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设有由K个成败型元件A1,A2,…,AK组成的串联系统,设A1,A2,…,AK之间有相依关系,要A1成功的条件下A2才可以试验,在A1,A2,都成功的条件下A3才可以试验,…在A1,A2,…AK-1都成功的条件下Ak才可以试验,设条件概率P(Ai│A1A2…Ai-1)pi,pi未知,i=1,2,…,K。设有样本(X1,X2,…,XK)(X≥X2≥…≥XK),本文用样本点排序法求此串联系统可靠性之经 相似文献
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项志华 《数理统计与应用概率》1994,9(3):99-103
当试验次数为n,成功次数介于X1,X2时(X1≤X2)。本文给出了在这种不确定数据下成败型元件的可靠性P的极大似然估计和精确置下限,对于由成败型元件组成的串联和并联系统,本文也给出了在不确定数据下,系统可靠性的精确解。最后讨论了极大似然估计的某些性质。 相似文献
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基于元件的随机定时截尾寿命试验数据 ,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限 ,给出了数字例 . 相似文献
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郑海鹰 《高校应用数学学报(A辑)》1993,(2):222-230
对于样本点是离散的情况,可用对样本点排序的方法确定可靠性置信下限,排序有很多种,有L-P排序、序贯排序、极大似然估计排序、修正L-P排序等。本文提出一种具有直观合理性的新的排序方法,计算指数寿命型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限。 相似文献
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基于元件的随机定时截尾寿命试验数据,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限,给出了数字例。 相似文献
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本文对于两个独立双参数指数分布元件组成的并联系统,基于两个元件的定数截尾数据,利用Weerahandi给出的广义枢轴量和广义置信区间的概念,建立了可靠性的广义置信下限,并从理论上研究了广义置信下限的频率性质.广义置信下限可以通过数值方法得到,计算方法是简单直接的.在小样本情形下,通过与Bootstrap置信下限的模拟研究,发现广义置信下限的覆盖率更令人满意. 相似文献
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盛骤 《高校应用数学学报(A辑)》1991,6(1):96-99
本文根据成败型元件和系统两者的试验数据来估计串联系统可靠性的置信下限。首先根据元件和系统两者的试验数据,求出系统可靠性的极大似然估计,然后按L-M(Lindstrom-Madden)法给出系统可靠性置信下限的近似值,并提供了数字例子。 相似文献
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对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限 总被引:3,自引:0,他引:3
本文给出了基于一次性检测数据的对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限的方法,并对得到的近似置信限的精度作了讨论,结果表明精度符合要求。本文还给出了数字例子。 相似文献
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基于分布矩拟合的原则,给出小子样二项分布成功率P的置信下限的一种计算方法,通过与经典置信下限及reformualtion方法计算的置信下限进行比较,得出分布矩拟合方法计算的置信下限是合理和可信的. 相似文献
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本文利用Bayes方法讨论了正态——正态结构串联系统可靠度θ=Pr0(X>Y)的估计问题,把θ的后验均值作为它的点估计,在特殊情况下,还得到了θ的Bayes置信限。 相似文献
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对于定数截尾样本,给出了基于极值分布的位置和尺度参数的最好线性无偏估计(BLUE),获得了威布尔分布的可靠度的点估计和置信限之间的回归模型,从而可由威布 尔可靠度的点估计根据回归方程得到可靠度的置信下限,省去了大量的用表,为实际工作者带来了极大的方便,计算结果表明,回归方程有很高的精度。 相似文献
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对于Lincoln-Petersen模型,基于捕获-再捕获方法得到的数据,我们给出了群体大小的置信限和置信区间的有效计算方法. 相似文献
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依据 AMSAA模型利用某型航空火控系统各组成单元的研制阶段试验数据并基于遗传算法确定出单元的时间环境折合系数 ,进而求得各单元 MTBF点估计和置信下限 ,最后利用 L-M法给出该系统可靠度置信下限值 .研究结果表明 ,由此得到的系统可靠性评估结果与依据设计定型后实际使用数据统计得到的可靠性水平相接近 ,应用该方法进行系统可靠性评估能较好地满足工程上的需求 . 相似文献