PDA－ICP－AES中光谱干扰校正的卡尔曼滤波法研究

本实验采用光电二极管阵列（ＰＤＡ）检测器消除波长定位误差、并藉平滑处理原始光谱图以减轻随机噪声影响，研究了卡尔曼滤波法在ＰＤＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中光谱干扰校正方面的应用，探讨了影响滤波结果准确性的若干因素。藉此法分析了一些合成试样，回收率一般为９０％～１１０％。     

ICP—AES法描绘钴对硅的光谱干扰轮廓图

钴基合金在锅炉制造业中应用广泛,尤其在制造阀门的堆焊材料中最为常见.用ICP-AES法测定钴基合金中的硅时发现,在硅251.611nm处,钴对硅的光谱干扰小,而在硅252.851nm处,钴对硅的测定有很强的光谱干扰,本文描绘了干扰线轮廓图.1 试剂与仪器试验所用试剂均为分析纯,王水按HCl:HNO_3=3:1比例配成.水为蒸馏水.JY38S ICP发射光谱仪     

自适应平方根卡尔曼滤波法校正ICP－AES光谱干扰的研究

自适应平方根卡尔曼滤波法校正ＩＣＰ－ＡＥＳ光谱干扰的研究李划新，朱明华，邵济才（华东理工大学分析测试中心上海２００２３７）关键词自适应平方根卡尔曼滤波，ＩＣＰ－ＡＥＳ，光谱干扰光谱干扰是ＩＣＰ－ＡＥＳ分析中不可忽视的问题，特别对光谱复杂物测定时更为严...     

PDA—ICP—AES中光谱干扰校正的卡尔曼滤波法研究

本实验采用光电二极管阵列（ＰＤＡ）检测器消除波长定位误差，并藉平滑处理原始光谱图以减轻随机噪声影响，研究了卡尔曼滤波法在ＰＤＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中光谱中干扰校正方面的应用，探讨了影响滤波结果准确性的若干因素，藉化法分析了一些合成试样，回收主经一般为９０％～１１０％。     

ICP—AES中稀土元素Q数据的编辑与Q光谱的模拟

研究了一种将实验数据与计算机模拟相结合的方法，编辑Ｑ数据和模拟Ｑ光谱，从而预测和校正用ＩＣＰ－ＡＥＳ分析稀土元素时的光谱干扰，首先通过实验获得每一稀土元素的原始光谱数据，然后用光谱平均结合Ｋａｌｍａｎ平滑剔除噪声，并校正波长漂移，最后将处理的光谱数据转为Ｑ数据，用于光谱模拟和光谱干扰校正，讨论了光谱模拟和干扰校正中的一些基本问题，结果表明；当光谱干扰不很强时，Ｑ数据用于光谱干扰校正已足够准确，光谱     

ICP－AES中稀土元素Q数据的编辑与Q光谱的模拟

研究了一种将实验数据与计算机模拟相结合的方法，编辑Ｑ数据和模拟Ｑ光谱，从而预测和校正用ＩＣＰ－ＡＥＳ分析稀土元素时的光谱干扰。首先通过实验获得每一稀土元素的原始光谱数据，然后用光谱平均结合Ｋａｌｍａｎ平滑剔除噪声，并校正波长漂移，最后将处理的光谱数据转为Ｑ数据，用于光谱模拟和光谱干扰校正。讨论了光谱模拟和干扰校正中的一些基本问题，结果表明：当光谱干扰不很强时，Ｑ数据用于光谱干扰校正已足够准确；光谱模拟方法在常规分析中是可行的，是稀土分析中处理光谱干扰问题的一个方便、快速的方法。     

ICP-AES中光谱干扰的计算机模拟——Ⅳ.不同分辨率条件下谱线互相干扰的模拟

本实验从仪器变宽角度出发,通过计算机模拟方法观察了不同分辨率条件下谱线之间的干扰情况。这种模拟既有助于样品分析前对仪器分光条件进行合理选择,又可为单色器的性能比较提供有益的参考依据。     

ICP—AES分析中用Kalman滤波法校正光谱干扰时波长定位误差对结果的…

本工作以Ｋａｌｍａｎ滤波技术为光谱干扰校正方法，选择典型的光谱干扰为例，系统研究了波长定位误差影响滤波结果准确性的规律性，提出了改善波长定位精度的途径。对于谱线重叠干扰的校正，波长定位精度一般应优于０．１ｐｍ；利用新息序列零均白噪音特性建立指示函数优化扫描光谱峰位，大大提高了波长定位精度，保证了滤波结果的准确性。     

ICP—AES法快速测定植酸中钙

植酸,学名环已醇六磷酸酯,分子式C_6H_(18)O_(24)P_6,其经济价值高,用途广,常以40％～70％水溶液作为商品出售。植酸中钙含量的多少,往往作为其商品是否合格的指标之一。     

仲钨酸铵中17种杂质元素的ICP—AES法测定

钨有丰富的光谱线,在仲钨酸铵中各种杂质含量通常为0.0x～10μg·g~(-1)范围。由于钨对许多元素都存在不同程度的光谱干扰,包括背景干扰和谱线重迭,或非光谱干扰,其干扰综合量大于杂质本身含量,所以不分离钨很难准确测定其含量。文献[1]曾用离子交换分离富集钨酸钠中钙、镁,然后用ICP-AES法测定。测定高含量钨基体样品中多种杂质尚未见报道。本文研究用氨水-过氧化氢分解仲钨酸铵,以钨酸形式沉淀钨与其它元素分离,然后用ICP-AES法测定其中17种杂质,方法分离效果好、快速、准确,加标回收率为95％～108％。 1 试验部分 1.1 仪器与试剂 JY70P Ⅱ(法国):高压4.1kV,阳流400mA;栅流170mA;冷却气13L·min~(-1),雾化气0.3L·min~(-1),保护气0.1L·min~(-1)(测K、Na、Li用0.6L·min~(-1)),溶液提升量1.4ml·min~(-1);观察高度14mm;积分时间20s。