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高纯钨酸钠中痕量杂质元素的共沉淀分离和ICP—AES测定 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了以氢氧化镧为共沉淀剂,对高纯钨酸钠中痕量金属杂质元素(钙,镉,钴,铜,铁,锰,镍,锌)进行了共沉淀分离富集后以ICP-AES法进行测定的方法,pH12时,用10g.L^-1镧溶液6ml进行两次共沉淀,能使杂质元素定量分离回收,钨酸钠残留量降至很低水平,试样测定结果表明,各元素回收率在92.4%~104.8%之间,相对标准偏差为1.8%~6.9%。 相似文献
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ICP—AES法测定陶瓷材料氮化硅中十三种杂质元素 总被引:2,自引:3,他引:2
采用超声波雾化进样,ICP—AES法对氮化硅中十三种杂质元素的测定进行了试验研究。取样量1g时,铝、钙、钴、铬、铜,铒、铁、镁、锰,镍、钛、钒和锌的测定范围为0.1~12.8μg·g~(-1),回收率为93%~110%,RSD(n=8)为0.8%~3.2%。 相似文献
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建立了石墨炉原子吸收法测定肼类推进剂中锌、铁、铬、锰、铅、镍、铝、铜、钛等金属含量的检测方法,无需样品预处理过程,灵敏度高且快速、准确。各元素测定方法的精密度小于10%,回收率在82%-116%之间。 相似文献
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提出了使用电感耦合等离子体质谱法同时测定纯金中银、铜、铁、铅、锑、铋、钯、镁、锡、镍、锰、铬、砷13种杂质元素的分析方法。采用王水处理样品,以铑作为内标元素,不用分离基体,以王水作为测定介质,在最佳的仪器工作条件下直接测定。铁、铜、铅、锑、铋、钯、银、镍、镁、砷、锡、锰、铬的检出限分别为:1.80,0.86,1.23,0.90,0.26,0.39,1.05,0.33,1.61,2.30,1.15,1.05,0.89ng/mL,回收率在98.6%~102.8%,相对标准偏差(RSD,n=6)为1.0%~3.0%。方法具有灵敏度高、检出限低、干扰少、不用分离基体、分析速度快、能够进行多元素同时分析等特点,特别适合于生产企业的质量控制分析。 相似文献
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ICP—AES法测定长石中杂质元素 总被引:3,自引:0,他引:3
长石作为陶瓷工业生产的主要原料,它的主要成分是二氧化硅,其杂质含量不等,但杂质的存在将影响产品的质量。目前,长石中铁、铝、钙、镁、钛的测定没有国家标准,所采用的方法均为化学法,较繁琐。JIS M 8853-76方法中,测定铝、铁、钛方法需进行分离测定,步骤较复杂,ICP-AES法同时测定长石中铁、铝、钙、镁、钛元素,未见报道。本文通过试验,提出了用ICPA—AES同时测定长石中铁、铝、 相似文献
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铸铁中硅、磷、钼等九种元素的ICP-AES测定 总被引:2,自引:0,他引:2
采用ICP-AES对铸铁中硅、磷、钛、钼、镍、锰、铬、铝和铜杂质的测定进行了研究。考察了铁对待测元素的干扰情况,发现铁对铜有光谱尾翼干扰,干扰系统为1.0×10-5。采用不同的酸溶解样品时,硅的测定结果有显著的差别。 相似文献
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电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硼等13个杂质元素 总被引:6,自引:0,他引:6
研究了纯硅中微量和痕量杂质元素铝、钙、铁、锰、磷、铬、铜、镍、钛、钒、锆、砷和硼等电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP—AES)的同时测定方法,样品以硝酸、盐酸和氢氟酸挥硅处理方法,在样品处理过程中,加入适量的甘露醇能够抑制硼的挥发。在优化选定的仪器条件和介质中测定纯硅样品和纯硅标准样品。纯硅样品中13个杂质元素的回收率均在92.0%~105.09/6之间,相对标准偏差均小于5.0%。 相似文献