荧光材料的色度测定

介绍荧光材料发光的辐射特性及总光谱辐亮度因数的组成，对单单色仪法及双单色仪测量荧光样品进行比较分析。讨论了测量系统的几何形状、标准照明体及参考标准对光谱测量精度的影响。     

外推法测定半导体材料的折射率

利用半导体激光器，根据菲涅耳公式及折射定律，测量了部分半导体材料的复折射率的实数部分．     

测定材料线膨胀系数的新方法

本文提供的测定材料线膨胀系数的新方法,步骤简便,费用低,在普通的光学实验室即可圆满完成。由光学平玻璃板A、B与待测材料制成的细丝C构成空气尖劈。用光照射尖劈,测得C在常温与高温时的干涉条纹宽度x_1、x_2及高温t_2,即可由公式=x_1~2-x_2~2/t_2(3x_2~2-x_1~2)计算出C的线膨胀系数α     

测定材料的缓冲防震性能

利用力学、机械传感器研究了不同缓冲材料与其他物体碰撞过程中瞬时作用力及其与碰撞初速度之间的关系,得到了材料的缓冲防震性能的动态变化曲线,并通过改变同种材料的厚度,发现该材料对缓冲作用的不同响应,并得到了一定材料在防震中的最佳缓冲厚度.     

测定固体材料物理量的光学方法

本给出了用光学测量固体材料物理量的三种方法,并对其不同结果进行比较。其光纤测量方法结果误差最小。     

测定材料逸出功的一种新方法

本文报道了一种测定材料逸出功的新方法,二次电子发射-接触电位差法(简称SEE-CPD法)。用该法对Ni,Al,Au和Mo四种纯金属的逸出功进行了测量,并与Fowler等温法和Kelvin的接触电位差法比较,结果是一致的。表明SEE-CPD法在理论上是正确的,在实际应用中也是成功的。 关键词：     

高温超导薄膜材料的非破坏组份测定

本文叙述二种用于测定沉积在钛酸锶基片上的超导薄膜组份的方法:(1)多标法,用一组纸片标准样品,解一组方程,(2)基本参数法,只需一个纸片标样.二法均简便易行,标准试样容易制作.测定时不必破坏试样.此法不但适用于钇系超导薄膜组份的测定,本法原理亦适用于铋系,铊系等其他体系的超导薄膜组份测定,并能快速地配合科研与生产.     

一种精确测定材料线胀系数的新方法

1引言 一般物体都具有“热胀冷缩”的性质．材料的线膨胀是指材料受热膨胀时，在一维方向上的伸长．线胀系数是衡量材料的一项重要指标，在工程结构和机械、仪器、仪表等的设计制造中，都必须考虑，否则将影响结构的稳定性和仪表的精度，甚至会造成工程结构毁坏、仪表失灵以及材料加工中的缺陷和失败等等，给科研、生产造成巨大损失．特别是研制新材料，例如航空、航天等高科技领域，对材料线胀系数的要求非常严格．测定材料线胀系数的传统方法有光杠杆放大法、拉伸法等，但这些方法有很大的局限性，测量精度都不高．     

固体材料在高温下的杨氏模量的测定

前　言 目前各高等学校的普通物理实验中,几乎都开“金属材料杨氏模量的测定”这个实验.它是将力加在试样上,测出相应的应力和应变,从而计算出杨氏模量来.这种方法属于静态法通常用于大变形和常温下的测量,它的缺点是由于载荷大、加载速度慢.含有弛予过程,它不能很真实地反映材料内部结构的变化.对脆性材料也难以用静态法测量,也不能测量高温下材料的杨氏模量.本文介绍的动态法可以克服上述缺点,具有实用价值[1]。 本实验的基本方法是将一根试样(圆棒或矩形棒)用两根悬线悬挂起来并激发它作横振动,在一定条件下试样振动的固有频率取决于它的…     

金属多晶材料择尤取向的快速测定

金属多晶材料由于经过各种冷加工机械处理,其晶粒往往呈现一种择尤取向的趋势．其择尤取向的测定,过去采用古典的Ｘ射线针孔法[１］,现在可以采用衍射仪法测定其面指数及其分布规律,并绘出其极图．但此设备目前为数还不多,尚不能普及应用于一般的检测．作者对采用目前工厂中比较普遍应用的Ｘ射线定向仪直接测定金属择尤取向的方法进行了反复摸索,并取得了较好的应用效果．一、实验方法判别晶体材料（包括金属）是多晶还是....     

硫化锌发光材料中硫锌比的测定

前言 发光材料中缺陷的存在影响晶体对杂质的溶解度及杂质在晶体中的分布,因而与发光性能有着一定的关系,硫化锌发光材料中硫锌比的偏离使晶体产生缺陷,故硫锌比的准确测定对于硫化锌发光材料的研究及发光机理的探讨都有着极其重要的意义。     

对动力学法测定材料弹性模量实验的研究

简要分析了动力学法测定材料弹性模量实验在理论推导中存在的困难,讨论了实验中悬丝的材料、直径等影响因素,并提出相关建议;同时对利用李萨如图形判断共振频率的方法做了介绍和说明.     

一种玻璃材料内应力精密测定的方法

针对玻璃材料内应力的测量,提出了一种采用磁光调制技术,进行高准确度的应力双折射检测的新方案.该方法原理简单、测量准确度高.采用琼斯矩阵法分析了该方案的理论推导,并提出了当被测量样品较大时,提高测试效率的两种可行方法.     

激光晶体材料小角发散能量分布的测定

本文指出了测定激光晶体材料小角发散能量分布的意义,介绍了小角发散测定仪的测量原理及测量方法,并结合对四个样品的实际测量,说明了仪器的实用价值。     

多种方法测定密度小于水的固体材料密度

阐述数种测定 ρ<1固体密度的方法 ,按照一定格式 ,从基本思想到分析讨论各方面顺序进行讨论     

碲材料中钠,钾杂质成份的测定

本文揭示了钠、钾受基体元素碲干扰的现象和分析系统中酸度对钠、钾吸光度的影响,在理论上探讨了碲对钠、钾干扰的原因,利用加入盐酸和铝元素的方法分别排除碲对钾、钠的干扰,提出一个方便,实用的测定方法,回收率和RSD分别为95-102%和7.4%。     

螺栓材料应力与声速、温度关系的测定

基于应力－超声波速度关系方法已用于螺栓轴向应力的测量。而声速与被测材料的许多物理因素有关，如弹性模量，密度与温度。本文介绍了用于分析超声波速度－应力－温度三者关系的实验与计算方法，并给出了三种金属材料的结果。检测的质量。     

霍尔式微位移传感器与材料线膨胀系数的测定

线膨胀系数是材料的一个重要参数，准确而且简捷地对其进行测量，具有现实意义．本文将从霍尔式微位移传感器出发，提出一种新的线膨胀系数测量的方法．一、霍尔位移传感器工作原理霍尔元件置于磁场中，在一定电流的激励下就可以产生霍尔电势UH＝KIB如果保持霍尔元件的激励电流不变，而使其在一个均匀梯度的磁场中移动时，则输出的霍尔电势只决定于它在磁场中的位移量，据此，即可对微位移进行测量．均匀梯度磁场的产生机理如图1所示．选用两块相同的磁性材料（一般选用秋铁硼材料），磁极相对而放，两磁极之间留一空隙，霍尔元件水平放于…     

分光光度法测定铋系超导材料中钙

在pH=10.6的NH3-NH4Cl缓冲溶液中,钙离子和酸性铬蓝K显色,于498nm波长处以试剂空白作参比,测定该显色液的吸光度。建立了铋系超导前驱粉(Bi2Sr2Ca2Cu3Ox)中直接测定钙含量的方法。试样中大量存在的锶不干扰测定,用柠檬酸溶液作掩蔽剂,消除了铜的干扰。ε=9.0×103L·mol-1·cm-1,Ca在0—50μg·25mL-1范围内吸光度和浓度有良好的线性关系,回归系数r=0.9994。对合成样品进行6次测定,相对误差为-0.93%。对两种实际样品分别进行6次测定,RSD分别为1.63%和1.19%。     

Origin在不同材料导热系数测定中的应用

针对导热系数测定实验中数据处理不准确的问题,对牛筋、橡胶、铝三种不同材料在自然冷却和风扇冷却条件下的导热系数进行了测量,利用Origin软件进行分析比较表明,用二项式拟合和指数拟合即可得到较高的相关度,并且材料的导热系数与降温方式无关。