ICP-AES法同时测定铬酸钾中杂质元素

应用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)同时测定K2CrO4中微量Ca,Mg,Ba,Co,Cd,Cu,Mn,Pb,Sr,Zn,Al,Fe,Ni,Ti,Si,V等杂质元素含量.通过选掸合适的分析谱线,采用基体匹配法消除了样品中基体元素的干扰.结果表明,在选定的测定条件下,方法的标准曲线线性关系良好(R2=0.998 6～1.000),实验测得16种元素的检出限在0.075～2.625 mg·kg-1之间,两次测定的加标回收率在83.7%～113.0%之间,9次测定的RSD小于9.48%.实验表明该方法快速、简便、准确、可靠,可用于实际样品分析.通过对测定结果的分析,得出K2CrO4中含有较高含量的Ca,Mg,Al,Si,不能直接用来作为离子膜法电催化合成铬酸酐的原料,必须对K2CrO4进行进一步的精制.     

ICP-AES测定高纯碲中11种杂质元素

电感耦合等离子体原子发射光谱法 (ICP- AES)同时测定高纯碲中 11种杂质元素。用离峰扣背景法消除背景干扰 ,检出限能满足高纯碲中杂质元素的测定要求 ,加标回收率在 94 .0 %— 10 8%之间。     

ICP-AES测定高纯氧化钽中13种杂质元素

本文提出了基体匹配校准曲线，ICP－AES法直接测定高纯氧化钽中13种杂质元素的分析方法，并考察了光谱干扰以及基体效应的影响，确定了仪器最佳工作条件。结果表明：各元素的测定下限分别小于或等于0．0005％；相对标准偏差为1．8％－11．3％；回收率为92％－108％。     

纯硒中杂质元素的ICP-AES测定

电感耦合等离子体-原子发射光谱同时测定纯硒中的碲、铅、铋、锑、铜、铁、镍、铝、锡、砷和硼12种元素的含量,优化出各元素的分析波长和分析条件;用基体匹配补偿基体效应,方法简单,快速可靠,样品回收率为94%-107%.     

ICP-AES测定二氯化钯中的杂质元素

PdCl2试样用氨水溶解,加Y作载体共沉淀分离富集杂质元素,富集物转化成盐酸溶液,ICP-AES测定Pb、Sb、Bi、As、Sn、Fe、Zr、Cr、Be、Ti等杂质元素。测定范围为0.0002%-0.01%,加标回收率为84%-114%。相对标准偏差为2.2%-7.4%。方法准确、简便。     

ICP-AES测定电解镍中的杂质元素

采用电感耦合等离子体发射原子发射光谱法(ICP-AES)测定了电解镍中锰、磷、钴、铁、铜、镁、铝、锌、镉、硅和锡等11种元素的含量,对仪器各项参数进行优化,采用基体匹配办法克服基体干扰,通过选择合适的分析谱线和背景校正消除共存元素间干扰。方法应用于实际样品分析,11种元素的回收率为92.0%—107.0%,相对标准偏差0.3%—5.1%,测定结果与标准方法的测定值相符。     

ICP-AES用于硅溶胶中杂质元素的直接测定

通过直接称取适量硅溶胶样品稀释于水中,采用超声配制成悬浮液,无需加入额外的分散剂,然后直接进样进行ICP-AES分析,将所获得的结果与传统的样品处理方法所获得的测定结果进行比较,发现两种不同样品处理方法得到的分析结果相一致。该方法无需消解样品,避免了腐蚀性酸的使用,降低了对环境的危害,同时减少了预处理过程。方法的回收率在92%—103%之间,且具有良好的准确度和精密度。     

ICP-AES测定赤泥中的16种元素

用电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)测定了赤泥中Li、Na、K、Ca等16种元素,其RSD均小于5％.方法平均回收率在91.0％-109.4％之间,本法灵敏度高,结果准确并且多元素同时测定,可用于赤泥的分析研究中.     

ICP-AES测定麻叶荨麻中的16种元素

电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)测定麻叶荨麻中16种元素的含量。方法的回收率在96.0%—102.9%之间,相对标准偏差小于或等于2.98%。实验证明,麻叶荨麻含有丰富的对人体有益微量元素,为开发利用这一资源提供了可信依据。     

ICP-AES同时测定铝合金中Fe,Si,Cu,Mg,Mn,Ni,Zn,Ti,Cr,Sr等杂质元素

本文通过基体干扰和操作条件的试验研究，分别用基体匹配法和干扰系数法校正基体干扰和待测元素间的干扰，建立了以氢氧化钠溶样，ICP－AES同时测定铝合金中铁、锰、铜、锌、镁、钛、硅、镍、铬、锶等杂质元素的方法。方法快速、简便、可靠，回收率93％－102％，适用于进出口铝合金的快速检验。     

ICP-AES法同时测定银锭中铋、锑、铅、铜、铁杂质元素

本文介绍ICP-AES法同时测定银锭中Bi、Sb、Pb、Cu、Fe杂质元素的方法。试样用稀硝酸溶解后测定,回收率为93.0%-105.0%,RSD为0.36-4.2%。     

ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素

本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）测定碲锭中Ａｌ、Ａｇ、Ｂｉ、Ｃｕ、Ｃｄ 等１３ 个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。     

ICP-AES法同时测定锑酸钠中的Fe、Cu、Cr和V

本文采用基体分离法，将锑酸钠经氢溴酸处理，加热挥发除锑，在5％盐酸介质中用ICP－AES同时测定锑酸钠中杂质元素Fe、Cu、Cr和V，并运用干扰系数法扣除元素间光谱干扰引起的分析偏差，回收率在93％－101％之间，结果较为满意。该方法操作简便、快速，适用于锑酸钠的日常进出口检验分析。     

ICP-AES法测定锡锭中微量镉的方法研究

本文研究了用电感耦合等离子体光谱法ＩＣＰ－ＡＥＳ测定锡锭中微量镉的分析方法，考察了基体元素的影响，方法简便、快速、准确，合成样品的回收率为９８％—１０５％，相对标准偏小于２％，检出限为０．００１９μｇ／ｍＬ。     

玩具中有害重金属元素的ICP-AES分析

本文介绍了利用ICP－AES对玩具中有害重金属元素的分析研究。文中详述了实验方法，适用范围以及结果和讨论，并运用干扰系数法校正元素间光谱干扰，结果较为满意，这在玩具日常检测的光谱分析中具有重要的实际意义。     

ICP-AES法测定三氧化二锑中杂质

本文采用盐酸－氢溴酸溶解样品并除锑后,用ICP-AES法同时测定三氧化二锑中Bi、Be、Ag、W等23种杂质元素,各杂质元素回收率在90％－110％之间。并对样品的溶解方法,主量与杂质元素间的光谱干扰等进行了研究,建立的分析方法,能准确、快速地了解高纯三氧化二锑的品质。     

ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素

建立了ICP－AES直接测定锑产品中杂质元素的新方法。在折衷工作条件下锑的浓度低于5mg.mL^-1不干扰测定,As,Au,Fe,Pb,Se的检出限满足分析要求,混合标准回收率94．0－107．1％,相对标准偏差＜5％,结果满意。     

ICP-AES内标法测定硅铝钡合金中铝和钡

研究了以电感耦合等离子体发射光谱仪测定硅铝钡合金中铝和钡的方法。考查了方法的线性范围,检测限和RSD等指标,实验表明,方法简便,结果准确。     

ICP-AES法测定钛合金中的6种元素

用ＨＣｌ分解钛合金样品,直接用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定其中的Ｃｒ、Ｍｏ、Ｆｅ、Ｓｉ、Ａｌ及Ｚｒ６种元素,方法简便、快速、测定各元素含量范围为０．２８％－６．５１％,相对标准偏差为０．７２％－５．０７％,回收率为９７．４％－１０２％。     

ICP-AES法同时测定氯化锂和氢氧化锂中七种杂质元素

本文报导了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定ＬｉＣｌ和ＬｉＯＨ·Ｈ２Ｏ中７种杂质元素Ａｌ、Ｂａ、Ｃａ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｚｎ的分析方法。研究了基体元素锂对被测元素的基体效应，采用基体匹配法与背景扣除法进行校正。被测元素的检出限为０．１－９．４ｎｇ／ｍＬ，加标试验回收率为９２％－１０９％，当杂质元素含量为０．０００１％－０．０２８％时，相对标准偏差小于７％。方法简便、快速、准确，用于样品分析，取得了满意的结果。