电子能谱线形分析研究碳物种的化学状态

利用ＸＰＳ的ＣＩｓ携上峰,Ｘ射线激发供歇线形,ＸＰＳ价带谱以及俄歇电子能谱的ＣＫＬＬ线形研究了几处碳材料的化学状态和电子结构。研究结果表明：ＸＰＳ的携上效应可以鉴别不同结构的碳材料。ＸＡＥＳＲ 化学位移和线形也可以有效地研究中不同的碳材料的成像方式。ＸＰＳ的价带谱电子结构的一种有效方法,对碳材料的研究也很有效。ＡＥＳ的ＣＫＬＬ俄歇线形非常适合金属碳化物的鉴别。     

薄膜CdSe及CdSexTe1-x电极的光电子能谱研究

用X射线光电子能谱(XPS)研究了不同含氧气氛中烧结的薄膜CdSe及Cdse_xTe_1-x电极表面,以及薄膜与Ti底基之间的界面。研究中发现,二种薄膜电极的表面形成了CdO,SeO₂及TeO₂氧化物,与薄膜接触的Ti底基表面上形成了TiO₂。用俄歇电子能谱(AES)对在电极表面及Ti表面所生成的氧化层分别进行了深度分析。结果表明,各种氧化物形成的程度有很大的不同,氧化层厚度也存在差异。对影响薄膜电极的光电性能的因素进行了讨论。     

超高真空俄歇电子能谱原位加热和GaN热效应研究

An in situ heating system was built for the Auger electron spectroscopy to investigate the thermal effect of Auger lines. A GaN sample was studied in this system. The kinetic energy of Ga LMM and MVV Auger lines were observed to shift negatively with temperature increasing. By using ab initio calculation, the theoretical Ga MVV Auger line shape was fit, which well reflects the inner property of the line. The Auger shift with heating is related with the valence electron rearrangement in the thermal expansion of the local bonds.     

电子能谱法研究锡铅合金镀层的表面状态及其与可焊性的关系

本文用X射线光电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)研究了Sn-Pb合金镀层的表面氧化物膜状态并用润湿称量法测定了可焊性。结果表明,Sn-Pb合金镀层表面生成的氧化物膜主要由四价锡的氧化物(SnO_2·XH_2O和SnO_2)组成,铅的氧化物只占很少部分。这说明Sn-Pb合金镀层中锡组分较铅容易氧化。 Sn-Pb合金镀层经155℃加热16小时后,表面氧化物膜的厚度增长很大,同时可焊性明显下降。当Sn-Pb合金镀层经过热熔后,表面变得致密光亮;经155℃加热16小时后生成氧化物膜的厚度较未经热熔的在相同条件下要薄。同时可焊性也较未热熔的好。这说明Sn-Pb合金表面生成氧化物膜的厚度是影响可焊性的重要因素,热熔使Sn-Pb镀层均匀的再结晶改变了镀层结构,使之成为致密的细晶结构,增加了镀层表面的抗氧化能力。故经热熔处理的Sn-Pb合金镀层具有较长的贮存期仍能保持良好的可焊性。     

磁透镜引起的氯化银谱峰异常位移及其在X射线光电子能谱成象分析中的应用

用X射线光电子能谱（XPS）分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl。观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态（如Ag^0和Ag^ )的XPS象的分辨能力。     

用俄歇能谱和X射线能谱研究板状碘溴化银微晶中的碘离子的空间分布

本文制备了一系列不同碘含量的板状碘溴化银微晶(微晶大小约为3微米)。运用扫描透射电镜和X射线能谱仪(EDS)对单个微晶进行了分析和研究,半定量地测定了碘离子在板状微晶中的面分布;运用扫描俄歇微区棵针(SAM)和二次电子像、离子溅射剥层技术对微晶进行了表面及其纵深的碘离子的点分析,根据EDS和SAM的结果,可以得到板状碘溴化银微晶中的碘离子的空间分布。实验结果表明在板状缺溴化银微晶中,在其中心部位的碘含量最高;越靠近横向边缘的位置,碘含量越低。且在制备碘溴化银微晶时,如果pAg值较高,将会使在制备早期加入的碘离子通过不断的重结晶向微晶表面扩散,得到的微晶不是夹心结构的碘溴化银微晶。     

XPS光电子峰和俄歇电子峰峰位表

在长期从事XPS分析测试的经验基础上,搜集了有关文献中的大量数据,编制了XPS光电子峰和俄歇电子蜂峰位表,用于正确识别各种样品XPS谱图中的电子峰,达到快速、正确分析各种样品元素组成和化学组成的目的.本峰位表对于从事XPS测试的分析人员和应用XPS的科技人员具有很好的实用价值.     

一些钼络合物的X光电子能谱

本文研究了一些钼络合物的X光电子能谱,测定了钼3d电子的结合能(E_b),并讨论了钼的氧化态和桥连原子对此的影响。     

X射线光电子能谱复杂谱图的非线性最小二乘法分析案例

X射线光电子能谱(XPS)是材料表面分析表征最常用的测试手段之一,然而由于XPS数据处理过程中往往会带入主观因素,其数据分析往往是一个难题.本文重点报道了 XPS复杂数据分析的处理方法和案例,首先总结了非线性最小二乘法(NLLSF)分析XPS复杂谱图的适用范围;随后根据谱峰重叠的类型对实际测试分析过程中遇到的复杂数据进...     

通道电子倍增器内壁涂层的X射线光电子能谱分析

用氩离子溅射-XPS纵深分析方法对通道电子倍增器内二次电子发射材料的元素组成和原子价态进行了分析,结果表明该材料中的主要元素为Pb,Bi,Ba,Si和O,其中Pb和Bi都以混合价态存在,它们分别是Pb^2 和Pb^0;Bi^3 和Bi^0．     

MoO3电致变色薄膜的XPS研究

Molybdenum oxide films were fabricated successfully by spin coating from Li＋ doped peroxo polymolybdate solution via sol gel technique.Their electrochemical and electrochromic properties were investigated by cyclic voltammetry and in situ UV transmittance measurements.The results showed that the films possessed excellent electrochemical stability and reversibility.The electrochromic mechanism of the MoO3 was discussed by using results obtained from X ray photoelectron spectroscopy (XPS).The results showed that the most part of the Mo6＋ in MoO3 film was reduced to Mo5＋ and Mo4＋ ions during the Li＋ intercalation process,Mo4＋ was oxidized to Mo5＋ and part of Mo5＋ was oxidized to Mo6＋ again during the Li＋ deintercalation process.So it was considered that Mo4＋ ions existed in the colored MoO3 films.     

X-光电子能谱仪的管理与维护

X-射线光电子能谱仪(XPS)是表面分析领域的重要工具,其快速发展促进了表面化学领域研究的深入.正确的使用和良好的维护不仅可以确保XPS始终保持良好的运行状态,还可以延长它的使用寿命.结合作者在实验室的工作经验和体会,从测试和维护仪器等方面介绍了管理和维护的经验,为相关人员提供参考.     

X射线光电子能谱仪的开放使用与管理

X射线光电子能谱仪(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一,是表面分析科研工作的必备仪器.为提高测试效率,实施了大型仪器设备开放共享优化,总结了在推动XPS开放过程中管理的经验和体会.     

DFT Simulation of Electron Spectra for Auger Electron and Photoelectron Spectra of Lithium Compounds

(Li, O, F)-Auger electron, and X-ray photoelectron spectra (AES, VXPS) of solid lithium compounds (Li metal, LiCl, LiF, Li₂O) are simulated by deMon density functional theory (DFT) calculations using the model molecules of the unit cell. Calculated valence XPS, core-electron binding energies (CEBE)s, and Li-, O-, and F-KVV AES for the substances correspond considerably well to experimental results. For the calculation of VXPS, the observed spectra of Li₂O pellet with chemisorbed CO₂ almost show agreement with simulation curve of the valence XPS according to the model for the 1/1 ratio of Li₂O/Li₂CO₃. In the case of AES calculation, we analyze the experimental AES with our modified Auger electron kinetic energy calculation method which corresponds to the two final-state holes at the ground state and at the transition-state in DFT calculation by removing 1 and 2 electrons, respectively. Experimental KVV AES of the Li atom, and (O, F) KVV AES of (Li₂O and LiF) in the substances almost agree well to the AES calculated with maximum kinetic energies at the ground state, and at the transition-state, respectively.     

Auger Electron Spectroscopic Study of Polycrystalline Indium Oxidation

Russian Journal of Physical Chemistry A - The kinetics of oxygen adsorption and indium oxidation in an oxygen medium with pressures as high as 5000 Langmuir, and at atmospheric pressure and room...     

样品表面污染对X射线光电子能谱定量分析的影响

用X射线光电子能谱(XPS)研究了表面碳污染物对样品的元素相对定量误差的影响。结果表明,样品表面含有碳污染物能引起光电子动能较低的元素的相对定量分析结果偏低,而且样品中两种元素的光电子动能差越大,相对误差越大。在用元素灵敏因子法进行XPS定量分析时,样品表面污染是不可忽略的误差来源。     

有机锗化合物的光电子能谱研究

用Ｘ射线光电子能谱法（ＸＰＳ）研究了六种有机锗化合物的Ｇｅ３ｄ轨道结合能化学位移与锗所处不同化学环境的关系。结果表明，对Ｇｅ３ｄ轨道电子能化学位移有明显影响的关键取决于极性基团。