一种新型高速电影经纬仪

112高速电影经纬仪是一种新型的高速光电跟踪测量设备,可用于快速飞行目标的轨迹测量和姿态记录,单台完成定位,并有实时输出的功能。该设备与传统的电影经纬仪相比,具有明显的特点,它采用双反射镜跟踪的结构方式,减少了运动部分的惯量,并提高同步数据采集处理速率到200次/秒和高速同步摄影频率到200f/s,有利于高速跟踪测量。该设备采用电视跟踪、计算机程序控制、单杆操纵等多种跟踪方式,可根据不同的目标特性方便地选用或组合使用,可靠地完成对目标的自动捕获和跟踪测量,最大跟踪速度为90°/秒,最大跟踪加速度为90°/秒²。本文还介绍了该设备在靶场使用情况。     

计算机在高速电影经纬仪中的应用

本文介绍了高速电影经纬仪计算机程序引导的软件部分的设计思想,并给出了较详细的实施框图。最后提出了在微型机上实现的方法。     

一种新型的高速电影经纬仪

112高速电影经纬仪是一种新型的高速光电跟踪测量系统,可用于快速运动目标的轨迹测量和姿态记录,单台完成定位,并有实时输出的功能。 该设备与传统的电影经纬仪相比,具有明显的特点,它采用双反射镜跟踪的结构方式,减少了运动部分的惯量,并提高同步数据采集处理和记录速率到200次/秒,有利于高速跟踪测量。     

高速电影经纬仪误差的实时修正

提高电影经纬仪的测量精度,通常从结构设计、机械加工和装调着手,但这种常规的方法受到一系列条件因素的限制,并导致仪器成本的明显提高。 因此,本文提出了一种仪器误差实时修正方法。即先建立带有未知参数的仪器误差模型,利用高速电影经纬仪实测值与标准值(或更高精度仪器测量值)相比较,得到仪器在测量时刻具有的系统误差。根据这些采集到的数据在微型计算机上进行离线的参数辨     

高速电影经纬仪中消像旋转部件光学装校

由二块反射镜跟踪活动目标的经纬仪,它所获目标的像必然带来象的旋转,为了消除这一像的旋转;该仪器中使用了△棱镜消像旋转部件,示意图见图一。     

112高速电影经纬仪靶场测量数据处理方法

本文针对112高速电影经纬仪系统的结构特点,测量信息的误差源,同步摄影机胶片记录形式,依据交会定位的测量体制,建立了适合靶场数据处理要求的数学模型。並据此完成了数据处理方法的程序设计,从而使该系统在靶场试验中开始发挥其应有的作用。     

微光高速电影摄影

低照度、低对比下的高速摄影不断增长的需要促进了新型摄影系统的发展,其中在镜头与高速运动胶片之间加入象增强器所构成的微光高速摄影可使摄影的灵敏度有显著的提高。它具有高光增益、高成家质量的优点。同时由于高速电子快门取代了机械快门,使此类摄影系统面目一新。由于高的光增益,使此摄影系统的信息记录能力大大增加,高速摄影的信息量I为: I=PFn²[log₂(1+SN)]g^2/3其中g=t_p/t_e((时间间隔)(曝光时间))当采用微光高速电影摄影时,它的信息量Γ为: Γ=PFn′²[log₂(1+S/N)](Gg)^2/3 I′/I=(n′/n)²G^2/3G通常为5×10到10⁴倍本章讨论了微光高速摄影系统中主要器件和主要技术。介绍了国外此摄影系统的发展水平与动向以及我国的应用前景。     

测定高速电影经纬仪测角精度时的几个问题

在室内测定电影经纬仪的测角精度,是在检测架下进行的。在检测架上布置一系列被称作基准管和目标管的平行光管,它们的空间座标先用待测仪器精度等级高的光学经纬仪进行仔细标定,这样,目标管相对于基准管的空间角即可为标准角了。当以电影经纬仪测得该角的角值与标准角的差值,即为测角误差。多次测最结果的均方差就是表征电影经纬仪质最的重要指标——测角精度。     

双反射镜跟踪高速电影经纬仪的测量原理和数据处理

双反射镜跟踪高速电影经纬仪主要用于测量高速飞行目标的轨迹和姿态,它能同时测量目标的方位和俯仰角度座标和仪器至目标的斜距。经纬仪的光学系统如图一所示。     

基于函数映射的快速傅里叶变换算法

给出了一种新的快速傅里叶变换算法.算法利用了傅里叶变换因子C_N^kn、S_N^kn的对称特性,将函数序列x(n)个数压缩至四分之一.对其压缩后的函数序列,按其相邻函数值之差映射为函数p(n),同时对傅里叶变换因子C_N^kn、S_N^kn按累进求和映射为A_N^kn、B_N^kn.不同于FFT算法要求N为2的整数次幂,该算法中N可为任何偶数.对诸如方波、三角波、锯齿波及可分解为阶梯波的光学图象、特别是二值光学图象,能极大地减少计算量,某些情形低于FFT算法的计算量.     

π-核双电荷交换反应短程贡献的夸克模型计算

本文给出了从夸克层次计算π^－核双电荷交换反应短程贡献的理论模型.由此模型具体计算了¹⁸O(π⁺,π^－)¹⁸Ne(g.s.)在低能区的角分布曲线,并与实验数据进行了比较.结果表明,此模型能够较好地解释双电荷交换反应在低能区的"反常"增大行为.     

164Lu的三轴超形变核态的研究

利用TRS方法对双奇核¹⁶⁴Lu的位能面进行了计算,确认了¹⁶⁴Lu核的一条三轴超形变带,结果与实验较好地符合,同时指出了三轴超形变带的一个具体的组态     

中能重离子反应破碎过程的统计描述

本文把原适用于高能重离子反应破碎过程的统计模型,推广应用于中能重离子反应的低能端.具体计算了¹²C(35MeV/n)+⁶³Cu反应中形成的复合系统⁶⁹Ge的破碎过程,很好地解释了碎块质量分布的实验数据;碎块同量异位素分布,也得到了较好的再现.     

基于LabVIEW的252Cf中子源频谱分析

 从²⁵²Cf中子源频谱测量系统的基本原理出发,针对中子脉冲序列本身“0,1”数据结构的特点,设计了自、互相关快速算法。采用LabVIEW多核处理器、多线程编程技术构建了基于LabVIEW的²⁵²Cf中子源频谱分析系统,不仅获得了自、互相关的快速计算结果,而且获得了自、互功率谱及谱密度比。研究结果表明：基于LabVIEW分析工具,既提升了自、互相关算法代码25%~35%的执行效率,又验证了LabVIEW用于进行频谱系统分析的可行性。     

两种不同算法重现高功率激光束的相位

 介绍了两种不同的波前重构算法及基本原理,并给出了实用的重构算法公式。通过用哈特曼小孔阵列板代替传统的哈特曼一沙克传感器的方法,对“星光II” 10¹²W高功率激光器的波前相位进行了测量和重构,并对两种算法重构的相位进行了比较,得到了一致而令人满意的结果。     

磷通过热生长二氧化硅层在硅中的扩散

用四探针测量薄层电导方法及阳极氧化去层技术,测定了磷在硅中扩散的具体分布,在恒表面浓度下,它们偏离余误差函数分布。如认为这是由于扩散系数是杂质浓度的函数,实验得到了当杂质浓度大于10¹⁹原子/厘米³时,扩散系数随杂质浓度增加而增大的强烈依赖关系。用同样方法测定了磷通过二氧化硅层后在硅中扩散的具体分布,研究了这些杂质分布的特性,实验表明,不同厚度的氧化层在1300℃高温下仍具有掩蔽效应,在完全掩蔽失效时间附近,杂质分布的共同特点是表面浓度较低(～10¹⁷原子/厘米³)、结较浅(～1微米)。对不同厚度的氧化层,经过足够的时间后,硅中表面浓度不受氧化层厚度的影响,而只由扩散源的蒸气压决定。磷通过氧化层后扩散的具体分布情况还与扩散源的性质、条件等密切相关。扩散过程中观察到的氧化层厚度增长有可能影响表面附近杂质的具体分布情况。     

Fe对掺钕磷酸盐激光玻璃激光性能的影响

 在理论分析的基础上，具体讨论了Fe质量分数小于10^-4对1 053 nm处光吸收损耗和Nd³⁺无辐射跃迁几率的影响规律，发现Fe在1 053 nm处的光吸收损耗和Nd³⁺无辐射跃迁能量转移都与Fe质量分数成平方关系增长， Fe对1 053 nm光吸收的影响较大而Fe与Nd³⁺之间的能量转移不足50 Hz。这对生产过程中Fe含量的控制有重要指导意义。     

统计物理中的一个新表象——Ⅰ.Γ2表象的数学结构

本文引入扩大的希柏特空间Г²≡Г×Г,证明在其中对混合统计系综的平均值蜕化为对某一量子态的乎均,并给出了新表象中诸矩阵的具体形式。统计微扰论中的Wick-Bloch定理是Г²空间矩阵本身性质的必然推论。     

变形核的电荷密度分布

本文应用原子核的宏观模型提出了一种比较简单的计算变形核电荷密度的方法.具体计算了¹⁹²Os、¹⁵⁴Gd、¹⁵²Sm、¹⁷⁴Yb、及^{144,148,150,152}Sm等原子核的电荷密度分布.结果表明,宏观模型计算的结果能较好地与实验测量结果相符合.因此,只要根据变形核基态到各转动态跃迁几率或电多极矩的实验值,则可按本文方法,从理论上预言变形核的电荷密度分布.     

超核激发态的对称性分类

我们把维格纳处理超级多重态的方法,推广用来研究超核激发态的能谱。给出了近似不破坏SU₆=SU₃?SU₂分类的两体相互作用普遍形式,并利用现有的散射实验数据定出了其中的系数。导出了在SU₆分类下,计算能量矩阵元的公式。并以⁹_ΛBe^*,¹⁰_ΛBe^*和¹⁰_ΛΛBe^*为例,进行了具体计算。理论上计算的⁹_ΛBe^*的能量与实验定性符合。