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相似文献
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1.
X射线荧光光谱法测定富砷地质样品中的主次痕量元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰。实验结果表明,该方法除Mo的检出限0.8μg/g超出地球化学普查要求检出限0.5μg/g外,其它元素满足要求;除元素Mo的均值方根高于2倍相对计数统计误差外,其它元素的均值方根均小于2倍相对计数统计误差,且绝大多数元素的均值方根(n=12)都小于1.0%;另外,对国家标准物质的测试结果与标准值相一致。将本方法用于实际样品的测试,分析结果与其它化学分析方法相符。  相似文献   

2.
采用X射线荧光光谱法对灰岩中的Ca,Mg,Si,K,Na,Fe,Al,Ti,P,S,Mn,Sr,Ba,Cl等14种元素进行同时测定,采用硼酸镶边垫底的粉末压样法,优化了测量条件。对比较轻的元素,采用经验影响系数法校正基体效应,对于较重的元素,采用理论α影响系数法校正基体效应。分析标准参考物质GBW 07132,各元素的精密度(RSD)为0.1%~5.9%,分析标准参考物质GBW 07130,各元素的测定值与标准值相符,该方法对各元素的测定范围宽、速度快。  相似文献   

3.
应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定.采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998.考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%.  相似文献   

4.
5.
采用粉末压片法制样,利用理学ZSX PrimusⅡX射线荧光光谱仪,用国家标准物质土壤(GSS系列)、沉积物(GSD系列)、环境保护部标准样品研究所研制的土壤标准样品GSB Z 50011-88(黑钙土)、GSB Z 50012-88(棕壤)、GSB Z 50013-88(红壤)、GSB Z 50014-88(褐土)、湖南污染土壤标准(GBW0732729)做标准样品,建立XRF方法测定农业地质土壤污染物样品中的Cu、Pb、Cr、Ni、Zn、Co、As、Mn、V这9种重金属元素的方法,采用经验系数法校正谱线重叠干扰和基体校正。用3个土壤考核样和环境保护部标准样品研究所研制的GSB07-3272-2015作为样品评估该方法的准确度和精密度,结果符合《全国土壤污染状况详查土壤样品分析测试方法技术规定》中上述元素的规定检测方法质量要求。  相似文献   

6.
X射线荧光光谱法测定锰结核中锰的价态   总被引:4,自引:2,他引:4  
袁汉章  宫清 《分析化学》1989,17(8):710-712
  相似文献   

7.
X射线荧光光谱法同时快速测定锑矿石中伴生及有害元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用粉末压片制样,波长色散型X射线荧光光谱法测定锑矿石中9个次量伴生及有害元素Cu、Pb、Zn、As、Co、Ni、W、Ba、S.选用国家标准物质和人工合成标准参考物质建立校准工作曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应和元素重叠干扰.方法的检出限低、精密度(RSD,n=12)小于5%,测定结果与参考值或化学值一致性良好.与化学法相比,操作简单、快速、准确度高,精密度好,有效解决化学法在锑矿石伴生、有害等微量组分分析中过程烦琐、干扰严重等问题.  相似文献   

8.
采用粉末压片法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙、二氧化硅的分析方法。由于没有国家标准样品,采用自制生石灰粉标准样品绘制工作曲线。考察了样品粒度及吸潮对分析结果的影响。实验表明,在样品粒度为74μm、压样机压力为12 MPa、压制时间为45s的制样条件下荧光计数率最稳定,在30min内测定样品效果最佳。采用α理论系数法和经验系数法相结合校正基体影响。对同一生石灰粉样品进行精密度实验,各组分的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.04%~0.43%。测定了5个生石灰粉样品,所得结果与常规化学分析方法测定值相符。  相似文献   

9.
X射线荧光光谱法测定垃圾焚烧炉渣中主要成分   总被引:1,自引:0,他引:1  
使用X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,以研磨的方式克服粉末样品的粒度效应,理论α系数法校正基体效应,建立了垃圾焚烧炉渣样品中SiO2、Fe2O3、MgO、Al2O3、CaO、K2O、TiO2、P2O5八组分的分析方法.用标准化法进行强度漂移校正,用内控标样制做校准曲线,测定结果的精密度和准确度可以满足日常分析要求.  相似文献   

10.
采用粉末压片制样,利用岛津1800型X 射线荧光光谱分析仪,对石灰石、白云石等灰岩类标准物质拟合校准曲线,建立了 X 射线荧光光谱法(XRF)同时测定石灰石、白云石样品中主次量组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P)的快速分析方法。通过试验确定了样品粒度要达到74μm以下,30t压力下制片。通过灼烧减量对SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO 含量进行校正,根据其含量与强度的对应关系绘制校准曲线,采用经验系数法可减小元素间的增强-吸收效应。对灰岩类试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差 RSD<2%;对石灰石和白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与标准推荐值或传统方法的测定值一致。  相似文献   

11.
使用3080E3型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,研磨克服粉末样品的粒度效应,理论d系数法校正基体效应的方法,建立了平炉渣样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、CaO、MnO、TiO2、P2O5组分的快速测定方法。研究了制样条件,用内控标样作标准曲线,分析结果的相对标准偏差为0.23%~3.17%,满足日常分析的要求。  相似文献   

12.
X射线荧光光谱法测定红土镍矿中多种元素   总被引:2,自引:0,他引:2  
分别研究了采用压片、熔片两种制样方法,用X射线荧光光谱法(XRF)测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正,经散射线作内标和经验系数法校正后,可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素,方法简便、快速;而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择,经基体效应校正,各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美,其相对标准偏差(RSD)在0.50%~3.00%间。  相似文献   

13.
论述了利用自行研制的有3个反射体的全反射分析装置,用钼靶X光管激光发,以Se为内标,同时测定了地气样品中Mn,Ni,Cu,Zn,Pb,Rb和Sr等元素。对纳克级元素含量,方法的精密度为7.2%,绝对检出限为10^10-10^-11g。其分析结果的准确度与无火焰原子吸收相符。  相似文献   

14.
X射线荧光光谱法快速测定锰矿石中的主次组分   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用粉末压片法制样,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪实现了对锰矿样品中锰元素及杂质组分钠、镁、铝、硅、磷、钾、钙、铁的快速测试。虽然方法在分析准确度上不及化学法或熔融制样—X射线荧光光谱法,但方法的精密度好,测试范围广,分析结果与标准值和比对值基本吻合。方法简便、快速,可满足实验室对锰矿石批量检测的要求。  相似文献   

15.
X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用X射线荧光光谱法测定石膏中钠、镁、铝、硅、硫、钾、钙、钛、锰、铁、锶等11种元素的含量。样品研磨30s后压片,样片用于X射线荧光光谱分析。以GBW 03109、GBW 03110、GBW 03111、GBW 03109a、GBW 03111a、GSB 08-1352-2001、GSB 08-1352-2006、GSB 08-1352-2009等8种标准物质为基础制作校准曲线,优化了各元素的基体校正数学模型。各元素的检出限在0.001 4%~0.27%之间。对同一石膏样品平行测定10次,其相对标准偏差(n=10)在0.51%~4.0%之间。方法用于3个石膏样品的分析,所得结果与国家标准方法测定结果相符。  相似文献   

16.
建立波长色散X射线荧光光谱快速检测纺织面料中铬、镍、铜的方法。利用树脂将标准贴衬织物复合到玻璃熔片上,在制备好的织物样片上滴加铬、镍、铜标准溶液,采用波长色散X射线荧光光谱仪检测。根据元素滴加量的变化建立校准曲线,铬、镍、铜3种元素的含量分别在0~853,0~853,0~1 706μg/g范围内与荧光强度呈良好的线性关系,相关系数r2大于0.99。方法回收率为95.0%~98.8%,测定结果的相对标准偏差为3.2%~4.8%(n=6)。利用该方法检测纺织面料中重金属元素含量,方法简便,结果准确,检测成本低。  相似文献   

17.
薄样X射线荧光光谱法测定润滑油中锌磷硫含量   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

18.
采用X射线荧光光谱法测定白云石中钠、镁、铝、硅、磷、硫、钾、钙、锰、铁、钛、锌等12种元素的含量。样品以四硼酸锂和偏硼酸锂为熔剂和溴化锂为脱模剂于1 050℃熔融,样片用于X射线荧光光谱分析。以GBW 07114、GBW 07216A、GBW 07217A、YSBC 11703-1995、YSBC28722-1993、YSBC 28723-1993等标准物质为基础制作工作曲线。优化了各元素的基体校正数学模型。对白云石样品重复测定11次,测得其相对标准偏差(n=11)在0.2%~7.3%之间。方法用于白云石标准样品的分析,所得结果与认定值相符。  相似文献   

19.
20.
利用X射线荧光光谱仪结合稀释剂粉末压片法来测定锑矿石中锑及主量组分。通过稀释剂的加入,减弱了样品的基体效应。人工配制了一系列具有浓度梯度的样品来解决标准样品个数偏少的问题。方法简便、实用,具有较高的精密度和准确度,测定结果满足实际工作需要。方法的相对标准偏差(RSD)为0.19%~2.0%,与常规分析结果基本一致。  相似文献   

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