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XPS和TOF—SIMS在硬盘驱动器(HDD)磁头表面微污染分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
XPS和TOF-SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分,找出污染物的来源;XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息,而TOF-SIMS能够提供其分子信息。试验证明两者联用是分析表面有机微污染物强有力的手段。 相似文献
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