共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
3.
4.
以轻重离子4He散射作为手段,对16O原子核的集团结构进行了检验.并与传统的核子结构模型做了对比.本文结果对16O集团结构提供一个支持. 相似文献
5.
利用质子散射作为手段对16O的α粒子结构模型进行了检验.基于4α结构模型,对跨度整个中能区的质子与16O核的弹性角分布进行了无自由参数的计算.理论与实验基本符合. 相似文献
6.
7.
8.
采用傅里叶变换红外光谱仪记录了富含15N216O同位素的一氧化二氮样品在1650-3450 cm-1波段的高分辨振转光谱,得到了该同位素分子超过7300吸收谱线位置的实验值,经分析实验精确度好于5.0×10-4 cm-1. 基于有效哈密顿量模型预测和带带转动分析,确定了所有吸收线的归属;获得了29个新吸收带的振转光谱参数,并优化了其他44个吸收带的光谱参数值. 并且发现有效哈 相似文献
9.
利用多重散射团簇方法(MSC)对吸附系统SO2/Ag(110)的S原子K边X射线吸收精细结构谱(NEXAFS)作了理论分析.研究表明,覆盖度为0.5时,吸附的SO2的S—O键长比气体状态时增长了(0.014±0.006)nm,OSO键角减小了15°±5°;SO2分子的S原子处于芯位,但两个O原子处于不对称的位置;分子平面与(110)的夹角约为52°,同时分子平面相对衬底表面法线有一小角度的倾斜.MSC计算证实了该吸附系统存在一介于π关键词:
X射线吸收精细结构
2/Ag(110)')" href="#">吸附系统SO2/Ag(110)
多重散射团簇方法 相似文献
10.
11.
采用原子分子静力学的基本原理分析了BrF基态X1∑+的离解极限,采用Herzberg同位素理论分析了BrF基态X1∑+光谱数据的同位素效应,并以此为基础,分析了光谱数据的同住素效应对振动能级和分子势能函数(Murrell-Sorbie势即MS势)的影响.结果表明,79BrF和81BrF基态X1∑+的光谱数据的同住素效应是一种弱效应,与Herzberg同住素理论符合得很好,低振动能态的能级对理论预计的偏离很小,高阶力常数f4和高阶展开系数a3与实验结果有较大偏差,但由于a3本身比a1和a2小很多,结果对势能函数整体影响不大. 相似文献
12.
用多重散射团族方法对SO2/Ni(111)吸附系统的S原子ls近边X射线吸收精细结构进行了详细的计算和分析,求得吸附系统的局域结构。研究结果证实了SO2分子在Ni(111)表面是平铺吸附的,其最佳吸附位为fcc三度芯位。吸附分子的S—O键长比气体状态时增长了(0.007±0.002)nm,分子键角∠OSO减小了10°,SO2距衬底的吸附高度为(0.20±0.02)nm。理论计算与两组实验结果进行了直接比较。
关键词:
局域吸附结构
X射线吸收精细结构
2/Ni(111)')" href="#">吸附系统SO2/Ni(111)
多重散射团簇方法 相似文献
13.
利用多重散射团簇方法 (MSC)对吸附系统SO2 /Ag(110 )的S原子K边X射线吸收精细结构谱 (NEXAFS)作了理论分析 .研究表明 ,覆盖度为 0 5时 ,吸附的SO2 的S—O键长比气体状态时增长了 (0 0 14± 0 0 0 6 )nm ,OSO键角减小了 15°± 5°;SO2 分子的S原子处于芯位 ,但两个O原子处于不对称的位置 ;分子平面与 (110 )的夹角约为5 2° ,同时分子平面相对衬底表面法线有一小角度的倾斜 .MSC计算证实了该吸附系统存在一介于π 与σ 态中间的共振结构 ,这是由SO2 与衬底相互作用而诱导的 相似文献
14.
15.
利用X射线近边吸收谱对Fe2P,Ni2P及其掺杂物(Fe1-xNix)2P(x=01,025,05)中Fe,Ni,P的K边进行了研究.结合多重散射理论近边计算,讨论了金属原子不同位置格点3f,3g对近边谱特征的贡献,得出当Ni原子取代Fe原子时将优先占据Fe(3f)格点位置;根据第一性原理对能态的计算发现,不考虑磁性时不同格点P的pDOS未占据态电子结构与P-K近边吸收谱实验相符合;与考虑铁磁性Fe2P 的DOS相比较后结果显示Fe2P的磁性主要来源于Fe(3g)格点,铁磁性Ni2P计算的Ni不同格点原子磁矩均接近于0,与它一般显顺磁性结论相一致.
关键词:
X射线近边吸收谱
电子结构
多重散射理论
态密度 相似文献
16.
通过考虑体散射、界面电荷的库仑散射以及 Al2O3/InxGa1-xAs 界面粗糙散射等主要散射机理, 建立了以 Al2O3为栅介质InxGa1-xAs n 沟金属-氧化物-半导体场效应晶体管 (nMOSFETs) 反型沟道电子迁移率模型, 模拟结果与实验数据有好的符合. 利用该模型分析表明, 在低至中等有效电场下, 电子迁移率主要受界面电荷库仑散射的影响; 而在强场下, 电子迁移率则取决于界面粗糙度散射. 降低界面态密度, 减小 Al2O3/InxGa1-xAs 界面粗糙度, 适当提高In含量并控制沟道掺杂在合适值是提高 InGaAs nMOSFETs 反型沟道电子迁移率的主要途径.
关键词:
InGaAs
MOSFET
反型沟道电子迁移率
散射机理 相似文献
17.
我们报道了用高分辨布里渊散射,确定0.67Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.33PbTiO3单晶中的弹性、压电和介电常数.所有的实验数据都是在一块沿[001]方向的极化的单晶样品上获得的。我们实验中得到的这些常数的数值和以往超声共振技术获得的数值相似。我们还研究了压缩模和剪切模在(010)和(001)平面内的方向依赖性。TA1和TA2模式的强度对散射角度有很强列依赖性。在散射角度为45°~65°内, 一个新的峰出现在~18 GHz附近。它可能与晶体中的微观不均匀性或者局域微结构相关。 相似文献
18.
对ZBLAN氟锆酸盐玻璃中Pr3+掺杂离子3P0和1D2能级的寿命和发光特性进行了较详细的光谱学研究。首先测量了两种掺杂浓度(质量分数分别为1×10-3,5×10-3)的Pr3+:ZBLAN玻璃的吸收光谱,然后运用时间分辨激光光谱技术测量了3P0和1D2能级在激光单光子共振激发下的荧光发射谱和能级寿命。将不同荧光发射谱带的强度和文献报道的Judd Ofelt理论计算辐射跃迁几率数值做了比较分析,证明了文献中理论计算结果的可靠性。由于浓度猝灭效应,在相同的激发条件下,掺杂浓度为1×10-3样品的荧光发射强度明显大于5×10-3样品的荧光发射强度。但是从我们的测量结果看,掺杂浓度对3P0和1D2 的能级寿命值无显著影响。掺杂浓度为1×10-3时,Pr3+离子3P0和1D2能级的寿命值分别为46,322μs。 相似文献
19.
采用溶液燃烧法在600℃成功合成了(BaxMg)2/(x 1)Al10O17∶Eu2 (0.6≤x≤1.2)蓝色荧光粉,着重研究了基质阳离子Ba/Mg比值的变化对其晶体结构及发光特性的影响。结果表明,合成的产物为纯相,且随Ba/Mg比值的增加,样品的晶格参量逐渐增加;当Ba/Mg比增加时,发射光谱的强度明显增强,至Ba/Mg为0.9时达到最大值,然后随Ba/Mg比继续增大,发射光谱的强度反而下降;Ba/Mg比值减少,导致基质的晶场增强和电子云膨胀效应的发生,致使Eu2 发射主峰向长波方向移动。Eu2 的掺杂浓度对样品的发光性能有显著的影响,随Eu2 浓度增大,发光中心增多,Eu2 离子间相互作用增强,能量传递加快,发光强度逐渐增大,并达到一个最大值。此后,随Eu2 的浓度进一步增加,Eu2 之间的能量传递速率将超过发射速率,呈现浓度猝灭特性。 相似文献
20.
利用液芯光纤技术研究了不同浓度的β-Carotene的CS2溶液的吸收与荧光的特性对CS2的一、二阶Stokes谱线阈值的影响.实验发现随溶液浓度(10-8—10-6 mol/L)增加,CS2的一阶Stokes谱线的激发阈值相对变高;并且与纯CS2芯液的受激拉曼散射相比较,在低抽运能量激发下,就观察到CS2的二阶Stokes谱线.这主要是由于在CS2的受激拉曼谱线产生的过程中,β-Carotene的CS2溶液的吸收和荧光共同影响了CS2的一、二阶Stokes谱线的阈值.我们进行了理论上的拟合与分析,其结果与实验符合很好.
关键词:
2受激拉曼散射阈值')" href="#">CS2受激拉曼散射阈值
液芯光纤
吸收与荧光 相似文献