X射线荧光光谱法测定铁基合金中合金组分的通用工作曲线的制作——基本参数(FP)法虚拟合成标准样品的应用

应用基本参数(FP)法虚拟合成标准样品制作了X射线荧光光谱法测定不同类型的铁基合金中的26种元素的通用工作曲线。选择最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素、受共存元素重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标准样品中各元素的含量,并算得在此设定值下的理论荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可用于各种类型的铁基合金的分析。     

用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯材料中有害元素的标准样品的制备北大核心CSCD

制备了一套适用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯(PP)材料中5种有害元素(铅、镉、铬、汞和溴)的标准样品。首先,制备聚丙烯材料目标元素高含量母粒,然后通过逐级稀释的方法制备目标元素含量梯度的样品原料,最后制得符合X射线荧光光谱分析使用要求的标准样品。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法和离子色谱法测定所制得标准样品中各元素的含量。所制备的用于X射线荧光光谱分析的PP标准样品通过F检验和t检验,得到统计量F相似文献   

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF_2、CaCO_3、S、Fe及SiO_2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

能量色散X射线荧光光谱仪的冲氦系统改造

正X射线荧光光谱法的基本原理是当物质中的原子受到高能辐射的激发后,发射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否,进行定性分析;其强度可作为定量分析的依据。该法具有准确度高、分析速度快、试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点,它不仅用于常量元素的定性和定量分析,而且也可进行微量元素的测定[1-2]。样品可以是固体、粉末、熔融片、液体等,分析对象适用于钢铁、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻     

X射线荧光光谱法半定量和电感耦合等离子体质谱法全定量快速测定花草茶中多种元素

采用粉末压片制备花草茶样片,以X射线荧光光谱无标准样品半定量法对5种花草茶样品进行全元素扫描得出所含元素的种类及含量范围;采用微波消解5种花草茶样品,以电感耦合等离子体质谱法进行多种元素的全定量测定.X射线荧光光谱法(XRFS)可以检出5种花草茶样品中质量分数在1μgg-1以上的所有金属元素和非金属元素,5种花草茶样品...     

X射线荧光光谱法测定镍基高温合金中合金组分的通用工作曲线的制作——基本参数(FP)法虚拟合成标准样品的应用

应用基本参数(FP)法虚拟合成标样制作了X射线荧光光谱法(XRFS)测定不同类型的镍基高温合金中18种合金元素和4种杂质元素的通用工作曲线。选择了最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素受共存元素分析线重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标样中各元素的含量,并算得在此设定值下的荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可通用于各种类型的镍基高温合金的分析。     

X射线吸收分析法简介

近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。     

元素薄膜标样计量溯源技术路线探讨及验证

元素薄膜标样是X射线荧光光谱(XRF)法用于大气颗粒物样品中无机元素测定的必备实验用品。开发满足计量溯源要求的国产元素薄膜标样对于建立大气颗粒物元素XRF分析校准曲线,降低基层实验室用户采购薄膜标样费用具有重要意义。同时采用基于薄膜酸消解的等离子体发射光谱(ICPOES)和基于直接测定的波长色散X射线荧光光谱(WD-XRF)两种方法,提出了对元素薄膜样品进行定值的技术路线,并以稀土元素薄膜样品的定值为例进行了验证。用镀膜固体粉末材料探讨了酸消解体系和ICP-OES分析方法的可行性,实验结果表明,稀土元素回收率93.3%～99.7%。基于酸消解-ICPOES测定值建立的WD-XRF校准曲线具有良好线性关系,各元素相关系数0.9978～1.000。实现了WD-XRF测定结果应满足计量溯源要求的预期目的。基于同一批元素镀膜样品X射线荧光强度数据精密度,对镀膜工艺一致性进行了考察,相对标准偏差0.16%～1.5%。测量结果不确定度的评估数据表明,对于低含量元素薄膜样品,ICP-OES拟合模型误差是测量结果不确定度的主要分量。实验结果为后续开展元素薄膜标样协作定值奠定了基础。     

一种快速半定量检测烟花爆竹用烟火药盲样中汞含量的方法

本发明公开一种快速半定量检测烟花爆竹用烟火药盲样中汞含量的方法,属于分析测试技术领域。将烟火药样品从烟花爆竹产品中解剖出来,研磨,过筛,干燥,冷却至室温,以能量色散型X射线荧光光谱仪为检测仪器,采用强度法建立分析方法,将样品装入仪器样品杯中,再将待测样品置于检测仪器测试舱内,记录仪器上显示的汞元素特征谱线的荧光强度值,估算汞元素在样品中的含量,再进一步选择适当的分析仪器准确定量分析烟花爆竹用烟火药中的汞含量。本发明方法操作简单,效率高,所估算样品中的汞含量与其实际含量相差较小,且能为进一步选择准确定量分析样品中汞含量的方法提供依据。     

X-90型荧光光谱仪在无机定性分析中的应用探讨

目前用于金、银、铂饰品检测的 X- 90荧光光谱仪 ,具有检测方法简便、快捷、准确、成本低、无损伤等优点 ,也可利用此仪器的特点 ,扩展测定范围。1　理论依据每一种物质都有其特定的原子结构。样品被某种激发源 (本机为2 4 1Am放射性同位素 )所发射的初级射线激发而自发地发射出其所含元素特征的荧光X射线。每个元素的特征荧光 X射线都具有特定的能量 ,探测这些特征荧光 X射线并识别其能量 ,就能识别出该被测样品中含有哪些主要元素。2　操作步骤按操作规程 ,打开仪器 ,以银、铜块校准峰位 (即谱峰尖顶所对应横座标的位置 ) ;将被测物放入…     

X射线荧光光谱法测定哈氏C-276合金中10种元素

采用X射线荧光光谱法,可实现同时测定C-276合金中Si,Mn,P,Cr,Fe,Mo,W,V,Co,Cu,方法简便快速,便于生产过程控制和产品分析。采用成分相近的17种标准物质建立工作曲线,优化了测量条件并进行谱线重叠校正和元素间的吸收和增强效应的校正,各元素含量与测量强度均能呈现良好的线性关系。用于C-276合金中各元素的测定,具有良好的精密度,测定值与分光光度法、容量法、重量法等标准方法测定结果显示较好的一致性。为建立X射线荧光光谱法测定镍基合金成分提供了思路,为研究X射线荧光光谱分析镍基合金的干扰提供事实依据。     

X射线荧光光谱法测定铝合金及纯铝中痕量元素

根据X射线荧光光谱法分析样品形状要求,按照待测物料形状,适合于X射线荧光光谱测量的棒状类样品用车床车割,块、片状类样品用锯、锉刀处理,屑类样品首先用液压机压成片状,再用锉刀处理成适合于X射线荧光光谱分析的待测样品.测试了铝合金和纯铝中铁、硅、铜、镓、镁、锰、锌、钛和铬的含量,对于测量不灵敏的镁,每次测试带全套标样,峰值计量,单独为组测量可保障其准确度.基体单纯、固定的样品,测量痕量元素含量时峰值强度计量优于扣除背景的净强度计量,可避免背景测量误差,测量结果与直读光谱法相符.9项元素的精密度均优于3%.     

能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素

利用能量散射X射线荧光光谱（ED-XRF）法快速测定中草药中的Cd元素.方法对中草药进行简单预处理（粉碎）,使用X射线荧光光谱法建立中草药中Cd元素含量与相对强度的校正工作曲线,分析中草药样品中的Cd元素.Cd元素的检出限为0.083 mg/kg,定量限为0.207 mg/kg,定量限低于国家控制标准0.3 mg/kg.测量定量限以上的中草药样品时,其准确性与化学分析结果相当,重复性和稳定性等结果完全满足GB/T 4889-2008数据的统计处理标准.方法预处理时间不超过5 min,完成一个样品的检测时间不超过15 min,可应用于中草药生产企业中的重金属监控.     

X射线荧光光谱法测定内墙合成树脂乳液涂料墙面中铅、镉、铬和砷的含量

用手持式能量色散型X射线荧光光谱仪直接快速测定内墙合成树脂乳液涂料墙面中铅、镉、铬、砷等4种有害元素的含量,用外标法定量。以模拟样品为基体制作上述4种元素的工作曲线,4种元素的质量分数在120 mg·kg-1范围内与其荧光强度呈线性关系。实样测定结果表明:上述4种元素含量大于10mg·kg-1时,本方法的结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法的测定结果相符。     

基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用

在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的数学方法之一。我们使用带有不锈钢窗的~(241)Am59.6keVγ射线作为激发源,用Si(Li)半导体探测器和多道脉冲幅度分析器作为实验手段。采用无标样法,即绝对测量法,因而具有更大的广泛性和实用性。实验中,我们除了考虑元素间的二次、三次荧光吸收增强作用外,对样品中元素     

电弧熔炼制备标准样品-X射线荧光光谱法测定钕铁硼磁性材料成分

采用电弧熔炼炉制备系列钕铁硼标准样品,并通过三家实验室用电感耦合等离子体光谱法对样品中各元素准确定值。然后选用基本参数法,在X射线荧光光谱仪上,用自制标准样品建立测定钕铁硼磁性材料的校准曲线。本法测定结果与ICP-AES测定结果相符,测定值的相对标准偏差(n=11)小于1.5%。     

古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用

本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。     

SDD探测X射线中BP网络全谱定量分析技术研究

针对能量色散X荧光分析技术中面临的能谱复杂、标样难于制备、基体效应难于校正等问题,建立了基于BP神经网络的特征X射线全谱分析模型,对SDD探测器测量获得的Ti-V-Fe伪三元系样品特征X射线荧光谱进行定量分析,对含量较高的Fe元素的分析误差范围在0.06%～2.5%内,含量较低的Ti和V元素分析误差范围在0.33%～8.4%内,基本克服了由于谱峰重叠和基体效应对解谱带来的复杂性。     

磷矿石的 X 射线荧光光谱分析

本文研究了用X射线荧光光谱分析磷矿石的方法。磷矿石样品和四硼酸锂的混合物放在Pt-Au坩埚中熔融,制成玻璃圆片。同时加入氧化剂(硝酸铵)保护Pt-Au坩埚免遭损坏。利用De Jongh公式校正元素之间的影响,并由NBSGSC基本参数法程序计算了磷矿石的理论Alpha系数。样品分析结果是准确的,分析效率大大高于湿法分析,这表明,X射线荧光光谱法可以取代湿法分析磷矿石。