远紫外及真空紫外反射率测量的研究

本文报道了一种采用成象式折叠腔测量真空紫外区域绝对反射率的方法,测量准确度为±5×10~(-3),精密度为±5×10~(-4).     

镀膜玻璃的紫外UVA透射性能探讨

本文论述了太阳紫外辐射UVA的危害性，对UVA的测试方法、镀膜玻璃的防紫外辐射性能作了较详细的分析和讨论。     

真空紫外区的NIII光谱

本文中报道了真空紫外区、波长范围2000—680?的NIII光谱工作。使用两米法线入射式真空摄谱仪和电容放电光源。实验表明,光源气压对NIII谱线的出现有显著的影响。观察到31条NIII新谱线。找到一个新能级:2s2p4d²D_5/2,并对2s2p4d²D_3/2的能级值作了改正。 关键词：     

紫外区全角度光子晶体反射镜

根据角域叠加原理,在石英玻璃基板上用全介质膜系实现了紫外区域全角度一维光子晶体反射镜的设计。采用两个不存在全角度反射带的一维光子晶体在角域上叠加,通过传输矩阵方法,从理论上计算合成光子存在全角度禁带,禁带波长范围328．95～352．11nm,相对带宽为6．80％。实验上采用HfO2和SiO2两种薄膜材料,用电子束蒸发的方法在石英玻璃基板上制备合成光子晶体。若透射率在1％以下为光子晶体禁带,则禁带波长范围从331．2～350．4nm,相对带宽5．63％。从而证明了角域叠加设计的正确性。     

真空紫外波段绝对光强的测量研究

介绍了利用双极型稀有气体电离室进行真空紫外波段(12~34nm)绝对光强测量的方法,并对Ar在12~34nm波段的电离吸收截面进行了测量。讨论了在利用稀有气体电离室进行绝对光强测量时,二次电离对测量结果的影响。通过建立适当的数学模型来确定二次电离系数。     

真空紫外反射率计用于BRDF的测量

：介绍了一种真空紫外反射率计,采用间接测量方法,在该反射率计测试了聚四氟乙烯漫反射板的双向反射率分布函数（ＢＲＤＦ）,正入射时该聚四氟乙烯漫反射板１５°到７５°的双向反射率分布函数偏差为１３％。     

真空紫外光栅光谱仪测量系统的改进

用一个５０ｍｍ长微通板代替光谱仪通用的电这道倍增器，若用１００μｍ出入缝，测量高离化态氖离子的真空紫外光谱，大约１０ｎｍ的波长区段，谱线分辨好于０．１ｎｍ，计数效率提高了两个量级，滤长精度可达０．０１ｎｍ。     

氟化钡晶体真空紫外透过率温度特性研究

真空紫外波段存在几个可用于研究电离层物理现象的重要光谱,其中135.6nm的夜气辉是重要的探测谱段,通过对该波段辐射强度的探测可反演出电离层电子密度(TEC)及F2层峰值电子密度。夜气辉发射线中,130.4nm的发射线与135.6nm光谱间隔很近,发射强度与135.6nm强度相当,因此,要实现对135.6nm夜气辉探测需要抑制130.4nm气辉辐射。分别对0.5和1mm厚的真空紫外级别的氟化钡晶体窗口透过率随温度变化特性进行研究,结果表明,氟化钡晶体的短波截止波长随温度的升高向长波方向偏移,在一定温度范围内,氟化钡晶体可以很好地抑制130.4nm辐射,并在135.6nm波段有较高的透过率。与国外相关文献所报道的通过加热SrF2晶体来抑制130.4nm辐射的方式相比,利用氟化钡晶体作为短波截止滤光片,可以将130.4nm的杂散光完全抑制,同时可以降低仪器功耗,对于电离层光学遥感探测有着重要的意义。     

分子在真空紫外区的相干辐射光谱及转动温度的测量

本文报道的是作者利用分子作为介质,通过非线性光学过程（四波和频,三次谐波）在真空紫外波段产生宽带可调谐相干光的理论和实验研究及其结果,实验产生的宽波段可调谐激光输出为建成完备的小型真空紫外激光光源奠定了基础。此文还报道了作者用该光源在XUV波希成功测量分子转动温度的方法和结果。     

红外区二维光子晶体偏振分光镜透射谱分析

采用时域有限差分（Finite-Difference Time-Domain,FDTD）法模拟了垂直入射红外波段二维光子晶体偏振分光镜的透射谱,从而验证了用平面波展开方法计算的二维光子晶体能带结构.用电子束蒸发方法在光栅基板上制备了Ge/BaF2多层膜,实现了二维光子晶体偏振分光镜.实验初步证明了这种光子晶体在垂直入射时具有偏振特性,分析了实验结果与理论计算之间偏差的产生原因.     

真空紫外波段光栅二级衍射效率测量装置

利用光栅二级衍射会影响反射样品光谱反射率结果的原理,通过计算不同光谱反射率获得了光栅二级衍射效率。介绍了测量二级衍射效率的实验装置,该装置采用双光路单色仪结构,使用已知光谱辐亮度氘灯作为光源,探测器为光电倍增管,通过水杨酸钠膜将紫外光转为可见光。以波长161nm为例,测量了5块反射镜样片,计算得到光栅二级衍射效率为0.00611×(1±0.0777)。分析表明,该方法采用的测试装置简单,系统不确定度为14.08%,可以实现真空紫外波段光栅二级光谱衍射效率的连续测量。     

真空紫外区定时曝光法分析高组份合金

分析高组份合金时,用传统的内标法误差太大,加上诱导含量计算法亦无明显改善。本文首先对超合金分别进行了内标-诱导含量法与定时曝光法实验,肯定了定时曝光法。通过算术平均误差的比较、相关系数的比较、置信区域比较等判据,论证了内标法和定时法的精度。再用真空光量计定时曝光法成功地分析了HK-40合金,并作出了其工作曲线。     

ADP晶体压电性能的动态测量

本文在比较了前人测量ADP晶体压电性能的若干重要方法之后,根据ADP晶体的特点,指出采用动态电容方法并增大串接电容C_T和修正静电电容C₀,这样虽然使用较差的设备,仍得到了较好的结果。     

真空紫外区Ar的高次离化光谱的研究

本文报道了波长在2000—194?真空紫外区域内Ar的高次离化光谱工作。观察到相当数量的新谱线,并归属了其中64条,还找到六个新能级,即:ArIV 3s²3p²(³P)3d²F_5/2,7/2, ArIV 3s²3p²(¹D)3d²S_1/2, ArV3s²3p3d关键词：     

在真空紫外区离子的光电离截面的测定

利用两束激光产生的等离子体(其一作为发射连续光谱背景的光源,另一作为吸收介质。)测得了真空紫外区轻离子的吸收光谱。测定了Be~+离子在电离极限处18.2eV附近的光电离截面,其结果与理论预言十分吻合。此外还观察到B~+离子2s2p~3P~0—2snd~3D和2s~2 ~1S—2snp~1P~o类型跃迁的吸收光谱。     

紫外-真空紫外漫反射板的研究

选用在紫外－真空紫外波段反射率较高的铝作基底材料,通过光学研磨加工和光学镀膜处理制成漫反射板;建立了紫外－真空紫外波段漫反射特性测试研究装置,利用该系统进行漫 反射板余弦特性、双向反射比分布函数的测试。结果表明,该漫反射板反射比ρ（ｏ／ｄ）在３１５ｎｍ处为４９％;在正入射情况下,双向反射比分布函数在１５℃￣４０℃范围内偏差优于１１％。     

紫外真空紫外傅里叶变换光谱仪

研制了新型的由分束耦合器、“猫眼”后向反射光学系统、稳频激光辅助采样系统和光电探测器等组成的紫外真空紫外傅里叶变换光谱仪 ,光谱测量范围为 170nm～ 6 0 0nm ,30 0nm处分辨率高于 1.5× 10 5。光谱仪结构紧凑 ,可精确探测紫外真空紫外波段物质的发射及吸收光谱 ,尤其适合与同步辐射源对接完成相关的光谱分析。     

真空紫外连续谱的获得

本文报道了惰性气体氙、氪、氩在真空紫外波段连续发射谱的获得及其一些特性,并与国外Tanaka[1—3]等人的工作做了比较。氩、氪的最短波长可达1300A左右。其强度随放电管内所充气体压力的升高而增强。     

Yb:YAG晶体性能实验测量

为了测量脉冲时间宽度小于20 ns时的射线时间分辨图像,发展了新型无机闪烁体Yb:YAG,并实验测量了晶体的发光衰减时间、X射线激发发光光谱、相对发光效率和空间分辨等性能,研究了Yb:YAG晶体的发光性能。实验表明,Yb:YAG发光有三种衰减成分,快成分衰减常数为1.2 ns,慢成分衰减常数与射线种类有关;X射线激发发光光谱在250~800 nm范围,有三个发光峰,分别为320,380和500 nm,且320 nm处强度最大;相对发光效率为1900 ph/MeV;使用钨分辨卡测得Yb: YAG空间分辨能力为2 lp/m,使用刀口法测得空间调制传递函数为0.5时的频率为0.7 lp/mm。结果说明Yb:YAG晶体性能能够满足所需测量要求。     

Yb:YAG晶体性能实验测量

为了测量脉冲时间宽度小于20 ns时的射线时间分辨图像,发展了新型无机闪烁体Yb:YAG,并实验测量了晶体的发光衰减时间、X射线激发发光光谱、相对发光效率和空间分辨等性能,研究了Yb:YAG晶体的发光性能。实验表明,Yb:YAG发光有三种衰减成分,快成分衰减常数为1.2 ns,慢成分衰减常数与射线种类有关;X射线激发发光光谱在250~800 nm范围,有三个发光峰,分别为320,380和500 nm,且320 nm处强度最大;相对发光效率为1900 ph/MeV;使用钨分辨卡测得Yb: YAG空间分辨能力为2 lp/m,使用刀口法测得空间调制传递函数为0.5时的频率为0.7 lp/mm。结果说明Yb:YAG晶体性能能够满足所需测量要求。