,应用Ostwald 熟化效应等对样品形貌产生的原因进行了分析. 相似文献
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人工合成金刚石表面三角锥缺陷的存在机理研究 总被引:1,自引:0,他引:1
天然金刚石主要生长面为{111},在其表面经常会存在大量凹陷的金字塔状或者底面平整的三角锥蚀坑缺陷,这种缺陷很少出现在人工合成金刚石单晶的表面.本研究在高温高压5.4 GPa、1550 K的条件下,以FeNi合金作为触媒,FeS为添加剂,利用温度梯度法(TGM)直接合成金刚石单晶的{111}表面同样发现有大量凹陷的金字塔状或者底面平整的三角锥蚀坑缺陷.而在体系中加入微量单质B时,高温高压直接合成金刚石单晶的{111}表面不仅存在大量金字塔状的三角锥蚀坑,还出现了天然金刚石表面不曾发现的大量规则的三角凸起平台和凸起的金字塔状或者顶面平整的三角锥缺陷.由此推断,尽管天然金刚石{111}表面经常出现的三角锥缺陷可能是在自然环境中后期腐蚀出现的,而在FeNi-C-FeS体系高温高压直接合成的金刚石单晶{111}表面出现的三角锥缺陷却是在晶体生长过程中直接形成的,FeS在这种表面缺陷的形成过程中起着不可或缺的作用. 相似文献
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针对复杂红外系统透过率难以测试的问题,本文提出回反射法测试的结构方案,并进行系统能量传递计算及精度分析,该系统也适用于可见光系统的透过率测试。 相似文献