ICP—AES法测定长石中杂质元素

长石作为陶瓷工业生产的主要原料,它的主要成分是二氧化硅,其杂质含量不等,但杂质的存在将影响产品的质量。目前,长石中铁、铝、钙、镁、钛的测定没有国家标准,所采用的方法均为化学法,较繁琐。JIS M 8853-76方法中,测定铝、铁、钛方法需进行分离测定,步骤较复杂,ICP-AES法同时测定长石中铁、铝、钙、镁、钛元素,未见报道。本文通过试验,提出了用ICPA—AES同时测定长石中铁、铝、     

仲钨酸铵中17种杂质元素的ICP—AES法测定

钨有丰富的光谱线,在仲钨酸铵中各种杂质含量通常为0.0x～10μg·g~(-1)范围。由于钨对许多元素都存在不同程度的光谱干扰,包括背景干扰和谱线重迭,或非光谱干扰,其干扰综合量大于杂质本身含量,所以不分离钨很难准确测定其含量。文献[1]曾用离子交换分离富集钨酸钠中钙、镁,然后用ICP-AES法测定。测定高含量钨基体样品中多种杂质尚未见报道。本文研究用氨水-过氧化氢分解仲钨酸铵,以钨酸形式沉淀钨与其它元素分离,然后用ICP-AES法测定其中17种杂质,方法分离效果好、快速、准确,加标回收率为95％～108％。 1 试验部分 1.1 仪器与试剂 JY70P Ⅱ(法国):高压4.1kV,阳流400mA;栅流170mA;冷却气13L·min~(-1),雾化气0.3L·min~(-1),保护气0.1L·min~(-1)(测K、Na、Li用0.6L·min~(-1)),溶液提升量1.4ml·min~(-1);观察高度14mm;积分时间20s。     

ICP—AES光谱测量高纯镧氧化物中非稀土杂质

报道了用HPLC与ICP－AES联用测定高纯氧化镧中痕量非稀土杂质的新方法。应用P507树脂柱作固定相和稀硝酸作流动相，研究了基体（La)和非稀土杂质的色谱保留行为。发现使用pH1.7的硝酸可以有效地从HPLC柱上淋洗非稀土杂质。实验结果表明，可以在15min内实现基体与待测元素之间的有效分离。本法已应用于高纯La2O3中8个非稀土杂质的定量测定，其回收率在90％－110％之间。     

ICP—AES测定钯—钡合金中常量钡

本文采用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定钯－钡合金中常量钡。考察了其体及无机酸的存在对钡发射线强度的影响，采用标准曲线法对含量分别为０．５９％和２６．０４％的两个试样进行了测定，结果满意。     

沉淀分离ICP—AES测定铅锭中Te,Cr,Co,Ni杂质元素

采用硫酸沉淀分离基本元素铅后，ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定铅锭中Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ杂质元素。试验证明在本文提供的条件下Ｓｅ会以ＰｂＳｅＯ３的形式与ＰｈＳＯ４共沉淀，而Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ等待测元素则保留在溶液中。待测元素加标回收率在８６．４％￣１０８．４％之间。     

ICP-AES法快速测定工业硅中杂质元素

我国是工业硅生产大国 ,每年都有大量出口任务。硅产品是重要的原材料 ,其杂质含量严重影响产品质量 ,影响出口。为了国家出口创汇 ,寻找工业硅中微量杂质元素的快速准确分析方法 ,是商检部门亟待解决的课题。GB/T1 484 9- 93标准中 ,铁、钙及铝分析采用容量法和吸光光度法 ,其操作复杂周期长 ,消耗试剂多。铁和钙元素有用原子吸收光谱法[1 ,2 ] ,其中磷元素质量分数小于 5× 1 0 - 3% ,是化学分析法和原子吸收光谱法均难以解决的。本文研究了用 ICP- AES法 ,在同一份溶液中同时测定磷、铁、钙、铝、铜、钒和钛杂质元素 ,其中磷的检出下…     

高纯钨酸钠中痕量杂质元素的共沉淀分离和ICP—AES测定

提出了以氢氧化镧为共沉淀剂，对高纯钨酸钠中痕量金属杂质元素（钙，镉，钴，铜，铁，锰，镍，锌）进行了共沉淀分离富集后以ＩＣＰ－ＡＥＳ法进行测定的方法，ｐＨ１２时，用１０ｇ．Ｌ＾－１镧溶液６ｍｌ进行两次共沉淀，能使杂质元素定量分离回收，钨酸钠残留量降至很低水平，试样测定结果表明，各元素回收率在９２．４％～１０４．８％之间，相对标准偏差为１．８％～６．９％。     

ICP－AES测定钯－钡合金中常量钡

本文采用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定钯－钡合金中常量钡。考察了基体及无机酸的存在对钡发射线强度的影响。采用标准曲线法对含量分别为０．５９％和２６．０４％的两个试样进行了测定，结果满意。     

ICP—AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置，试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法，已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

ICP-AES法同时测定电铜中九种杂质元素

电铜中微量杂质元素的测定对电铜质量控制十分必要。以往测电铜中微量元素的方法有石墨炉原子吸收光谱法、吸光光度法、电弧粉末发射光谱法等 ,这些方法不同程度地存在缺陷 [1,2 ] 。鉴于 ICP-AES法技术上的逐步成熟 ,本文采用电解法除去主量铜 ,用 BAIRD PS- 6型多道等离子体发射光谱仪测定残液中九种元素 ,方法简便、快速 ,结果准确 ,可用于日常分析。1　试验部分1 .1　仪器与试剂BAIRD ICP2 0 0 0 /PS- 6多道等离子体发射光谱仪单元素标准储备溶液 :分别用光谱纯金属配成1 mg· ml-1溶液 [硝酸 (5 95)介质 ]九种元素混合标准溶…     

ICP—AES法同时测定人体牙,骨中多种生命元素

本文研究了基体干扰情况，使用基体匹配标准溶液，并酚对样品进行不同倍率的稀释，分步测定了十二种常量、微量生命元素。方法简便，结果可靠。     

ICP—AES法直接测定纯氧化钆中十四个稀土杂质

试验采用色散率较小的国产等离子体光谱仪直接测定纯氧化钆中14个微量稀土杂质。用正交设计对ICP工作参数进行了最优化选择;研究了基体效应、共存元素干扰及基体浓度对元素的固体检出限的影响;用经验系数法对受干扰的元素进行实验校正。