一种污染物检测装置和方法

本发明公开了一种污染物检测装置,包括：比色皿,用于放置待测样品;测量光发射单元,用于向所述待测样品发射测量光;光检测器,用于接收透过所述待测样品的测量光,并将所述测量光转换为电信号;污染物分析单元,用于根据所述测量光的波长和光检测器转换后的电信号,获取所述待测样品中的污染物类型及所述污染物的含量;电源,用于给所述污染物检测装置的各单元供电。     

具有检测器窗保护特征的X射线分析装置

公开号:CN102890096A公开日:2013.01.23申请人:奥林巴斯NDT公司具有检测器窗保护特征的X射线分析装置。X射线荧光(XRF)仪包括保持辐射发射器和辐射检测器的手持式     

X射线荧光分析古钱

在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确     

新一代多道X射线荧光分析仪的研制

介绍的新一代 2 0 4 8道X射线荧光 (XRF)分析仪是以Amptek公司研发的Si PIN电致冷半导体探测器为X射线探测器 ,以放射性同位素源为X射线荧光激发源 ;采用 16位高速ADC以及最新推出的EZ USB系列控制器来架构多道脉冲幅度分析器 ;主机采用超薄型简化配置的笔记本计算机 .在野外或室内无液氮冷却的条件下都能够实现对矿物等待测样品的测定 ,且一次可以对十余种元素进行定性、定量分析。其检出限能够达到 1～ 2× 10 -4,分析精度可达 2 %～ 8% .     

化学-X射线荧光分析

X 射线荧光分析是材料组成控制分析的最有前途的方法之一。其特别值得重视的优点是:可测定的元素数目及其含量范围广;测定的重现性好、快速,同时可以不破坏固体和液体样品;分析信号与待测元素含量间的定量关系较简单;这种方法可被用于生产部门的自动分析控制系统。X 射线荧光分析法的缺点有:元素的检出限(c_(min.p)≥10~(-3)%)高;检出限与相对标准偏差(Sr)和基体效应关系密切;计算分析样品的均匀性对分析信号的影响,是一项极其复杂的任务;难以制备出多组分的标准样品或参比样品。为了改善(降低)其检出限,在提高有效信号与背景比值的基础上,曾提出过若干新的 X 射线荧光分     

X射线荧光光谱法测定铝合金及纯铝中痕量元素

根据X射线荧光光谱法分析样品形状要求,按照待测物料形状,适合于X射线荧光光谱测量的棒状类样品用车床车割,块、片状类样品用锯、锉刀处理,屑类样品首先用液压机压成片状,再用锉刀处理成适合于X射线荧光光谱分析的待测样品.测试了铝合金和纯铝中铁、硅、铜、镓、镁、锰、锌、钛和铬的含量,对于测量不灵敏的镁,每次测试带全套标样,峰值计量,单独为组测量可保障其准确度.基体单纯、固定的样品,测量痕量元素含量时峰值强度计量优于扣除背景的净强度计量,可避免背景测量误差,测量结果与直读光谱法相符.9项元素的精密度均优于3%.     

用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数

在X射线荧光分析中,如果待测样品是一个较为复杂的未知体系,则在考虑样品对X射线的基体效应时,需要确定样品的原子序数。一些作者用实验方法测定了等效弹性散射和非弹性散射强度与原子序数的关系曲线,由此可以定出等效原子序数。     

专利

一种不锈钢样品全元素分析方法公开号:CN102359972A公开日:2012.02.22申请人:山西太钢不锈钢股份有限公司一种不锈钢样品全元素分析方法,属于冶金分析领域,它分别用直读光谱法和X射线荧光法分析C,Si,Mn,P,S,Cu,Al,Mo,V,Ti,Co,As,Sn,Pb元素,将直读光谱法分析结果与X射线荧光法分析结果进行相关性处理,在X射线荧光分析仪中添加C,Si,Mn,P,S,Cu,Al,Mo,V,Ti,     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

专利

一种光谱分析样品的定位装置公开号:CN201935864U公开日:2011.08.17申请人:东莞市亿铖达焊锡制造有限公司摘要:本实用新型公开了一种光谱分析样品的定位装置,用在光谱分析仪的工作台上,其中包括一定位板;在定位板上设置有缺口;缺口的侧面为平面。由于采用了在定位板上设置有缺口,通过缺口的侧平面定位在分析面的圆形外壁上,由此在分析时,配合试样的待分析面的圆形棱边与阳极的圆     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

X射线荧光光谱法同时测定涂料中的铅、铬、硒和钴

提出了用X射线荧光光谱法同时测定涂料中有害重金属铅、铬、硒和钴的一种新的测试方法. 考察了样品量不同和样品粒度不同对待测元素测试结果的影响. 选用不含待测元素的新鲜涂料作为基体物质制备标准样品, 较好地消除了基体的影响. 各待测元素在50～1000 mg/kg的范围内, 均呈线性关系;Pb、 Cr、 Se、 Co的检出限分别为3.6、 1.2、 0.5及1.5 mg/kg;方法精密度和仪器精密度的相对标准偏差分别低于1.3%和0.50%;用于实际样品测得的结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法法测得的结果基本一致.     

一种测定聚碳酸酯中金属元素含量的方法

<正>公告号:CN104880454A公告日:2015.09.02申请人:鲁西化工集团股份有限公司摘要:本发明公开一种测定聚碳酸酯中金属元素含量的方法,主要包括以下步骤:(1)样品的湿法消解处理:向待测聚碳酸酯样品中加入硫酸溶液后,进行第一阶段加热,待溶液变为黑色时,进行第二阶段加热,同时加入双氧水溶液,待溶     

基于蒙特卡洛方法的X射线探测器能谱响应研究

为解决X射线荧光测量过程中的仪器刻度和校正难题,通过理论研究并运用蒙特卡洛方法对X射线荧光仪进行建模,得到了X射线探测器能谱响曲线。结果表明:模拟的X射线探测器能谱响应全谱与实测情况基本一致,而主成份谱线则高度一致,特征峰半高宽相对误差均在5%以内。方法为X射线荧光测量的仪器刻度和校正提供重要的研究信息,不仅为元素分析工作节省大量人力物力,也为无标样X射线荧光分析提供了有力的理论支撑。方法也可用于X射线荧光分析过程中的其他研究领域。     

一种食用油中邻苯二甲酸酯类塑化剂的检测方法

<正>公开号:CN104698109A公开日:2015.06.10申请人:中国科学院长春应用化学研究所摘要:本申请属于化学分析领域,尤其涉及一种食用油中邻苯二甲酸酯类塑化剂的检测方法。本申请提供的检测方法包括以下步骤:(1)食用油待测样品、甲醇和碱进行反应,得     

古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用

本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF_2、CaCO_3、S、Fe及SiO_2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

一种检测微量苯的气体检测系统

<正>公开号:CN103439380A公开日:2013.12.11申请人:浙江工商大学摘要本发明涉及检测装置领域,尤其涉及一种检测微量苯的气体检测系统,该系统包括气室,气室内设有气体传感器,气室外设有与气体传感器相连的CHI电化学分析仪以及与气室相连的传感器还原装置、待测气体进气口和尾气处理装置;所述气体传感器包括自上而下依次分布的气体敏感膜、第一电极和第二电极,第二电极由铝板经阳极氧化制备而     

X射线荧光光谱法测定农田底泥中8种元素

建立X射线荧光光谱法测定农田底泥样品中砷、铬、铜、锰、镍、铅、锌、铁8种元素含量的分析方法.以塑料环粉末压片法制样,选用50种土壤、水系沉积物标准物质拟合校准曲线,探讨各元素的测定条件.当待测样品与建立校准曲线的标准样品粒径均小于75μm时,能够有效减少矿物效应和粒度效应的影响,从而提高检测准确度;各元素在各自的含量范...