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扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱 总被引:3,自引:0,他引:3
本文评述了近年来发展起来的扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱的理论、实验及数据分析方法,对于EXAFS的应用作了介绍,也对EXAFS的优点、局限性及发展的相关技术进行了讨论。 相似文献
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介绍了在大型激光装置上进行扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱压缩物态参数测量的基本原理,以及为获得高质量EXAFS谱在神光Ⅲ原型装置上进行的实验研究。实验采用玻璃靶球、CH靶丸和金球作为EXAFS谱测量的背光源,通过多发次叠加、光子数累积的方法获得了信噪比良好的金属Ti在常温常压下的EXAFS谱,数据处理结果表明,实验测得的金属Ti EXAFS谱拟合结果与同步辐射实验拟合结果相吻合,表明实验设计的正确性与可靠性。对实验结果的分析表明,影响EXAFS谱质量的因素主要是光子计数、测量系统谱分辨率、噪声以及实验器件上的瑕疵。 相似文献
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介绍了在大型激光装置上进行 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱压缩物态参数测量的基本原理,以及为获得高质量EXAFS谱在神光III原型装置上进行的实验研究。实验采用玻璃靶球、CH靶丸和金球作为EXAFS谱测量的背光源,通过多发次叠加、光子数累积的方法获得了信噪比良好的金属Ti在常温常压下的EXAFS谱,数据处理结果表明,实验测得的金属Ti EXAFS谱拟合结果与同步辐射实验拟合结果相吻合,表明实验设计的正确性与可靠性。对实验结果的分析表明,影响EXAFS谱质量的因素主要是光子计数、测量系统谱分辨率、噪声以及实验器件上的瑕疵。 相似文献
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一、引 言 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)是一种新的结构分析方法[1].测定EXAFS要求的实验条件较高,数据处理与分析也较复杂[2,3].我们利用12kw转靶X射线源在衍射仪样品台上放置平晶作分光晶体,开展了EXAFS实验方法的研究.对有关的实验技术和数据处理等问题初步作了一些工作. 二、实验方法 EXAFS的测定来用透射法,测量经吸收体吸收前、后射线强度I0与I随能量的变化.应用Rigaku RU-200 12kW转靶X射线源及D/max-rA型X射线衍射仪.实验条件一般为:银靶20 kV,70—150mA,入射和散射狭缝取1/2—2 ,接收狭缝为 0.15mm,分光晶体为LiF(… 相似文献
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同步辐射光源是目前世界上最好的光源,用它测量EXAFS谱自然效果极好.然而由于它设备庞大而昂贵,无法普及到一般实验室.转靶X光机比同步辐射装置要简单和便宜得多,但这种光源的性能不如同步辐射,每次实验所需时间也长得多.本文要介绍的激光EXAFS谱仪是用激光打到金属靶上所产生的X射线脉冲作为光源,并用拍照的方法记录EXAFS谱.其设备更加简单和便宜,而且测得EXAFS谱所需时间极短.当然这种方法也有它的局限性和缺点,例如一般只适用于测量较轻元素的EXAFS谱.激光EXAFS谱仪的结构如图所示. 相似文献
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将累积量展开方法用于EXAFS数据分析,比通常所用的标样比较法求原子间距和配位数更为合理,而且精度高。本文给出了用累积量展开方法求结构参数的一般表达式,对GeO2玻璃的EXAFS数据实际进行了分析,并与一般方法的分析结果进行了比较。 相似文献
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本文对EXAFS方法在金属玻璃结构研究中所得径向距离的误差进行了分析。所做的模拟计算表明当前流行的关于这个问题的误差理论不能圆满地解释这一现象。本文分析了玻璃态和晶态的相移函数,指出在相似的体系中玻璃态和晶态相移函数与k的关系采用线性函数近似时,其斜率可能是不同的,而且无序度相差越大,两者的偏差可能也越大。在EXAFS数据处理过程中,没有考虑这种偏差的影响是造成EXAFS方法结果中径向距离误差的一个原因。本文还提出了一个修正参考样品(晶态)相移函数斜率偏差的方法,并将它应用于Cu55Zr45金属玻璃的EXAFS数据处理中,所得结果与用X射线异常散射方法测定的结果符合得很好。
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用转靶X 射线源及弯晶EXAFS 谱仪测定了价:Fe_80_B_20_及 Fe_80_Si_6B_14_ 金属玻璃中铁的X 射线K 吸收谱. 由EXAFS 谱确定了两种金属玻璃的近邻结构参量. 此外, 通过测定XANES 谱并与纯铁及其有关的化合物Fe_2_B , FeB 中铁的XANES 比较发现: 吸收边能量、“白线”结构等均出现一些变化, 表明两种金属玻璃的近邻原子Fe-B , Fe-s毛以及Fe-Fe 之间的相互作用比铁与硼所形成的稳定化合物中要强, 这对于决定金属玻璃的短程序结构具有重要的作用.
关键词: 相似文献
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Analysis of Local Structures around Ni Atoms Doped in ZnO-Based Diluted Magnetic Semiconductors by Fluorescence EXAFS 总被引:1,自引:0,他引:1 下载免费PDF全文
Zn1-xNixO (x = 0.001, 0.01, 0.02, 0.05 and 0.20) powders are prepared by sol-gel method. An extended x-ray absorption fine structure technique (EXAFS) for the Ni K.edge is employed to probe the local structures around Ni atoms doped in ZnO powders by fluorescence mode. The near edge EXAFS of the samples does not change in the range of Ni concentration from x = 0.001 to 0.05, which is consistent with the results of x-ray diffraction of the samples. The simulation results for the first shell EXAFS signals indicated that Ni atoms are substituted in Zn sites. 相似文献
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用转靶X射线源及弯晶EXAFS谱仪测定了Fe80B20及Fe80Si6B14金属玻璃中铁的X射线K吸收谱。由EXAFS谱确定了两种金属玻璃的近邻结构参量。此外,通过测定XANES谱并与纯铁及其有关的化合物Fe2B,FeB中铁的XANES比较发现:吸收边能量、“白线”结构等均出现一些变化,表明两种金属玻璃的近邻原子Fe-B,Fe-Si以及Fe-Fe之间的相互作用比铁与硼所形成的稳定化合物中要强,这对于决定金属玻璃的短程序结构具有重要的作用。
关键词: 相似文献
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本文就EXAFS研究非晶态合金原子近邻结构时曲线拟合数据分析中能量阈值调节参量对分析结果的影响进行了模型计算,并且提出了解决方法。 相似文献