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本文报导激光等离子体辐射X射线的测量方法和结果。在“星光”装置上,用1.6μm激光辐照Na/F和铜靶。用平晶谱仪测量等离子体辐射X射线绝对强度,并研究了辐射X射线强度与入射激光功率密度的关系,测量了靶前后辐射强度之比,为光电离机制的X光激光研究提供了较重要的数据。 相似文献
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在预作X光激光增益介质的中Z靶(象锗靶)中均匀掺人少量的低Z元素(象铝),利用后者的类氦谱线强度比确定了等离子体状态;同时还在PLTE近似下由锗线的强度比确定了等离子体状态,二者基本吻合。 相似文献
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通过分析中等Z元素激光等离子体辐射特性,本文获得了丰富的类氧,类氟、类氖等离子线谱、连续谱及谱与原子序数之间关系。 相似文献
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激光等离子体软X光源8—20nm光谱辐射研究 总被引:1,自引:0,他引:1
郭玉彬 《光谱学与光谱分析》1998,18(3):265-268
研制了了一种脉冲重复频率为10Hz的激光等离子软X射线源;傅波长0.53μm和波长1.06μm的激光脉冲,聚焦在不同的金属靶上,使之离子化。 相似文献
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在LF-12激光装置上,将500~600J、约1.5ns脉冲宽度的Nd玻璃激光聚焦成约120μm宽、20mm长的线作用到1mm厚的锗平面靶上。在靶室内设置具有空间分辨本领的平晶谱仪(测量波长范围在0.6~0.9nm)诊断锗等离子体状态。用2p-nd(n≥4)能级跃迁的类Ne离子谱线间的相对强度比估计等离子体电子温度在400~600eV。在实验中测到的线谱主要是类Ne GeXXⅢ离子产生的,类F GeXXⅣ离子产生的谱线次之,类Na GeXXⅡ离子产生的谱线比较弱。并且初步观察到线状等离子体轴向分布均匀性和横向离子分布特征。 相似文献
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详细介绍了XUV波段Gabor全息及位相恢复法去除Gabor全息孪生像的全部过程,分析了X射线激光Gabor全息术对等离子体和实验条件的要求,编程对全息图的制作、反演以及位相恢复法的全过程进行了模拟,并对三个模型进行了计算比较。 相似文献
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1.06μm波长的强激光束辐照Au材料制作的空腔靶,采用目前国内最先进的诊断设备。对腔内高温等离子体现象演变规律进行了实验观察,获得了反射激光、能量吸收、X光转换、亚千X光能谱及时空特性、辐射温度、超热电子等重要物理信息,并就实验结果作了必要的分析和讨论 相似文献
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X光激光在等离子体中的传播 总被引:5,自引:1,他引:5
由于等离子体柱中有垂直于轴向的电子密度梯度,致使X光激光在等离子体柱内传播时发生折射。折射效应限制了增益区的长度,采用“双靶对接”的实验方法,能有效地抑制折射的影响。本文从理论上阐述了折射效应对激光增益的影响相当于在小讯号增益系数上加了一个负项;并给出X光激光出靶端的强度角分布及偏离轴向的折射角;为“双靶对接”实验提供靶面的夹角值。理论计算结果与实验结果符合得很好。 相似文献
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用发射光谱测量激光等离子体的电子温度与电子密度 总被引:9,自引:9,他引:9
本文研究以Ar为缓冲气体,用Nd:YAG激光烧蚀固体表面的等离子体。用光学多道分析仪测量了等离子体的时间分辨发射光谱,用一组MnI谱线的相对强度计算了激光等离子体的电子温度,根据MgI和A1I谱线的Stark展宽计算了等离子体的电子密度。 相似文献
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本文描述在X光激光实验中用平晶谱仪测量类Ne锗离子L带线谱,首次借助于碰撞辐射模型,用L带特征线的强度所确定等离子体电子密度和温度。并用平晶谱仪配条纹相机测量等离子体的时间特性。 相似文献
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反射镜多靶串接增益饱和软X光激光实验 总被引:7,自引:0,他引:7
利用Mo/Si多层膜软X光反射镜实现了类氖锗软X光激光的双程放大,在顺接双靶总长28mm时,加与不加反射镜相比,软X光激光输出强度增强了40倍左右,已接近饱和;光束发散角减小,增益区厚度变薄,光束的空间相干性改善。当串接四靶总长为56mm时,加与不加反射的软X光激光输出强度没有明显的差异,表明已达到深度的增益饱和。 相似文献
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在电子碰撞激发类Ne锗X光激光实验的基础上,对线状等离子体空间分布特性进行定量测量和分析。首次给出了线状等离子体分布尺度,同时也研究了不同的激光参数和靶结构对等离子体状态的影响。 相似文献