X射线荧光层析

X射线荧光层析技术是利用内壳层电子跃迁所发出荧光辐射,来测定样品中的元素含量,获取样品内部的结构信息。Wolter型掠入射镜装置的元素灵敏度可以达到100个原子／cm^3,空间分辨率达到微米量级。结合康普顿散射和吸收层析进行成像可使其图像质量得到进一步的提高。而当获得了物体的投影数据以后,可采用各种重建算法来使物体得以准确重现。介绍了几种常用的重建算法,并就其特点进行了比较。     

软X射线成像光学技术的发展

成像光学系统的基本性能的要求是分辩率。根据成像原理,分辩率受光波衍射的限制。提高衍射极限分辩率的途径之一是减小波长。X射线光学成像是在这一指导思想下开始研究的,电子光学成像也是这样。而且这两种成像技术的研究,在历史上几乎是同时并进的。1895年伦琴发现X射线,1897年J.J汤姆逊证实了电子的存在;1923年康普顿证明了掠入射条件下射线在抛光金属表面可以像可见光一样反射、聚焦,1926年H。布希等证明了旋转对称静电场和静磁场可以使电子束偏折、聚焦和成     

实现电阻抗层析成象的交错算法

电阻抗层析成象（ＥＩＴ）是继ＣＴ，ＭＲＩ后又一种新的图象重建技术。本文在给出ＥＩＴ的数学物理模型的基础上，提出一种新的实现算法：梯度－记忆下降方向交错算法，与已有的ＥＩＴ算法相比，它具有收敛快、内部分辨力高、不依赖于初始值等优点。模拟计算表明该算法以相当高的精度收敛于真实解，即使在测量数据带有５％的平移误差和５％的随机误差时也是如此。     

光学相干层析成象技术基本原理

本文介绍了光学相干层析成象技术（ＯＣＴ），阐述了层析成象的基本原理，讨论了层析象的信息内容。     

直线模式下基于圆弧线投影层析成象的算法

本文探讨了感测器沿直线移动时由反射信号数据重建物体表平面或截平面图象的方法。文中推导了直线模式下基于圆弧线投影层析成象处理的基本关系式和快速实现算法,给出了一些计算模拟结果。本文的方法可应用于雷达对地面局部区域成象中,也可应用于反射式超声CT竖断面成象中。     

电阻抗层析成象（EIT）系统的研究

本文提出一种新的获取图象重建数据的系统，该系统通过在模型边界的３２个电极上注入多种组合方式的自适应电流，然后测量相应电极上的电压值，再经过特定的算法处理，得到重构图象。同时介绍了系统的数学模型及算法原理。     

一种新的基于敏感场变换的电容层析成象算法

本文提出了一种新的基于敏感场变换的电容层析成象（ＥＣＴ）算法,给出了敏感变换的公式和新的确定阈值的公式,计算机模拟的结果表明,经过改进以后的算法对各种相浓度分布的成象结果都有明显的改善,证明该算法较以前有较大进步。     

X射线的穿透深度

X射线的穿透深度对硬 X射线而言 ,穿透力是很强的。对于软 X射线 ,则几乎是不透明的 ,它随着波长的增加而减弱。 X射线的穿透能力对不同的物质相差也可达 10个量级以上     

X射线,软X射线和极紫外光学仪器的新概念和应用

本文回顾了目前用于极紫外、软X射线和X射线光学仪器的几项技术的研究进展情况。这些新概念的应用包括:高能等离子体的诊断、多电荷离子束和物质(原子、分子、离子、微结构、表面、固体)相互作用的光谱测量研究和生物医学X射线显微术等。各组件的     

X射线CT球管焦点研究

本文介绍了X射线CT球管的焦点设计思路、模拟结果和实际加电测试情况;并将实测结果与模拟结果进行了对比,两者误差较小,验证了设计方案的可行性。     

自动实时X射线检测技术在半导体制程控制中的应用

对X光检测的不同技术在半导体制程上的应用作了详细的介绍;着重讨论了全旋倾斜(off-axis)X射线技术的特点和优势。