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由Philips引进的PW1700X射线衍射仪织构测量系统只能用反射法,按螺旋线扫测极目数据,测绘极角。α≤85°的不完整极图。经功能开发后,建立了织构分析测算系统,织构分析应用软件包,包括不完整极图测量与ODF(取向分布函数)计算,回算全极图与反极图,可彩色屏显考贝,并能进行织构的定量分析。适用于立方和六方品系多晶织构材料分析。近两年应用表明,软件功能优异。 相似文献
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