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X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的12种成分 总被引:4,自引:0,他引:4
采用熔融制样法,用X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的常量、少量和微量成分SiO2,Al2O3,Fe2O3,CaO,SO3,TiO2,K2O,Na2O,P2O5,MgO,MnO,BaO。选用混合熔剂并加入氧化剂的方式降低熔融温度,解决了硫的准确测量问题。同时通过选用土壤等标准样品解决了煤灰成分标准样品不足的问题。应用可变理论α系数及固定α系数法进行基体效应校正,所得结果与化学法的分析结果相符合。 相似文献
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波长色散X射线荧光仪器进展 总被引:3,自引:0,他引:3
本文叙述了自1990年以来波长色散X射线荧光光谱仪及分析技术的最新进展,介绍分为波长色散X射线荧光分析仪的整机特点,设计思想的发展,新技术应用,计算机及软件发展和定性定量分析等部分。 相似文献
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X射线荧光光谱法检验标准物质的均匀性 总被引:5,自引:0,他引:5
X荧光光谱是检验标准物质均匀性常用的方法之一。制样和仪器的漂移是重要的误差来源。强度或表观浓度的测定误差通常小于浓度的测定误差。XRF分析中真正的取样量应是极限厚度内实际起作用的这部分样品。该数量符合一般标准物质均匀性检验的取样量。判断标准物质均匀性的关键是不均匀性误差的大小是否符合该标准物质对均匀性的要求。本工作为均匀性检验的数据处理编制了一个方便、实用的计算机程序。 相似文献
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掠射技术与X射线荧光分析 总被引:2,自引:0,他引:2
掠射技术引入X射线荧光分析成为一种新的材料及薄膜分析技术。运用此技术命同材料表面及薄膜的密度、厚度、界面粗糙度、成分的深度和剖面分布等各种信息,本文介绍了掠射技术在X射线荧光分析中的应用及近年来的发展和前景。 相似文献
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X射线荧光光谱分析的现状和进展 总被引:7,自引:1,他引:7
陈远盘 《光谱学与光谱分析》1995,15(2):103-111
本文综述了常规X射线荧光(XRF)、同步辐射XRF,全反射XRF和其他XRF等四个方面的XRF光谱分析的现状和进展。 相似文献
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ICP-AES测定铂金饰品抛光灰中铂、钯、金和银 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种 ICP- AES快速测定铂金饰品抛光灰中铂、钯、金、银的分析方法。 5 g样品经灰化处理后 ,王水提取 ,直接测定 ,该方法的检出限 Pt、Pd、Au、Ag分别为 4 6 .5、4 2 .3、10 .4和 5 .1ng·m L-1。回收率为94 .2 %— 10 3.5 %之间。相对标准偏差为 2 .8%— 4 .4 %。 相似文献
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ICP-AES法测定地质样品中的金 总被引:3,自引:0,他引:3
在 2 0 % (V/ V)王水介质中 ,用聚醚型泡沫塑料对金进行分离富集。以 1.0 % (W/ V)硫脲溶液解脱吸附在泡沫塑料上的金 ,解脱液中的金直接用 ICP- AES法测定。检出限为 0 .0 1× 10 -4 %。本方法简便、快速 ,用于测定地质样品中的金 ,结果与 AAS法相符 相似文献
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建立了王水溶矿-电感耦合等离子体-质谱法测定矿石中的常量金的方法。该方法加标回收率94.0%—102.0%,精密度RSD 1.66%—4.01%,与传统的分析方法相比:该方法简单、快速、实用。 相似文献
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金膜组分的ICP-AES法分析 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了在室温下用王水溶解金膜,ICP-AES法测定金膜组分银,铜,铁,铅,锑,铋等的方法,该方法简便,实测样品获得了满意结果。 相似文献
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FAAS法测定粗铜中的金 总被引:4,自引:0,他引:4
本文建立了用硝酸-硫酸预处理除去大量的铜,王水溶解,火焰原子吸收法测定粗铜中金的分析方法。确定了最佳仪器工作条件和样品处理方法。在优化的实验条件下,测定的精密度达到2%以下,与国家标准分析方法进行对照,结果无显著性差异。 相似文献