天空光辐射亮度测量系统设计

天空光辐射亮度是大气光学特性的重要参数之一,在空间目标探测与识别中有着重要作用。为了获取天空光辐射亮度,评价光电系统探测跟踪空间目标的能力,设计实现了一套天空光辐射亮度测量系统,详细介绍了光信号收集和信号探测部分的工作原理,及系统所应用弱辐射信号探测、辐射计量等关键技术。通过该套测量系统的初步应用及对测量结果分析表明:利用该套测量系统能够准确获取天空光连续光谱(光谱范围从380nm～1100nm)数据,为应用研究提供了更多的光谱信息。     

荧光粉相对亮度测量的色修正

由于很难将光接收器的相对光谱灵敏度S(λ)调到与CIE标准观察者V(λ)完全一致,不同荧光份又具有不同的相对光谱功率分布,因此测量荧光粉的相对亮度与测量其它光度量一样,必须进行色修正。本工作针对实际使用的光接收器和相对光谱功率分布不同的几种荧光粉的相对亮度计算了色修正系数。     

北京谱仪积分亮度测量的新方法

介绍了利用e⁺e^－对撞中双μ产生和双γ产生两种QED过程来测量积分亮度的新思路.前者的特色在于用单根径迹选择双μ事例,后者则是首次利用双γ事例测定亮度.两种方法分别用于1998年春季北京谱仪(BES)R值扫描6个能量点的积分亮度测量,所得结果的误差分别小于8.0%和7.5%,在误差范围内与大角度巴巴事例积分亮度值一致.     

面阵CCD用于目标亮度的测量

介绍采用专用ＣＣＤ摄像机获取信号、微机控制和处理数据的远场亮度分布测量系统，并给出实验结果。     

粉末场致发光屏亮度的测量

Ⅰ.测试原理和方法一、原理和方法概述:1.照度测试入射在被照射物体单位面积ds上的全部光流dE称为照度A。     

天空背景辐射亮度测量与研究

天空背景辐射亮度在空间目标探测与识别中有着重要作用,为了对其进行研究,介绍了天空背景辐射参数测量系统,与法国CIMEL公司研制的CE318太阳辐射计进行对比实验,取得了较好的一致性。利用天空背景辐射参数测量系统,在空间某目标过境时段,对其运行轨道上的天空背景辐射亮度参数进行了测量,通过对数据分析与研究,初步得出了该空间目标过境时段轨道上的天空背景辐射亮度参数变化特征,为应用研究提供了重要信息。     

R值扫描中积分亮度的测量

在R值扫描中利用大角度Bhabha事例测量积分亮度,较之以往的同类过程积分亮度的测量,在事例选择和探测效率的确定方面都作了较大的改进. 用不同的测量方法对本文的结果进行了检查,发现几种结果在误差范围内是一致的. 但本文的测量优化了事例选择条件,所以在一定程度上改善了系统误差.     

成像法测量积分球的亮度均匀性

为测量某项目中经过投影物镜观察到的胶片位置处的亮度均匀性,设计采用了成像式亮度测量方法,该方法能够获得整个辐照面的相对亮度分布,较传统的采用光辐射计、光电池等采点取样测量方法便捷经济,采用成像式亮度测量方法测量得到的不均匀度为4.24%,与采用光辐射计测量得到的不均匀度3.92%基本一致,相对误差仅为8.16%,该方法可以推广应用于太阳模拟器均匀性检测及场馆均匀照明检测等方面。     

发光二极管(LED)亮度与效率的测量

有一光源A向四周发射能量,在每单位时间内通过某个面积的能量流称为辐射通量p,单位是瓦。同样是一瓦的光,但波长不同,引起眼睛的视觉并不一样。譬如眼睛对5550A的光最敏感(明视觉,即亮度要大于毫朗伯≈1呎朗伯,LED亮度比这亮,能满足这个条件)。我们取此处的视觉灵敏度Φ5550A=1,则其他各处视觉不灵敏,故φλ<1。实际上在λ=5550A处一瓦的功率全变成光功率E_(5550A)(单位流明)为680流明,即光功当量K_m=680流明/瓦,其他各处一瓦只能变成小于680流明,即     

针对天空背景亮度测量的弱信号检测

天空亮度分布在大气光学领域有着重要的应用.随着天空亮度测量仪器的迅速发展,对测量的精度和工作稳定性的要求也越来越高.为了提高测量仪器的动态测量范围,需要实现对探测器输出的弱信号的高精度测量.讨论了用高精度运算放大器对弱信号进行放大滤波处理,并采用一种低噪声高精度△-∑型模数转换器(ADC)来解决探测器中弱信号高精度测量...     

常温物体表面真实温度的亮度法测量

本文给出了用红外测温仪直接测定常温物体表面真实温度的方法和实验结果,并对直接用红外测温仪的温度读数来计算环境辐射等效黑体温度T_B及目标的比辐射率ε进一步加以说明。 关键词：     

强流脉冲电子束发射度和亮度的测量

介绍了用多孔板—荧光屏与双孔准直器—Rogowski线圈相结合的方法,测量强流脉冲电子束发射度与亮度的实验研究工作。利用摄像机及图象数据微机处理系统,实现了实时测量。对国防科技大学的81—7M—O1强流脉冲电子束进行了实际测量,得到了其非规一化的边发射度为361cm·mrad,亮度为1283A·cm~(-2)·rad~(-2)的初步结果。     

电子束亮度及多孔板法测量发射度的原理

本文探讨了利用多孔板法测量四维横向相空间中均匀分布以及高斯分布的电子束发射度的测量原理。结果表明,对于四维均匀分布的电子束,该法测量的是电子束的边发射度,并且光斑尺寸随着小孔位置不同而变化;对于高斯分布的电子束,该法测量的是电子束的均方根发射度,其光斑尺寸与小孔位置无关。     

三代微光像增强器亮度增益测量装置

 微光像增强器是微光夜视仪的核心器件,它是微光夜视整机性能和价格的决定因素。微光像增强器是在微弱的光线下工作的 ,因此必然是光能放大器。亮度增益是评价微光像增强器光电性能的一个重要参数,它直接影响了微光整机的性能,因此,对像增强器的亮度增益测试技术的研究具有重要意义。文中介绍了三代微光像增强器的亮度增益测量原理和装置,并对测量结果进行了不确定度评定。     

光条亮度对线结构光测量精度的影响

光条中心的提取精度直接影响线结构光传感器最后的测量精度,而光条亮度是影响提取精度的主要因素。提出了光条中心提取精度的评价方法,通过实验获得光条亮度与光条中心提取精度之间的关系曲线;为了在实际测量中能获得最佳光条亮度(对应最高的提取精度)设计了基于D/A转换的光条亮度自适应调节电路。实验结果表明:光条过暗或过亮都会使线结构光传感器的测量精度降低,在测量不同颜色的表面时通过光条亮度的自适应调节均可获得最高的提取精度。     

北京谱仪s=3.650,3.686GeV数据样本的积分亮度测量

利用Bhabha散射过程测定了北京谱仪(BESⅡ)在2002年和2003年收集的质心系能量s=3.650,3.686GeV数据样本的积分亮度为(6.42±0.24)pb^-1和(19.72±0.86)pb^-1.这些结果为此两能量值处的各种过程的反应截面测量提供了必需的基本参数.     

基于三波段光学成像系统的地物辐亮度系数测量

为了对地面目标的辐亮度系数进行测量,研制了一套包含紫外、可见光和近红外三个波段的光学成像系统,用积分球对其辐亮度响应进行标定,得到辐亮度与图像灰度值和探测器积分时间的拟合方程。提出了一种地面目标辐亮度系数测量方法,采用两块不同辐亮度系数的漫反射板作为参照物,建立辐亮度方程组,最终求解得到的目标辐亮度系数表达式中将不含气象参数项。利用研制的三波段光学成像系统,对绿草地的辐亮度系数进行测量,使用辐亮度系数分别为0.99、0.50、0.20、0.10的四块漫反射板,测得草地的紫外、可见光和近红外波段的辐亮度系数分别为0.070、0.184和0.429。     

大角度巴巴散射和双μ产生的研究与亮度测量

利用北京谱仪(BES)在S=4.03GeV下正负电子对撞数据,研究了巴巴和双μ事例的QED过程.结果表明,实验数据在误差范围内同QED预言较好地一致,且从e⁺e^－和μ⁺μ^－末态测出的两亮度值在4%范围内相互一致.计算给出:BES在该能区获取数据的总积分亮度为23.1pb^－1.