磁光玻璃光纤的偏振特性及其在全光纤电流传感器中的应用

在磁光玻璃裸光纤偏振特性研究的基础上，研制磁光玻璃光纤，偏振特性及其在全光纤电流传感器中的应用。将采用模管法拉制成的磁光玻璃光纤置于亥姆霍兹线圈产生的磁场中，当线偏振光通过该光纤时，其偏振面旋转一定角度，把该角度转换成光信号的强度，然后再用仪器进行检测。通过对线偏振光偏振面在磁场中的偏振特性的测试与实验，提出用磁光玻璃光纤构成的全光纤电流传感器，可用于电流和磁场测试。     

基片缺陷与磁光盘原始误码

分析了基片缺陷导致磁光盘产生原始误码的原因。首次建立了磁光读出光场与基片杂质特性的数学模型，利用数值分析方法研究了读出信号畸变、误码长度与杂质特性的关系。分析结果表明，一定大小的基片杂质是否产生误码，与杂质距记录层的距离、杂质距读写光斑的距离以及读出阈值电平等因素有关。     

热分解法制备Bi替石榴石磁光薄膜的静态热磁模拟近似计算

对磁光薄膜进行热磁模拟可以了解影响热磁记录过程的各种因素及这些因素间的相互关系以及它们对写入信息的影响。采用近似计算方法对Bi、Al替DyIG磁光薄膜进行静态热磁模拟,得出在居里点写入的情况下写入点半径与定入功率、数值孔径、材料的反射率、材料的热导率及激光波长的关系。该方法为热磁定入过程提供了一种简捷的理论指导。     

磁液磁光双稳特性的研究

本文基于磁液磁致双折射效应,实现了其磁光双稳特性的研究。理论上,建立了其磁光双稳传输模型、进行了计算机模拟,并在此基础上建立了相应的实验分析系统。研究表明:磁液薄膜具有良好的磁光双稳特性,可用作超长波红外波导器件。     

磁光玻璃费尔德常数的色散特性研究

本文对磁光玻璃的费尔德常数与工作波长的关系进行了理论分析和实验研究。首先由色散理论导出磁光玻璃的费尔德常数的波长依赖性，然后将ZF1、ZF6磁光玻璃加工成实验样品，测试了不同工作波长下的ZF1、ZF6磁光玻璃材料的费尔德常数，并将实验值和理论值进行了比较，分析误差产生的来源。在文章的最后，推导出费尔德常数的色散特性，讨论了磁光玻璃应用在磁光玻璃光纤电流传感器中存在的问题。     

正弦波与方波磁光调制的比较分析

基于正弦波磁光调制原理，同时利用利萨如图形方法，对正弦波磁光调制和方波磁光调制进行了计算机模拟．模拟结果表明，正弦波磁光调制具有磁光调制原理所描述的基本特性，并且其偏振角度检测准确度可达到0．001°；而方波磁光调制具有更好的应用特性，不存在波形失真问题，其氏取值不受小角度条件的限制，其偏振角度检测准确度可高于0．001°．对两种磁光调制进行的对比性实验研究，进一步支持了以上结论，表明方波磁光调制无论用于信号调制或用于偏振角度检测都具有独特的优势．另外，在实验中发现了两种磁光调制的限幅效应，并对其形成的原因进行了初步分析．     

磁光型记录介质疲劳特性研究

本文对单层结构和多层结构磁光型记录介质的疲劳特性进行研究,并对记录介质化学稳定性、记录介质循环擦写后记录磁畴物理特性及磁光记录动态特性载噪比和误码率进行分析,最后对磁光型记录介质的疲劳特性和信息记录可靠性进行评价。     

磁流体磁光特性的研究及其应用

研究稀磁液磁致双折射效应与磁液各参量及磁场的关系，并基于其磁光弛豫特性与载液粘度的关系（爱因斯坦方程）初步分析了磁液光纤磁光粘地性及其应用的可行性。     

交变磁场下磁光薄膜动态法拉第效应特性的测量

论述了在交变磁场下测量磁光薄膜动态法拉第效应的原理和方法，利用此方法，在不同的调制磁场强度和频率下测量磁光薄膜的动态法拉第旋转特性，获得了较好的测量结果，并对测量误差进行了分析。     

磁光晶体Bi-YIG的磁致退偏效应

建立了磁光晶体磁致偏振特性测试系统。对Bi YIG晶体样品在大范围磁场下的退偏现象进行了测试。结果表明,达到磁饱和或接近磁饱和时,Bi YIG晶体的偏振性能最优;达到磁饱和后,随着磁场的增强,出现了磁致退偏效应。根据实验结果分析了磁致退偏效应的产生机理,并说明了磁致圆二向色性及磁致线双折射是产生退偏的原因。     

基于正弦波磁光调制的方位失调角精确测量方法

针对传统基于正弦波磁光调制的方位失调角测量系统存在测量精度不高的问题,提出了一种新的系统方位失调角测量模型以提高系统测量精度。通过分析传统的基于正弦波磁光调制的方位失调角测量原理发现,由于采用省略高阶项的贝塞尔函数展开式表示磁光调制后的信号,引入了信号截断误差和方法误差,影响了系统测量精度。在分析基础上推导建立了一种基于纯三角函数表示的无理论误差的方位失调角测量新模型并进行了仿真。仿真结果表明,利用推导建立的失调角测量新模型,系统测量精度明显高于传统方法,这对重新理解基于正弦波磁光调制的方位失调角测量系统原理、提高系统测量精度具有一定的参考意义。     

任意球面元件的超高反射率测量方法

为了实现任意球面元件的超高反射率测量,提出直腔和折叠腔两种光腔结构,以实现0,10,15和30等不同角度下球面元件的超高反射率测量。详细分析了这两种测量方式,根据光束传输变换公式,推导了任意球面元件在测量中引入的衰荡光腔物理腔长的变化,得到了实验测量中腔长调节指导。并根据光腔衰荡法原理,推导了球面元件在超高反射率测量中的通用数学表达式,对测量公式进行了讨论,分析结果扩展了光腔衰荡法在元件超高反射率测量的使用范围。     

透反射率自动化测量系统设计

应用虚拟仪器技术,基于"DF透反仪"的测量思想和光路设计,设计了大角度范围自动化测量透反射率系统,工作波长为6328nm,透反射率测量角度范围可以达到5°~80°。重点讨论了透反射率自动化测量系统的测量原理和信号获取方法,介绍了系统的机械设计、自动化测量以及数据的采集和处理。     

Laser Alignment Techniques for Simultaneously Measuring Five Degree-of-freedom Deviations of the Object

An optical measurement system has been developed for the simultaneous detection for five degree-of-freedom (DOF) deviations of the object. The measuring system designed bases on laser holographic technique, laser alignment technique, laser drift compensation technique and magneto-optic modulating technique where a single laser beam is used as datum line. This measuring system is applied to multiple degree-of-freedom alignment and measurement of fine deviation, and it carries out the automatic testing in a deformation of machine tool, or the loaded axon in a strain wind tunnel balance. Through actual calibration and measurement, the resolution of the system is estimated to be 4 μm for linear displacement error measurement and better than 2″ for angular error measurement with a 1 m offset between laser and a photoelectric receiving target.     

Laser Alignment Techniques for Simultaneously Measuring Five Degree of freedom Deviations of the Object

１ＩｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎＴｈｅａｌｉｇｎｍｅｎｔｏｆａｗｏｒｋｐｉｅｃｅｏｒｔｈｅｐｏｓｉｔｉｏｎａｎｄａｔｉｔｕｄｅｏｆａｎｏｂｊｅｃｔｉｎｓｐａｃｅａｌｗａｙｓｒｅｑｕｉｒｅｓｕｐｔｏｓｉｘｄｅｇｒｅｏｆｆｒｅｅｄｏｍｄｅｖｉａｔｉｏｎｓ,...     

Interference amplification of the magneto-optic Kerr effect in multilayer structures in the X-ray range

The problem of X-ray reflection from multilayer structures with magnetic layers has been solved. The matrix for reflection of electromagnetic waves from such structures has been calculated analytically in kinematical and dynamical approximations. It is shown that not only reflection coefficients, but also magneto-optic effects are enhanced near Bragg peak. The possibility of measuring magneto-optic effects in multilayer structures without using synchrotron radiation has been estimated.     

一种测量光学元件高反射（透过）率的有效方法

本文提出一种测量激光谐振腔反射镜高反射率和测量镀有减反膜的高透过率光学元件的有效方法.特点是同时测量几块高反射率凹面镜或高透过率光学元件,其误差是普通单块测量方法的1/n.详细分析了一组激光腔镜高反射率和一组镀减反膜的平行薄片高透过率的测量结果.     

Application of magneto-optic effects in magnetic materials

The principal magneto-optic effects observed in ferromagnetio and ferri-magnetic materials are described. Values of Faraday rotation are listed for typical materials such as garnets, orthoferrites and metals and their origin is discussed.

It is shown how certain materials with high magneto-optic figures of merit may be used to construct low frequency and high frequency infrared modulators. Further applications such as current measurement in high voltage conductors and magneto-optic computer memories are also briefly described.     

超高反射率的损耗比较测量法研究

描述了一种用两个激活谐振腔的损耗比较测量超高反射率的有效方法。其基本原理源于菲涅耳公式和布儒斯特定律。测量精度为±５．０×１０－５，并讨论了测量系统的若干问题。     

蓝光相变光盘的多层膜结构设计

为了使光盘获得优良的记录／读出性能并能够长期稳定地使用，必须优化设计相变光盘的多层膜结构。采用自行设计的模拟分析相变光盘读出过程设计软件，从光学角度出发模拟计算了蓝光(405nm)相变光盘的膜层结构，研究了多层膜系的反射率和反射率对比度等光学参量与各层膜厚度和槽深的关系。研究得出的最佳多层膜结构为：下介电层／记录层／上介电层／反射层的厚度对于台记录为100nm／10nm／25nm，／60nm，而对于槽记录则为140nm／15nm／30nm，／60nm，槽深为50nm。模拟计算结果对于将来高密度蓝光相变光盘的制备具有一定的指导意义。